Способ дилатометрического исследования материалов и объемный дилатометр для осуществления способа

 

Мо 1 27062

Класс 42k, 48

СССР е

ЯаТбйт Иб-ЧХК +<, ß

5 é. ",ИЫй

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

М. Г. Лозинский и В. Я. Ференец

СПОСОБ ДИЛАТОМЕТРИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ

МАТЕРИАЛОВ И ОБЪЕМНЫЙ ДИЛАТОМЕТР

ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА

Заявлено 26 июня !969 г. за № 632100/22 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретении» М 6 за 1960 г.

Изобретение относится к способам дилатометрического исследования материалов в сочетании с металлографическими исследованиями.

Известные подобные способы предусматривают раздельное проведение дилатометрических и металлографических исследований и не позволяют вести наблюдение за структурными изменениями в процессе термического расширения исследуемого материала.

Для устранения этого недостатка предлагается дилатометрирован. ;. испытуемого образца совмещать с металлографическим исследованием шлифа, выполненного на одной из вертикальных граней образца. Длч осуществления способа предлагается использовать объемный дилатометр, снабженный металломикроскопом, а также катодной трубкой дчя ионного облучения шлифа, присоединенной к дилатометру посредство < сильфонного устройства.

На чертеже показано устройство дилатометра для осуществления предлагаемого способа.

Исследуемый образец 1 в форме стержня помещается на упорах в кварцевой трубке 2 на подвижном кварцевом стержне 8. Трубка 2 жесгко закрепляется в корпусе 4 гайкой 5. Для нагрева образца имеется трубчатый нагреватель б с разрезом. Подвод электрического тока к нагревателю производится через вводы 7 и 8. Экран 9 предназначен для уменьшения тепловых потерь. Температура образца контролируется при помощи термопары 10, а температура нагревателя — термопары 11. Измерение температуры осуществляется при помощи приборов 12 и 13. В предлагаемом устройстве предусмотрен нагрев образца в вакууме. Длп этой цели водоохлаждаемый металлический корпус 14 соединен с корп:сом 4 при помощи подвижного вакуумного сопряжения. Откачка газов из рабочей камеры производится через патрубок 15, а измерение остаМ 1о7062 точного давления — через трубку 16. Просмотр образца и его фотографирование производится через кварцевое стекло 17 при помощи объектива 18 и металлографического микроскопа 19, снабженного фотоприставкой 20. Для регистрации удлинений образца в процессе нагрева и охлаждения имеется рычажная система, содержащая стойку 21, рычаг

22 и емкостной датчик 28. Пружина 24 прижимает стержень 8 к образцу. Быстродействующее устройство 2б регистрирует изменение длины образца.

Как известно, при нагреве в вакууме образцов металла до температуры, превышающей половину температуры плавления металла образца, на полированной поверхности последнего возникает микрорельеф, позволяющий исследовать структуру металла. При более низкой температуре применяют метод «катодного вакуумного травления», используя ионную бомбардировку поверхности образца. В предлагаемой установке для ионной бомбардировки образца микроскоп отводится в сторону и при помощи рукоятки 2б кожух 14 поворачивается на 180 . При этом против прореза в трубке 2 и против полированной зоны образца располагается устройство для ионной бомбардировки.

Сильфон 27 позволяет подвигать ползун 28с герметической колбой 29.

Ползун перемещают по направляющей 80 при помощи рукоятки 81.

Анод 82 соединяется с положительным полюсом высоковольтного выпрямителя 88. Гибкий провод 84 соединяет образец с корпусом.

Предмет изобретения

1. Способ дилатометрического исследования материалов, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью выявления структурных изменений материалов в процессе их термического расширения, дилатометрирование испытуемого образца совмещают с металлографическим исследованием шлифа, выполненного на одной из вертикальных граней образца.

2. Объемный дилаточетр для осуществления способа по п. 1, о тл ич а ю щи йс я тем, что он снабжен металломикроскопом для наблюдения за изменением микроструктуры шлифа и ее фотографирования, а также катодной трубкой для ионного облучения шлифа, присоединенной к дилатометру посредством сильфонного устройства.