Способ контроля геометрических параметров объектов

 

Изобретение относится к измерительной технике и расширяет функциональные возможности способа контроля геометрических параметров объектов , вьшолиенных полыми из дизлектрического материала, позволяя измерять разностенность объекта по его длине бесконтактным (емкостным) способом . При осуществлении способа объект погружают в неэлектропроводную жидкость, на поверхность которой помещают слой токопроводящего материала, плотность которого меньше плотности жидкости, например порошок графита. При изменении глубины погружения объекта непрерывно измеряют емкость между слоями токопроводящего материала, контактирующего с внутренней и внешней поверхностями полого объекта, по величине которой в различных поперечных сечениях определяют толщину стенок и судят о максимальной разностенности объекта по его длине. 1 ил. (Л С

СООЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСОУБЛИК

А1 (3% (И) ()) 4 G 01 В 7/08

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3835793/25-28

/ (22) 07 0).85 (46) )5,07.86.Áþä. М 26 (7l) Новосибирский электротехнический институт (72) В.М.Архипов, О.В.Пантин, В.А.Петров и С.М.Петухов (53) 62).3)7.39:631.7) (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР .

У 74)034, кл. С 01 В 7/08, )977.

Авторское свидетельство СССР

В 357844, кл. G 01 М )/12, 197). (54) СПОСОБ KOHTPOJIH ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ.

ПАРАМЕТРОВ ОБЬЕКТОВ

° (57) Изобретение относится к измерительной технике .и расширяет функциональные возможности способа контроля геометрических параметров объектов, выполненных полыми из диэлектрического материала, позволяя измерять разностенность объекта по его длине бесконтактным (емкостным) способом. При осуществлении способа объект погружают в неэлектропроводную жидкость, на поверхность. которой помещают слой токопроводящего материала, плотность которого меньше плотности жидкости, например по рошок графита. При изменении глуби- . ны погружения объекта непрерывно измеряют емкость между слоями токопроводящего материала, контактирующего с внутренней и внешней поверхностями полого объекта,.по величине которой в различных поперечных сечениях определяют толщину стенок и судят о максимальной, разностенности объекта по его длине. 1 ил.

1244479

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля разностенности полых тел из диэлектрических материалов, например, толщины изоляции проводов.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей способа контроля геометрических параметров объектов путем определения изменения толщины объектов из диэлектрических материалов по их длине.

На чертеже представлена схема устройства для реализации способа контроля геометрических параметров объектов. с

Устройство содержит корпус 1, заполненный неэлектропроводной жид костью 2, например дистиллированной водой, В жидкость добавляют токопроводящий материал, плотность которого должна быть меньше плотности неэлектропроводной жидкости 2, например графит, вследствие чего этот материал образует на поверхности жидкости токопроводяший слой 3. В кон акте с этим слоем находится электрод 4, проходящий через изолятор 5 в стенке корпуса 1. Второй токосъемный электрод 6 контактирует с корпусом 1, который выполнен из электропроводного материала. К этим электродам подключен блок 7 измерения и регистрации еякости между токопроводящими слоями, контактирующими с внутренней и внешней поверхностями объекта 8, погружаемого в процессе измерений в жидкость 2.

Способ контроля осуществляют следующим образом.

При погружении объекта 8, представляющего собой, например, полое тело, выполненное из диэлектрического материала, емкость между слоями 3 токопроводящего материала,контактирующего с внутренней и внешней йоверхностями объекта 8,. зависит от толщины стенок этого объекта .в его поперечном сечении, находящемся на одйом уровне с токопроводящим слоем 3 °

Таким образом, по изменению этой емкости, непрерывно контролируемой с помощью блока 7 измерения и регистрации, в процессе погружения контролируемого объекта 8 определяют изменение толщины этого объекта в его различных поперечных сечениях, т.е. изменение толщины стенок по длине объекта.

Формула изобретения

Способ контроля геометрических параметров объектов, заключающийся в том, что объект погружают в неэлектропроводную жидкость, о т л и— чающий с я тем, что, с целью расширения функциональных возможносО тей способа путем определения изменения толщины пОлых объектов из ди" электрических материалов по их длине, на поверхности жидкости размещают слой токопроводящего материала, плотность которого меньше плотности жидкости, и при изменении глубины погружения объекта измеряют емкость между слоями токопроводящего материала, контактирующими с внутренней и внешней поверхностями объекта, по

40 величине которой определяют толщину .в различных поперечных сечениях объекта.

1244479

Составитель С.Скрыпник

Техред И.Гайдош

Редактор Л.Пчелинская

Корректор А.Зимокосоа

Закаэ 3903/42

Тираж 670 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам иэобретений и открытий!

13035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектна".„ 4

Способ контроля геометрических параметров объектов Способ контроля геометрических параметров объектов Способ контроля геометрических параметров объектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения с повышенной точностью толщин защитных покрытий преимущественно малой твердости, например типа густых смазок , благодаря исключению деформаций контролируемого покрытия и более четкой фиксации отсчетных значений

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для магнитного контроля строительных конструкций

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины металлических , преимущественно ферромагнитных , лент с повышенной точностью, что обусловлено уменьшением влияния на результаты измерений поперечных смещений контролируемой ленты в рабочем зазоре двух трансформаторных датчиков , установленных с разных сторон ленты

Изобретение относится к измеритель йрй технике и может быть использовано для контроля плоскостности металлических поверхностей, обеспечивая повьшение надежности путем предупреждения неравномерного износа электродов

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность емкостного способа измерения толщины протяженных изделий из полупроводящего материала, что обеспечивается уменьшением погрешности, измерения от изменений электропровод ности изделия или его поверхностного сопротивления

Изобретение относится к области измерительной техники и может использоваться в различ ных областях машиностроения для поверки толщиномеров покрытий

Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь: зовано для определения толщины оболочек кабелей из токопроводящего материала электропртенциальным методом

Изобретение относится к Hepaspyuiaio- щему вихретоковому контролю и может быть использовано для контроля перемещений ферромагнитных и немагнитных проводящих изделий, а также толщины диэлектрических покрытий на них

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх