Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей за счет контроля тупиковых состояний расположения дефектов. Иоставленная цель достигается тем, что в устройстве для С3ы)(18 ю 00 ел о 05

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (бд 4 С 01 N 21/88

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

fl0 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

Н АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3947085/24-28 (22) 23.08.85 (46) 30.12.86. Вюл. ¹ 48 (71) Киевский политехнический институт им. 50-летия Великой Октябрьской социалистической революции (72) A.В. Литвинов и В.В. Татаринов (53) 531.7(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1245961, кл. G 01 N 21/88, 1983.

„ЯУ„„2 05О6 А1 (54) УСТРО11СТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КООРДИНАТ ЦЕНТРА ЯРКОСТИ СЛЕДА ДЕФЕКТА

ДЕТАЛИ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей за счет контроля тупиковых состояний располо>кения дефектов. Поставленная цель достигается тем, что в устройстве для

1280506 определения координат центра яркости следа дефекта детали, содержащем оптически связанные объектив, светоделительный кубик, два оптических клина, нейтральную пластинку, три фотоприемника, две схемы деления, диафрагму, установленную в плоскости изображения объектива, механически связанную с шаговыми двигателями линейного перемещения по осям Х и У, жидкокристаллическую матрицу, установленную в плоскости изображения между диафрагмой и светоделительным кубиком, выходы фотоприемников соединены с входом суммирующего усилителя, дополнительно содержится четвертый компаратор 33, три запоминающих блока 35, 63, 64, три сумматора

55, 57» триггер. 30 Шмитта, третью и четвертую схемы 54, 58 деления, схему 65 умножения, коммутатор 29, счетчик 49, третий дешифратор 30, I

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в дефектоскопии при овтоматизации визуального метода контроля деталей.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей за счет контроля тупиковых состояний расположения дефектов.

На фиг. 1 и 2 представлены тупиковые состояния первого рода на фиг. 3 — тупиковые состояния второго рода, на фиг. 4 — примеры тупиковых состояний, на фиг. 5 и 6 — блоксхема устройства. устройство .состоит из оптически связанных и предназначенных для анализа дефектов детали 1, объектива 2, диафрагмы 3, жидкокристаллической матрицы 4, светоделительного кубика

5, первого и второго модуляторов 6 и 7, нейтральной пластинки 8,первого, второго и третьего фотоприемников

9, 10 и 11 Выходы первого 9 и третьего 11 фотоприемников подключены соответственно к первым входам первой .и второй схем 12 и 13 деления, вторые входы которых соединены схему 59 вычитания, схему 66 формирования tgd., причем выход третьего компаратора через первую схему совпадения соединен с первым и вторым компараторами, усилителями стирания столбцов и строк, а также с механизмом перемещения детали, второй .вход первой схемы совпадения подсоединен к датчику измерения диаметра диафраг" мы, выход которого через четвертый

34 вентиль соединен с первым запоминающим блоком 35, выход которого через третью схему 54 деления подключен к первому входу четвертого компаратора 33, второй вход которого соединен с датчиком измерения диаметра диафрагмы, а выход — к третьему вентилю, выход первой схемы деления соединен с выходом сумматора 55, что позволяет автоматизировать процесс контроля деталей, на которых расположение дефектов тупиковое . 6 ил.

2 между собой, а также соответственно к первому и третьему входам стимулирующего усилителя 14, к второму входу которого подсоединены вход второго фотоприемника 10. Модулятор

6, фотоприемник 9 и схема 12 образуют канал формирования координаты .Х центра яркости дефектов, модулятор

7, фотоприемник 11 и схема 13 — ка10 нал формирования коордийаты У, а пластинка 8, фотоприемник 10 и усилитель 14 — опорный канал. Выход первой и второй схем 12 и 13 деления подключены соответственно к первым входам первого и второго аналоговых ключей 15 и 16 и первым входам пер" вого и второго компараторов 17 и 18, вторые входы которых подключены .соответственно к датчикам 19 и 20 линейного перемещения по координате

