Способ измерения деформаций изделий

 

Изобретение относится к области измерения деформаций твердых тел. Целью изобретения является расширение технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий произвольной формы. На поверхность исследуемого изделия до нагружения проецируют эталонную систему меток. Одновременно проецируют эталонную систему меток на эталонное изделие . Отраженные от поверхностей эталонного и исследуемого изделий системы эталонных меток фиксируют в . плоскости регистрации изображения исследуемого изделия. Совмещают обе системы путем смещения эталонного изделия до полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос. Затем изделие нагружают, регистрируют образующуюся интерференционную картину и.по ней измеряют деформации. 1 ил. (Л ISD 4 сл 00 сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (!9) (Ш

А1 (51)4 G 01 В 11/16

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3724006/25-28 (22) 12.04.84 (46) 23.07.86. Бюл. У 27 (72) А.А.Новиков и А.С.Сыпалов (53) 531.717.2:535.8(088.8) (56) Теокарис П. Муаровые полосы при .исследовании деформаций. M,: Мир, 1972, с. 222. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ

ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к области измерения деформаций твердых тел.

Целью изобретения является расширение технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий произвольной формы. На поверхность исследуемого изделия до нагружения проецируют эталонную систему меток; Одновременно проецируют эталонную систему меток на эталонное иэделие. Отраженные от поверхностей эталонного и исследуемого иэделий системы эталонных меток фиксируют в плоскости регистрации изображения исследуемого иэделия. Совмещают обе системы путем смещения эталонного изделия до полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос. Затем изделие нагружают, регистрируют образующуюся интерференционную картину и.по ней измеряют деформации. 1 ил.

1245875

Изобретение относится к области измерения деформаций твердых тел.

Цель изобретения — расширение технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий произвольной формы.

На чертеже показана схема оптической установки для осуществления способа измерения деформаций изделий.

Установка состоит из лазера 1, блока 2 зеркал, непрозрачных зеркал

3 и 4, полупрозрачных зеркал 5-7, исследуемого 8 и эталонного 9 изделий, камеры 10 для фотосъемки.

Способ осуществляют следующим образом.

На поверхность исследуемого изделия 8 до нагружения проецируют эталонную систему оптических меток ° Одновременно с проецированием эталон- 2Î ной системы меток на исследуемое изделие 8 проецируют эталонную систему оптических меток на эталонное изделие 9, поверхность которого является зеркальным отражением поверхности изделия 8, Эталонную систему оптических меток получают при направлении луча лазера 1 на блок 2 зеркал. Све— товой луч делят на два пучка полупрозрачным зеркалом 5 и направляют ЗО их на непрозрачные зеркала 4 и 3.

Отраженные от этих зеркал пучки полупрозрачным зеркалом 6 направляют на исследуемое 8 и эталонное 9 изделия. На поверхностях эти пучки интерферируют между собой, образуя эталоны системы оптических меток.

Затем отраженную от поверхности изделия 8 систему эталонных меток фиксируют в плоскости регистрации изоб — 40 ражения на экране камеры 10 для фотосъемок через полупрозрачное зеркало 7. Одновременно проецируют в плоскость регистрации изображения изделия систему эталонных меток, отраженных от поверхности эталонного изделия через полупрозрачное зеркало 7.

Совмещают отраженные от поверхностей исследуемого и эталонного из- >О делия системы оптических меток путем перемещения эталонного изделия до полного исчезновения образующихся в процессе совмещения интерференционных полос. Исследуемое изделие нагружают, регистрируют образующуюся в процессе нагружения интерференционную картину и по ней измеряют деформации.

В процессе деформации исследуемого изделия, поверхность которого может быть произвольной формы, между системами оптических меток от исследуемого 8 и эталонного 9 изделий возникает разность хода, которая вызывает смещение этих меток относительно друг друга в плоскости регистрации изображения изделия, и на равномерно освещенном поле появляется картина из интерференционных полос, по которым определяют величину деформации.

В плоскости регистрации появляются только полосы, соответствующие величине деформации. Других полос, усложняющих определение величины деформации в процессе нагружения исследуемого изделия, не возникает. формула изобретения"

Способ измерения деформаций изделий, заключающийся в том, что на поверхность.исследуемого изделия до нагружения проецируют эталонную систему меток, затем отраженную от поверхности изделия эталонную систему меток фиксируют в плоскости регистрации изображения изделия, одновременно проецируют в плоскость регистрации изображения изделия эталонную систему меток и совмещают ее с отраженной от поверхности иэделия эталонной системой меток до полного исчезновения образующихся в процессе сов- мещения интерференционных полос, нагружают изделие, регистрируют образующуюся интерференционную картину и па ней измеряют деформацию, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью расширения технологических возможностей способа путем измерения деформаций изделий произвольной формы, до нагружения одновременно с проецированием эталонной системы меток на исследуемое изделие проецируют эталонную систему меток на эталонное изделие, поверхность которого является зеркальным отражением исследуемой поверхности, а в плоскость регистрации изображения проецируют эталонные сиск емы меток, отраженные от поверхности исследуемого и эталонного изделий.

1245875

Составитель Л.Пучкова

Техред M.Õîäàíè÷

Корректор Г. Решетник

Редактор А.Козориз

Заказ 3985/31

Тираж 670 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4