Электромагнитный дефектоскоп

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов. Повышение достоверности контроля достигается благодаря тому, что в дефектоскопе используются два измерительных канала, каждый из которых выполнен с обратной связью, обеспечивающей заданный режим измерения, и генератор выполнен управляемым. Путем автоматической регулировки частоты генератора 2 в процессе измерения устанавливаются режимы при работе каждого из измерительных каналов. При отсутствии дефектов в изделии напряжение на выходе обоих каналов отличаются в К раз, где К - коэффициент усиления масштабного усилителя 10. Это соотношение не зависит от велиi чины удельной электропроводности 6 изделия. В результате индикации де (Л фекта при вариации 6 не произойдет. С 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (51) 4 G 01 N 27/90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

М ABTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3915493/25 — 28 (22) 25.06.85 (46) 23.11.86. Вюл. №- 43 (71) Пермский политехнический институт (72) А.В.Горохов, В.А.Панов и А.Я,Садиков (53) 620. 179 ° 14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 945769, кл. G 0 1 N 27/90, 1982.

Авторское свидетельство СССР ¹

167062, кл. С 01 N 27/90 1963. (54) ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии электропроводящих объектов. Повышение достоверности контроля достигается благодаря тому, что в дефектоскопе используются два измерительных канала, каждый из которых выполнен с обратной связью, обеспечивающей заданный режим измерения, и генератор выполнен управляемым, Путем автоматической регулировки частоты генератора 2 в процессе измерения устанавливаются режимы при работе каждого из измерительных каналов, При отсутствии дефектов в изделии напряжение на выходе обоих каналов отличаются в К раз, где К вЂ” коэффициент усиления масштабного усилителя 10.

Это соотношение не зависит от величины удельной электропроводности 6 изделия, В результате индикации дефекта при вариации 6 не произойдет.

1 ил.

1272212

10

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано.для дефектоскопии неферромагнитных электропроводящих объектов.

Цель изобретения — повышение достоверности контроля за счет обеспечения заданного режима-.

На чертеже представлена структурная схема электромагнитного дефектоскопа.

Электромагнитный дефектоскоп состоит из последовательно соединенных буферного каскада 1, управляемого генератора 2, дифференциального вихретокового преобразователя 3, буферного каскада 4, первого измерительного канала, состоящего из широкополосного усилителя 5, фазового детектора 6, подключенного опорным входом к выходу генератора 2, вычи— тателя 7, подключенного вторым входом к задатчику 8 и интегратору 9, масштабного усилителя 10 и вычитателя 11, между вторым входом последнего и вторым выходом буферного каскада 4 включен второй измерительный канал, идентичный первому и состоящий из последовательно соединенных широкополосного усилителя 12, фазового детектора 13, подключенного опорным входом к выходу генератора

2, вычитателя 14, подключенного вторым входом к задатчику 15, и интегратора 16, индикатора 17, подключен— ного к выходу вычитателя 11, генератора 18 тактовых импульсов, соеди.ненного выходом с вторыми входами буферных каскадов 1 и 4. Первый и третий входы буферного каскада 1 соединены с выходами масштабного усилителя 10 и интегратора 16.

Дефектоскоп работает следующим образом.

Первоначально устанавливают напряжения эадатчиков 8 и 15 и коэффициент К усиления масштабного усилителя

10. Напряжения задатчиков 8 и 15 определяют величину фазы вносимого в вихретоковый преобразователь 3 напряжения, соответствующую заданному значению обобщенного параметра Х =

R <6p где И вЂ” циклическая частота колебаний электромагнитного по.ля; — абсолютная магнитная проницаемость материала изделия; 6 — удельная электрическая проводимость R. — радиус изделия, при которых работает каждый измерительный канал. Коэффициент К устанавливается равным К =

= Х,/Х, где Х„ и Х вЂ” обобщенные параметры первого и второго измерительных каналов соответственно.

В процессе контроля генератор 18 тактовых импульсов поочередно включает первый и второй измерительные каналы. Частота, вырабатываемая генератором 2, регулируется путем обратной связи, имеющейся в каждом канале, При этом обеспечивается режим с обобщенным параметром Х при рабо1 те первого канала и с Х вЂ” при ра2 боте второго канала. Если в контролируемом изделии нет дефектов, то при указанной настройке на выходе вычитателя 11 напряжение отсутствует.

При этом вариация 6 не приводит к появлению ложных сигналов, так как автоматически изменяется, частота и 4) при работе первого и второго каналов. Кроме того, не требуется перестройка для контроля изделий с различной удельной электропроводностью.

Формула изобретения

Электромагнитный дефектоскоп, содержащий последовательно соединенные генератор, дифференциальный вихретоковый преобразователь и буферный каскад, вычитатель и индикатор, подключенный к выходу вычитателя, два идентичных измерительных канала, каждый из которых содержит фазовый детектор, подключенный опорным входом к выходу генератора, входы обоих измерительных каналов подключены к выходу буферного каскада, а выход первого измерительного канала подключен к первому входу вычитателя, о т л и— ч а ю шийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, он снабжен вторым буферным каскадом, генератором тактовых импульсов, подключенным к первому и второму входу соответственно первого и второго буферных каскадов, и масштабным усилителем, каждый измерительный канал снабжен подключенным к второму входу фазового детектора широкополосным усилителем, вход которого является входом измерительного канала, и подключенными к выходу фазового детектора последовательно соединенными дополнительным вычитателем, второй

1272212

Составитель П.Шкатов Редактор Н.Рогулич ТехредЛ.Сердюкова Корректор Г.Решетник

Заказ 6332/42 Тираж 778 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 вход которого подключен к задатчику, и интегратором, являющимся выхо- дом измерительного канала, выход -второго измерительного канала подключен к второму входу первого вычитателя через масштабный усилитель, генератор выполнен управляемым и подключен своим управляющим входом к выходу второго буферного каскада, соединенного входами с выходами первого измерительного канала и масштабного усилителя.

Электромагнитный дефектоскоп Электромагнитный дефектоскоп Электромагнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может найти применение при измерении толщины изоляционных покрытий и диаметра цилиндрических проводящих изделий

Изобретение относится к средствам контрольно измерительной техники

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и Сможет использоваться для дефектоскопии электропроводных изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для контроля сплошности или качества стрзгктуры ферромагнитных изделий во всех областях машиностроения

Изобретение относится к нёразрушающему контролю и может быть использовано для дефектоскопии объектов с ферромагнит.ными включениями

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и может быть использовано для определения напряженно-деформированного состояния элементов металлических конструкций

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к средствам неразрушающего контроля качества ферромагнитных материалов, и может быть использовано для измерения глубины закалки и упрочнения, обнаружения внутренних неоднбродностей и других дефектов в,-изделиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, к неразрушающим методам контроля параметров магнитного поля и качества изделия

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и параметров покрытий электромагнитным методом и может быть использовано для производства и контроля покрытий

Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий методом вихревых токов и может быть использовано для решения задач дефектоскопии электропроводящих изделий

Изобретение относится к неразрушающему контролю и используется при дефектоскопии электропроводящих изделий и поверхности изделий сложной формы

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля и предназначено для использования при дефектоскопии электропроводящих изделий с непроводящим немагнитным покрытием переменной толщины для компенсации влияния переменной толщины покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля продольно-протяженных изделий, например труб и проката

Изобретение относится к области неразрушающего контроля протяженных металлических изделий, например труб и проката
Наверх