Х (19) и координате Y (20), а вторые входы первого и второго аналоговых ключей 15 и 16 — к выходу датчика

21 измерения. диаметра диафрагмы. Датчики 19, 20 и 21 механически связаны с диафрагмой 4. Выходы первого

l7 и второго 18 компараторов подключены к первому и второму входам иС3 128050 точника 22 питания (ИП) шаговых двигателей 23 и 24 линейных перемещений и шагового двигателя (ШД) 25 измене1 ния диаметра зрачка диафрагмы. Кроме того, вторые выходы первого и второго компараторов 17 и 18 подключены к первому и второму вентилям 26 и 27, коммутирующим выходы источника 22 питания с шаговыми двигателями 23 и

24. Выход усилителя 14 подключен к 10 третьему .компаратору 28, на второй вход которого подается опорное напряжение, соответствующее отсутствию следов дефектов в поле обзора, а также к первому входу коммутатора 29 15 и к входу триггера 30 Шмитта. Выход третьего компаратора 28 подключен к первому входу схемы 31 совпадения.

Выход датчика 21 диаметра подсоединен к второму входу первой схемы 31 20 совпадения, а также к третьему вентилю 32, коммутирующему ИП с шаговым двигателем 23 (ШД) линейного перемещения, к первому входу четвертого компаратора 33 и через четвертый вентиль 34 — к первому запоминающему блоку 35.

Выход первой схемы 31 совпадения соединен с первым и вторым компара- 30 торами 17 и 18, а также с усилителями стирания строк 36 и столбцов 37, которые подключены к шинам строк и столбцов матрицы 4. Выходы аналоговых ключей 15 и 16 подключены соот- 35 ветственно к входам аналого-цифрового преобразователя (АЦП) столбцов

38 и АЦП строк 39, а выходы последних — к входам регистров столбцов

40 и строк 41. Выходы регистров 40 40 и 41 подключены ко входам дешифраторов столбцов 42 и строк 43, а выходы последних — к входам усилителей записи столбцов 44 и строк 45, выходы которых подключены к шинам 45 столбцов и строк матрицы 4. Выход первой схемы 31 совпадения подключен также к механизму 46 перемещения, перемещающему деталь 1. Второй и третий входы коммутатора 29 соединены Я1 с выходами первого и второго компараторов 17 и 18, а выход первого компаратора 17 подключен к второй схеме 47 сравнения, второй вход которой соединен с выходом усилителя 14. Вход55 триггера 30 Шмитта параллельно подключен через восьмой вентиль 48, к счетчику 49, выходы которого подключены на входы дешифратора 50, Пер6 4 вый и второй выходы коммутатора 29 подключены к первому и второму входу триггера 51, а второй выход коммутатора 29 подсоединен также к восьмому вентилю 48. Выход триггера 51 подключен к первому входу третьей схемы 52 совпадения, к второму входу которой через инвертор 53 подключен выход триггера 30 Шмитта. Выход триггера 30 Шмитта подключен также к ИП 22. Выход блока 35 подключен к входу третьей схемы 54 деления, с выхода которой сигнал поступает на второй вход четвертого компаратора

33, на первый вход сумматора 55 и через пятый вентиль 56 на первьп1 вход второго сумматора 57 и четвертую схему 58 деления. Выход схемы

58 деления подключен к второму входу второго сумматора 57 и к первому входу схемы 59 вычитания. Выход второй схемы 47 совпадения соединен с пятым, шестым и седьмым вентилями 56, 60 и 61. Первый вход дешифратора 50 подключен к четвертому вентилю 34 и к девятому вентилю 62, коммутирующему выход датчика 19 линейного перемещения по координате Х с вторым блоком 63, выход которого через шестой вентиль 60 соединен с вторым входом схемы 59 вы гитани.

