Устройство для измерения динамических характеристик материалов с цилиндрическими магнитными доменами

 

Изобретение относится к области магнитных измерений. Является дополнительным изобретением к авт. св. 1091098. Может быть использовано при контроле процесса изготовления материалов с цилиндрическими магнитными доменами (ЦМД). Цель изобретения - повышение точности измерения - достигается за счет обеспечения возможности в известном устройстве определять влияние зазора между магнитоуправляющими элементами из материалов с ЦМД. Устройство содержит осветитель 1, поляризационный микроскоп 2, магнитную систему для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, генератор 4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляющие элементы 6 и материал 1 с ЦМД. Для достижения поставленной цели на материал с ЦМД дополнительно нанесены магнитоуправляющие элементы 6 в виде разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала . 2 ил. «с (Л ОС 1 6 Фиг. КЗ

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

ÄÄSUÄÄ 1247801 (51) 4 G 01 R 33/12

ЗСГ ".111-ь" <

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCKOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (61) 1091098 (21) 3837542/24-21 (22) 04.01.85 (46) 30.07.86. Бюл. № 28 (72) Е. И. Ильяшенко, В. Г. Элеменкин, А. А. Сидоров и С. Н. Матвеев (53) 621.317.44 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1091098, кл. G 01 R 33/12, 1983. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

ДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК

МАТЕРИАЛОВ С ЦИЛИНДРИЧЕСКИМИ

МАГНИТНЫМИ ДОМЕНАМИ (57) Изобретение относится к области магнитных измерений. Является дополнительным изобретением к авт. св. 1091098. Может быть использовано при контроле процесса изготовления материалов с цилиндрическими магнитными доменами (ЦМД). Цель изобретения — повышение точности измерения — достигается за счет обеспечения возможности в известном устройстве определять влияние зазора между магнитоуправляющими элементами из материалов с ЦМД.

Устройство содержит осветитель 1, поляризационный микроскоп 2, магнитную систему для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, генератор 4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляющие элементы 6 и материал 7 с ЦМД. Для достижения поставленной цели на материал с ЦМД дополнительно нанесены магнитоуправляющие элементы 6 в виде разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала. 2 ил.

124780!. 0

25 вращающегося

З0

Изобретение относится к магнитным измерениям и может быть использовано при контроле процесса изготовления материалов с цилиндрическими магнитными доменами (ЦМД-материалов) .

Целью изобретения является повышение точности измерения за счет обеспечения возможности определения влияния зазора между магнитоуправляющими элементами на динамические характеристики ЦМД-материалов.

На фиг. 1 изображена блок-схема устройства для измерения динамических характеристик ЦМД-; на фиг. 2 — участок UM3,-материалов с нанесенными на него магнитными управляющими элементами.

Устройство содержит осветитель 1, поляризационный микроскоп 2, магнитную систему 3 для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, генератор

4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляющие элементы 6 и ЦМД-материал 7.

Осветитель 1 оптически связан с поляризационным микроскопом 2, в поле зрения которого находится ЦМД-материал 7 с нанесенными или наложенными на него магнитными управляющими элементами 6 в виде наборе сплошных и разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала.

Магнитная система 3 соединена с генератором 4 токов управления и источником 5 постоянного тока.

Магнитные управляющие элементы в виде набора сплошных 8 и разрезных 9 колец из магнитомягкого материала, например пермаллоя, наносят или накладывают на

ЦМД-материал 7.

Под кольцами генерируются ЦМД 10.

Величины диаметра колец, их количество, ширина колец зависят от типа исследуемого

ЦМД-материала и требуемой точности измерений. Ширина зазора в разрезных кольцах выбирается из условий моделирования зазоров в ЦМД-устройствах и составляет обычно 1/4 — 1 диаметра ЦМД.

Устройство работает следующим образом.

С помощью магнитной системы 3 и источника 5 постоянного тока создается магнитное поле смещения величиной, достаточной для генерирования ЦМД на участках ЦМДматериала, под магнитными управляющими элементами. От генератора 4 токов управления в магнитную систему 3 подают два тока одной и той же частоты, сдвинутые по фазе на 90 . Этими токами в магнитной системе создается вращающееся магнитное поле, которое генерирует вращающиеся магнитостатические ловушки (МСЛ) под каждым кольцом магнитных управляющих элементов

6 в ЦМД-материале 7. В сплошных кольцax 8 ЦМД 10 движется равномерно со скоростью, равной скорости МСЛ. В разрезных кольцах 9 движение ЦМД неравномерное за счет изменения скорости в зазоре этих колец. Скорости МСЛ и. следовательно, ЦМД, линейно зависят от диаметров колец. Для колец, в которых скорость ЦМД превышает предельную скорость для данного материала, ЦМД выскакивает из МСЛ и колл а псирует. В зазорах разрезных колец глубина и градиентное поле МСЛ меньше, чем под кольцами, поэтому при постоянной частоте вращающегося поля срыв ЦМД происходит при меньших диаметрах разрезных колец, чем сплошных. Имея набор разрезных колец разного диаметра с различными величинами зазоров, определяют влияние зазора на динамику ЦМД и сравнивают с результатами измерений при движении

ЦМД вдоль сплошных колец. Поляризованный свет от осветителя 1 попадает (через опак-иллюминатор микроскопа 2) на ЦМДматериал 7, отражается от магнитных управляющих элементов 6, снова проходит ЦМДматериал 7 и попадает в поляризационный микроскоп 2, с помощью которого наблюдается ЦМД.

Фиксируя номер кольца с максимальным диаметром, под которым еще наблюдаются ЦМД после приложения вращаюц егося магнитного поля, определяют предель— ную для данного случая скорость по форм) ëe где 0) — круговая частота магнитного поля;

Й„, максимальный радиус кольца, на котором еще наблюдается движение ЦМД.

В качестве осветителя могут быть использованы серийные осветители для микроскопов ОИ вЂ” 21, ОИ вЂ” 19М и др, или осветители, входящие в комплект микроскопов, а в качестве поляризационного микроскопа,— — например, «Полам», NU — 2E, МП вЂ” 6, МБИ вЂ” 6 и др.

Магнитная система для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения может быть составлена из четырех контуров квадратной или прямоугольной формы и катушки, создающей магнитное поле, перпендикулярное плоскости пленки.

Генератором токов управления может быть, например генератор ГЗ вЂ” 39 с усилителями, а источником постоянного тока любой, позволяющий создать необходимое поле смещения, например Б5 — 7, Б5 — 9 и др.

Формула изобретения

Устройство для измерения динамических характеристик материалов с цилиндрическими магнитными доменами по авт. св. № 1091098, отличающееся тем, что, с целью повын ения точности измерения, на материал с цилиндрическими магнитными доменами дополнительно нанесены магнитоуправляющие элементы в виде разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала

1247801 юг 2

Составитель А. Дивеев

Редактор Н.Швыдкая Техред И. Верес Корректор О. Луговая

Заказ 4120/45 Тираж 728 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4