Способ измерения удельного заряда частиц

 

Способ измерения удельного заряда частиц, например ионов, во взаимно перпендикулярных переменном поперечном электрическом поле и постоянном продольном магнитном поле, направленном перпендикулярно поверхности коллектора частиц, включающий операции создания на поверхности коллектора исходной линейной развертки с помощью электрического поля в отсутствие магнитного поля, включения магнитного поля и определения значения удельного заряда, отличающийся тем, что, с целью уменьшения времени регистрации при обзоре всего спектра, а также потребляемой мощности за счет уменьшения индукции магнитного поля, регистрируют положение исходной линейной развертки, регулируют индукцию магнитного поля до значения , где B - индукция магнитного поля; U - напряжение, ускоряющее частицы вдоль магнитного поля; L - расстояние от центра отклоняющей системы, создающей электрическое поле, до коллектора частиц; - максимальное значение удельного заряда в спектре, измеряют углы отклонения линий спектра относительно зарегистрированного положения исходной линейной развертки, а определение значения удельного заряда спектра производят из соотношения , где - удельный заряд, соответствующий n-ой линии развертки; n - угол ее отклонения от исходной.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к ядерной технике

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для анализа состава материалов и веществ

Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в частности к способам измерения ионных токов мультиплетов масс в магнитных масс-спектрометрах

Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в том числе к спектрометрии кинетических энергий ионов

Изобретение относится к области масс-спектрометрии

Изобретение относится к области приборостроения и может быть использовано для элементного анализа твердых тел
Наверх