Выход датчика 20 линейного перемещения по координате Y через седьмой вентиль 61 соединен с входом третьего блока 64. Сигнал с выхода второго сумматора 57 поступает на вход схемы

65 умножения, на второй вход которой подключен к блоку 66 формирования

Выход схемы 65 умножения подключен к первому входу третьего сумматора 67, второй вход которого подключен к третьему блоку 64. Сигнал с выхода второго блока. 63 подается на второй вход первого сумматора 55.

Выходы схемы 59 вычитания и первого сумматора 55 подключены к выходу первой схемы 12 деления, а выход третьего сумматора 67 — к выходу второй схемы 13 деления.

Устройство работает следующим образ ом.

В начальный момент жидкокристаллическая матрица 4 находится в про— зрачном состоянии, а cBPTQBQII поток от детали 1 проходит через объектив

2, диафрагму 3, матрицу 4 и попадает на светоделительный кубик 5. Разделенный световой поток в двух ко5 1280506 6 ным по своим энерго-габаритным параметрам. В самом начале работы. Устройства центр яркости всех дефектов детали расположен ближе к максимальному дефекту. В дальнейшем при перемещении диафрагмы и уменьшении ее зрачка ось диафрагмы и центр яркости будут постепенно сближаться и в конце концов сбвпадут.

Координаты центра дефекта Х и Y поступают на входы преобразователей

38 и 39, с помощью которых аналоговую форму координат преобразовывают в цифровую, Значение координат центра дефекта запоминают в регистрах

40 и 41 и дешифрируют дешифраторами

42 и 43 с тем, чтобы сигналы о координатах центра дефекта, пройдя усилители записи столбцов 44 и строк 45, были поданы на соответствующие шины жидкокристаллической матрицы 4.

5 получаемых от датчиков 19 и 20 линей!

О

В исходном состоянии матрица 4 прозрачна, т.е. световой поток от детали 1 проходит беспрепятственно на светоделительный кубик 5 и далее на три фотоприемника 9, 10 и 11. При подаче сигналов о координатах центра яркости дефекта соответствующую ячейку матрицы 4 переводят в непрозрачное состояние. Таким образом, из дальнейшего контроля исключается дефект, координаты центра яркости которого уже определены.

Если суммарный сигнал, пропорциональный освещенности текущего поля

-40

55 ординатных каналах Х и 7 модулируют с помощью оптических клиньев 6 и 7, коэффициенты пропускания которых изменяются по монотонно возрастающим или убывающим функциям, а в опорном канале световой поток модулируют с помощью нейтральной пластинки 8 с. постоянным коэффициентом пропускания. С помощью фотоприемников 9 и 11 формируют фотоэлектрические сигналы по координатным каналам Х и 7 соответственно, а с помощью фотоприемника 10 — опорный фотоэлектрический сигнал. По соотношению между сигналами координатных и опорного каналов с помощью схем 12 и 13 деления определяют координаты Х и 7 центра яркости всех дефектов детали 1. После этого по сигналам координат производят процесс совмещения центра диафрагмы 3 с центром яркости дефектов, осуществляемый шаговыми двигателями ШД Х 23 и ШД Y 24.

Для этого источник 22 питания шаговых двигателей подключают к ШД 7 24 и ШД Х 23 через вентили 26 и 27 до тех пор, пока компараторы 17 и 18 не вырабатывают импульсы равенства координат центра яркости дефектов детали и координат центра диафрагмы 3, ных перемещений. В момент совпадения оси диафрагмы 3 с центром яркости дефектов детали вентили 26 и 27 закрывают подачу питания на ШД Х 23 и ШД 7 ?4, после этого диафрагму 3 по координатным осям "Х" и "Y" не перемещают. Одновременно с линейными перемещениями диафрагмы 3 по координатным осям Х и Y производят диафрагми рование поля анализа детали, при этом часть дефектов маскируют и они исчезают из поля анализа. Исчезновение части дефектов из поля анализа приводит к тому, что изменяются значения текущих координат центра яркости оставшихся дефектов. Уменьшение диаметра зрачка диафрагмы 3 произво дят до тех пор, пока шаговый двигатель 25 подключен через вентиль 32 к источнику 22. С достижением зрачка диафрагмы 3 своего минимального диаметра срабатывает датчик 21, сигнал от которого закрывает вентиль

