Способ нахождения ядерных расщеплений и электронное устройство для осуществления этого способа

 

,% 123633

Класс 2lg, 18, СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Г. М. Захаров

СПОСОБ НАХОЖДЕНИЯ ЯДЕРНЫХ РАСЩЕПЛЕНИЙ

И ЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ ЭТОГО

СПОСОБА

Заявлено 13 марта 19я9 г. за Ло 622237226 в и,омитет ио делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Оиубтиковаио и «Б оапетсис изобретснийъ М 21 за 1959 г.

Известны способы нахождения ионпзпру1ощих излучений H эмульсии экспонированного и обработанного фотонегатива путем установки его в поле зрения микроскопа и устройства для осуществления способов.

Описываемый способ отличается от известных тем, что оптическое изображение негатива проецируют на светочувствительную моз; ику иконоскопа электронного устройства. Затем выделяют периодические сигналы, возникаю1цие в устройстве, и по их характеру определяют координаты центров ядерных расщеплений. Для этого иконоскоп снабжен дополнительной спиральной разверткой и соединен с механизмом для фиксирования координат ядерного центра на перфокарте.

На чертеже изображена скелетная схема устройства для осуществления описываемого способа.

Исследуемый фотонегатив 1 эмульсии через проекционную оптику 2 проецируется на мозаику иконо.-копа 3. Иконоскоп снабжен, кроме развертки по кадрам и строкам, осу1цествляемой от генераторов магнитной развертки 4 и 5, дополнительной спиральной разверткой.

Последняя получается путем приложения на взаимно-перпендикулярные пары электростатических отклоняю1цих пластин синусоидальных затухаю1цих колебаний одинаковой частоты, ío имеющих сдвиг фазь:, на

90 . Синусоидальные колебания вырабатываются генератором 6, сдвиг фазы осуществляется фазовым инвертором 7. В результате суперпозиции электростатической и магнитных разверток электронный луч пробегает по сигнальной пластине иконоскопа по сложной траектории.

С иконоскопа будут поступать сигналы в зависимости от освещенности мозаики. Сигналы имеют случайное распределение до тех пор, пока центр спиральной развертки не совместптся с центром ядерного расщепления. В последнем случае сигналы принимают характер периодической серии импульсов определенной последовательности. Сигналы усиливаются усилителем фототока 8 и поступают на входы импульсных генераторов 9, 10, 11, 12, а также на вход селектора сигналов И. Селектор сигналов соединен с импульсными генераторами. Система, состоящая из селектора и импульсных генераторов, позволяет по характеру периодических сигналов с иконоскопа определить координаты ядерных

¹ 123633 расщеплений. Селектор сигналов соединен с механизмом для фиксирования координат ядерного центра 14 на перфокарте. Перфокарта имеет размеры, одинаковые с негативом 1.

Предмет изобретения

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Редактор Н. С. Кутафина Гр. 97

Поди к печ. !З.Х1-59 г.

Тираж 11!О Цена 25 коп.

1 г иформаиионно-издательский отдел, Объем 0,17 и. л. Зак. 8898

Типография Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Моск в а, П етровка, 14.

1. Способ нахождения ядерных расщеплений в эмульсии экспонированного и обработанного фотонегатива под микроскопом, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью ускорения обнаружения следов частиц и центров ядерных расщеплений, оптическое изображение негатива проецируют на светочувствительную мозаику иконоскопа электронного устройства, выделяют периодические сигналы, возникающие в устройстве, и по их характеру определяют координаты центров ядерных расщеплений.

2. Электронное устройство для осуществления способа по п. 1, содержащее иконоскоп с разверткой по строкам и кадрам и следящие импульсные генераторы, отличающееся тем, что иконоскоп снабжен дополнительной спиральной разверткой и для выделения периодических сигналов от иконоскопа и цепей управления генераторов соединен через селекторный блок с механизмом для фиксирования координат ядерного центра на перфокарте, имеющей размеры, одинаковые с негативом.

Способ нахождения ядерных расщеплений и электронное устройство для осуществления этого способа Способ нахождения ядерных расщеплений и электронное устройство для осуществления этого способа 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано при регистрации заряженных частиц на ускорителях
Изобретение относится к ядерной физике и может быть использовано в экспериментах с применением твердотельных трековых детекторов
Изобретение относится к области электрометаллургии и может быть использовано для плавки в вакуумно-дуговых печах слитков из титана и его сплавов, легированных изотопом углерод-14, в частности для проведения авторадиографических исследований

 // 171477

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407

Изобретение относится к электронной технике, в частности к кинескопам высокой яркости, и может быть использовано в проекционном телевидении

Изобретение относится к области информационной техники, а конкретно - к построению крупномасштабных экранов коллективного пользования из набора отдельных экранов меньшего размера

Изобретение относится к области тепловидения, а именно к теплоизоляционным камерам, построенным на базе видикона с пироэлектрической мишенью

Изобретение относится к устройствам квантовой электроники, в частности к полупроводниковым лазерам с накачкой электронным пучком (ПЛЭН), и может найти широкое применение в информационных устройствах передачи и отображения информации (телевидение, печать и т.д.)

Изобретение относится к лазерным электронно-лучевым приборам, используемым в проекционных телевизионных устройствах
Наверх