32 и открывает аналоговые ключи 15 и 16, через которые снимают значения координат центра выделенного дефекта на дальнейшую обработку. Этот выделенный дефект является макимальанализа, достигнет уровня, меньшего опорного напряжения, то в поле анализа отсутствуют дефекты. В этом случае третий компаратор 28 вырабатывает сигнал, поступающий на первый вход первой схемы 31 совпадения. При наличии на втором входе первой схемы

31 совпадения сигнала, соответствующего минимальному диаметру диафрагмы

3 и снимаемого с датчика 21 диамет" ра, выходной сигнал первой схемы 31 совпадения поступает на усилители стирания строк 36 и столбцов 37. При этом жидкокристаллическую матрицу

4 приводят в исходное состояние— прозрачное. Сигнал со схемы 31 посту" пает также на вентили 26, 27 и 32, открывая их, в результате работы которых диафрагму 3 перемещают в исходное положение, а зрачок диафрагмы 3 принимает максимальный диаметр. IIo команде из схемы 31 совпадения срабатывает механизм 46 перемещения дета1280506 8 ли, который заменяет проконтролированную деталь новой.

Возникновению тупиковых состоя— ний первого рода (фиг. 1 и 2), (характеризующихся равенством яркости

f0 дефектов и совпадением в момент контили нескольких дефектов) соответствует наличие нулевого сигнала, снимаемого с выхода суммирующего усилителя 14, на первом входе коммутатора

29. На два других входа подаются единичные сигналы, представляющие импульсы равенства координат ЦД и следов дефектов (ЦЯ) вырабатываемые первым и вторым компараторами 17 и 18.

Эти же сигналы поступают на первый и второй вентили 26 и 27. В результате шаговые двигатели 23 и 24 линейного перемещения оказываются отключенными от ИП 22 шаговых двигателей. Устроиство начинает отрабатывать перемещение ЦД из точки 1 в точку 11 с одновременным уменьшением диаметра диа— фрагмы 3 на 1/2 (фиг. 1), что приведет к нарушению симметрии следов о1носительно ЦД.

Единичный сигнал с первого выхода коммутатора 29 поддерживает триггер

51 в состоянии нулевого выходного сигнала. Триггер 30 Шмиттта перекидывается в состояние единичного выходного сигнала, который в качестве управляющего подается на ИП 22. Последний изменяет полярность напряжения питания, двигатель вращается в обратную сторону, и зрачок диафрагмы

3 начинает расширяться до появления следов в поле зрения диафрагмы 3.

Затем триггер 30 Шмитта устанавливается в состояние нулевого выходного сигнала. Счетчик 49 через открытый восьмой вентиль 48 отсчитывает пере45

50 ключения триггера 30 Шмитта иэ одного состояния в другое. В момент появления следов в поле зрения диафрагмы 3 сигнал с первого выхода дешифратора 50 открывает девятый вентиль

62 и четвертый вентиль 34. Сигнал, соответствующий величине диаметра зрачка диафрагмы, через четвертый вентиль 34 записывается первым запоминающим блоком 35, делится на два третьей схемой. 54 деления и поступает на первый вход четвертого компаратора 33, на второй вход которого подается сигнал с датчика 21 диамет55 роля координат центра диафрагмы ЦД и центра яркости (ЦЯ) следов двух

f5

40 ра. В момент равенства этих сигналов, свидетельствующий об уменьшении диа- метра диафрагмы, величина которого записана в первом блоке 35, в два раза, выходным сигналом четвертого компаратора 33 запирается третий вентиль 32, прекращая подачу напряжения с ИП 22 на ШД 25. Одновременно с операцией уменьшения диаметра диафрагмы в два раза сигнал, соответствующий координате Х ЦД, через девятый вентиль 62 записывается на втором блоке

63 и поступает на первый вход первого сумматора 55. Выходной сигнал ! третьей схемы 54 деления поступает на второй вход первого сумматора 55.

Выходной сигнал последнего поступает на выход канала формирования координаты Х ЦЯ следов (выход первой схемы

12 деления). Первый компаратор 17 выдает управляющий сигнал, являющийся результатом сравнения сигналов, cooFветствующих координатам ЦД и ЦЯ, па

ИП 22 и открывает первый вентиль 26 °

Питание с ИП 22 поступает на ШД 23 и последний перемещает ЦД по координате Х íà 1/2 величины диаметра диафрагмы, записанной во втором блоке 63.

Выходной сигнал первого компаратора 17 поступает на первый вход второй схемы 47 совпадения, срабатывающей при наличии Hóëåüoãо сигнала на втором ее входе, снимаемого с ггнхода суммирующего. усилителя 14. На.гичпе нулевого сигнала ца втором входе второй схемы 47 совпадения говерггх о том, что имеет место ситуацггя, изображена на фиг. 2. В этом случае следы дефектов лежат симметрично относительно центра — точка t иа дугах

АВ и АВ . Для обнаружения следов дефектов необходимо перемешать ЦД из точки 11 под определенным углом сс при постоянном диаметре диафрагмы до захвата следов в поле обзора, так как диаметры d „ и Й,г связаны зависимостью d, = 2d (фиг ° 2), то

tgd. = const. А координа ы предельной точки, в которую может переместиться центр диафрагмы, находятся как

Y„= Y, +3/4 d, tgN, Х„= У, -1/4 dt .

Сигнал, вырабатываемый второй cхемой 47 совпадения, открывает вентили пятый 56, шестой 60 и седьмой 61.

Сигнал с выхода второго блока 63 поступает на первый вход схемы 59 вычи0506

15

30

9 128 тания. Сигнал с выхода третьей схемы

54 деления через открытый пятый вентиль 56 поступает на четвертую схему

58 деления, где делится на два, и на пеРвый вход второго сумматора 57, Выходной сигнал четвертой схемы 58 деления поступает на вторые входы схемы 59 вычитания и второго сумматора 57. Одновременно с этим выходной сигнал датчика 20 линейного перемещения по координате Y через открытый седьмой вентиль 61 поступает на третий 64 блок и с выхода третьего блока 64 — на первый вход третьего сумматора 67. Сигнал с выхода второго сумматора 57 поступает на первый вход схемы 65 умножения, на второй вход которой поступает сигнал, эквивалентный с блока 66 формирования.

Выходной сигнал схемы 65 умножения поступает на второй вход третьего сумматора 67, выходной сигнал которого поступает на первый компаратор 17, а сигнал с выхода схемы 59 вычитанияна вход второго компаратора 18. Первый и второй компараторы 17 и 18 подают разрешающие сигналы на первый

26 и второй 27 вентили, и напряжение питания с ИП 22 прикладывается к ШД

23 и 24 линейного перемещения, которые начинают отрабатывать разницу координат ЦД, ЦЯ. В момент равенства сигналов с выходов схемы 59 вычитания и третьего сумматора 67 с выходными сигналами датчиков 19 и 20 линейного перемещения, первый 17 и второй 18 компараторы вырабатывают сигналы, запирающие вентили первый

26 и второй 27. Счетчик 49 отсчитывает переключения триггера 30 Шмитта из одного состояния в другое и в момент появления ненулевого сигнала на выходе суммирующего усилителя 14, свидетельствующего о захвате следа в поле зрения диафрагмы 3, сигналом со второго выхода дешифратора 50 производится стирание информации, записанной в первом, втором и третьем запоминающих блоках. Ситуации, соответствующей тупиковому состоянию второго рода и возникающей при перемещении ЦД и ЦЯ двух или нескольких идентичных следов, лежащих на отрезке прямой, перпендикулярно к траектории перемещения (фиг. 3), соответствует наличие нулевого сигнала хотя бы на втором или третьем входе коммутатора 29 и нулевого сигнала на первом входе.

I0

По алгоритму работы устройство выводит ЦД в суммарный центр яркости (диафрагмирования при этом не происходит), сводя таким образом ситуацию к тупиковому состоянию первого рода.

Единичный сигнал с второго выхода коммутатора 29 запирает вентиль 48 и переводит триггер 51 в состояние единичного выходного сигнала, который поступает на первый вход третьей схемы 52 совпадения. Одновременно с этим триггер 30 Шмиттта перекидывается в состояние единичного выходного сигнала и ИП 22 выдает питание другой полярности на ШД 25 изменения диаметра диафрагмы. Зрачок диафрагмы

3 начинает расширяться и в момент появления единичного сигнала, свидетельствующего о захвате следов в поле зрения диафрагмы 3, на входе триг„гера 30 Шмитта выходной сигнал последнего через инвертор 53 поступает на второй вход третьей схемы 52 совпадения, выходной сигнал которой запирает третий вентиль 32, отключая питание с ИП 22 от ШД 25 изменения диаметра диафрагмы 3. В то же время

ШД 25 линейного перемещения продолжают отрабатывать разность координат ЦЦ и ЦЯ следов до выработки первым и вторым компараторами 17 и 18 единичных сигналов, запирающих первый и второй вентили 26 и 27, отключающие питание от ИП 22 к ШД линейного перемещения.

Наличие единичных сигналов на всех трех входах коммутатора 29 при; водит к появлению единичного сигнала на третьем выходе коммутатора 29, перекидывающего триггер 51 в состояние единичного выходного сигнала. На выходе третьей схемы 52 совпадения появляется нулевой сигнал — третий вентиль 32 отпирается, а питание с

ИП 22 поступает на ШД 25 изменения диаметра диафрагмы. Зрачок диафрагмы начинает сжиматься и в момент исчезновения сигнала в опорном фотоканале система приходит к тупиковому состоянию первого типа. При достижении зрачком диафрагмы минимального диаметра выходной сигнал с датчика 21 открывает первый и второй аналоговые ключи 15 и 16, через которые координаты Х и Y ЦД поступают на входы

ЛЦП 38 и 39. Выходной сигнал АЦП 38 и 39 запоминается в регистрах 40 и

41 и дешифрируется дешифратором 42 и 43 с тем, чтобы сигналы о коорди11 128050 натах ЦД, пройдя усилители записи столбцов 44 и строк 45, были поданы на соответствующие шины матрицы 4. формула изобретения

Устройство для .определения координат центра яркости следа дефекта детали, содержащее оптически связанные объектив, светоделительный ку- Я бик, два оптических клина, нейтральную пластинку, три фотоприемника, две схемы деления, диафрагму, установленную в плоскости анализа, шаговые двигатели линейного перемеще- f5 ния диафрагмы по осям Х и Y è шаговый о двигатель изменения диаметра зрачка диафрагмы с источниками питания щаговых двигателей, три вентиля, источники питания подключены к шаговым 2р двигателям через первый, второй и третий вентили соответственно, датчики линейных перемещений по осям

Х и Y механически связанные с диафрагмой, датчик измерения диаметра 25 диафрагмы, три компаратора, две схемы деления, два аналоговых ключа, жидкокристаллическую матрицу, к строкам которой последовательно подключены усилитель записи строк, дешиф- Зр ратор строк, регистр строк и аналогоцифровой преобразователь строк, а к столбцам матрицы последовательно подключены усилитель записи столбцов, дешифратор столбцов, регистр столбцов и аналого-Цифровой преобразователь столбцов, суммирующий усилитель, выходы датчиков линейных перемещений по осям Х и Y через входы первого и второго компараторов соединены с 4р выходами схем деления, которые через аналоговые ключи связаны параллельно с выходом датчика измерения диаметра диафрагмы и с вторым входом третьего вентиля, жидкокРисталлическая матри- 45 ца установлена в плоскости. анализа объектива между диафрагмой и светоделительным кубиком, входы аналогоцифровых преобразователей строк и столбцов соединены с аналоговыми клю- 50 чами, выкоды фотоприемников соединены с входом суммирующего усилителя, .выход которого соединен с входом третьего компаратора, второй вход которого предназначен для связи с ис- 55 точником опорного напряжения, о т— л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет контроля тупиковых

6 12 состояний расположения дефектов, оно снабжено четвертым компаратором, тремя запоминающими блоками, тремя сумматорами, триггером Шмитта, третьей и четвертой схемами деления, схемой умножения, коммутатором, счетчиком, третьим дешифратором, схемой вычитания, схемой формирования tgy, триггером, схемой совпадения и шестью вентилями, причем выход третьего компаратора через первую схему совпадения соединен с первым и вторым компараторами, усилителями записи столбцов и строк и предназначен для связи с механизмом перемещения детали, второй вход первой схемы совпадения подсоединен к датчику измерения диаметра диафрагмы, выход которого через четвертый вентиль соединен с первым запоминающим блоком, выход которого через третью схему деления подключен к первому входу четвертого компаратора, второй вход которого соединен с датчиком измерения диаметра диафрагмы, а выход — к третьему вентилю, выход первой схемы деления соединен с выходом сумматора, вход последнего включен к выходу третьей. схемы деления и параллельно соединен с входом пятого вентиля, выход которого параллельно соединен с вхо- . дом четвертой схемы деления и с вторым сумматором, второй вход которого соединен с выходом четвертой схемы деления и со схемой вычитания, выход второго сумматора через схему умножения соединен со схемой формирования tg о и с третьим сумматором, выхоц которого подсоединен к выходу второй схемы деления, на второй вход третьего сумматора подключен третий запоминающий блок, вход которого через шестой вентиль соединен с датчиком линейных перемещений по оси Y первый вход шестого вентиля параллельно соединен с входами пятого, седьмого вентилей, а также с выходом второй схемы совпадения, второй вход схемы вычитания через седьмой вентИль соединен с выходом второго запоминающего блока и с вторым входом первого сумматора, а выход схемы вычитания — с выходом первой схемы деления, первый вход второй схемы совпадений параллельно соединен с коммутатором и с выходом первого компаратора, а второй вход — с вторым входом коммутатора, с триггером Шмитта, с выходом суммирующего

1280506

Фиг.3 г

B усилителя и с восьмым вентилем, третий вход второй схемы совпадения соединен с выходом второго компаратора, первый выход коммутатора соединен через первый вход триггера с третьей схемой совпадения, а второй выход — с вторым входам триггера и с вторым входом восьмого вентиля, выход которого соединен со счетчиком, соединенным с третьим дешифратором, выход последнего включен параллельно с входом четвертого и девятого вентилей, второй вход девятого вентиля присоединен к выходу датчика линейных перемещений по оси Х, а выход девятого вентиля — к входу второго запоминающего блока, выход триггера

Шмитта соединен с источником питания и через инвертор — с вторым входом третьей схемы совпадения, выl0 ход последней — с выходом четвертог0 компаратора.

1280505

Составитель Е . Глаз кова

Техред А.Кравчук Корректор И.Эрдейи

Редактор А.Долинич

Заказ 7060/48

Тираж 778 . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4!5 Производственно-полиграфическое предприятиа, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали Устройство для определения координат центра яркости следа дефекта детали 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано в дефектоскопии при автоматизации визуального метода контроля деталей с целью повышения достоверности определения координат центра яркости исследуемого объекта их измеряют по порядку убывания яркости за счет введения дополнительно в устройство жидкокристаллической матрицы и механизма перемещения объекта, которые соединены с электрической схемой, обеспечивающей автоматизацию считывания оптической информации с поверхности образца

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано при испытаниях элементов конструкций на трещиностойкость

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх