Способ дифракционного допускового контроля диаметров прозрачных диэлектрических волокон

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного дифракционного допускового контроля диаметра диэлектрических оптических волокон . Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения неоднозначности контроля, обусловленной интерференцией дифрагировавших и прошедших сквозь волокно лучей, которая имеет место при дифракции на прозрачных диэлектрических волокнах. Излучение от когерентного монохроматического источника 1 излучения поступает на коллимационную систему 2, формирующую равномерное распределение интенсивности в поперечном сечении облучающего пучка. Затем пучок направляется на рамку с эталонными волокнами 3 и на контролируемое диэлектрическое прозрачное волокно 7. Пучок дифрагирует на волокнах 3, 7, расположенных под углами Jf 60° друг к другу и попадает в проекционную систему 4, обеспечивающую формирование дифракционных картин в центральном секторе дальней зоны плоскости анализа и увеличение их масштаба. Дифракционные картины от двух эталонных волокон 3 формируют поле допуска и регистрируются в блоке 5 регистрации , сигнал с которого поступает в блок 6 обработки информации, в котором устанавливают наличие попадания минимума дифракционной картины диэлектрического волокна 1 в заданное поле допуска, сформированное эталонными волокнами 3. 1 ил. (Л 1C bo ел со

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (19) (11) (51) 4 С 01 В 11/08

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3857731/24-28 (22) 25. 02. 85 (46) 23.01.87. Бюл. № 3 (71) МВТУ им. Н.Э.Баумана (72)- Л.П.Лазарев, С.Д.Мировицкая и А.Н.Сарвин (53) 53 1.715.27(088.8) (56) Лазарев Л.П., Мировицкая С.Д.

Исследование дифракционного метода измерения диаметра оптического волокна. — Приборостроение, известия

ВУЗов, 1984, ¹ 7, с. 88-93.

Авторское свидетельство СССР № 1054679, кл. G 01 В 11/10, 1982. (54) СПОСОБ ДИФРАКЦИОННОГО ДОПУСКОВОГО КОНТРОЛЯ ДИАМЕТРОВ ПРОЗРАЧНЫХ

ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ВОЛОКОН (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного дифракционного допускового контроля диаметра диэлектрических оптических волокон. Цель изобретения — повышение точности контроля за счет устранения неоднозначности контроля, обусловленной интерференцией дифрагировавших и прошедших сквозь волокно лучей, которая имеет место при дифракции на прозрачных диэлектрических волокнах. Излучение от когерентного монохроматического источника 1 излучения поступает на коллимационную систему 2, формирующую равномерное распределение интенсивности в поперечном сечении облучающего пучка.

Затем пучок направляется на рамку с эталонными волокнами 3 и на контролируемое диэлектрическое прозрачное волокно 7. Пучок дифрагирует на волокнах 3, 7, расположенных под о углами ) = 60 друг к другу и попадает в проекционную систему 4, обеспечивающую формирование дифракционных картин в центральном секторе дальней зоны плоскости анализа и увеличение их масштаба. Дифракционные картины от двух эталонных волокон 3 формируют поле допуска и регистрируются в блоке 5 регистрации, сигнал с которого поступает в блок 6 обработки информации, в котором устанавливают наличие попадания минимума дифракционной картины диэлектрического волокна 7 в заданное поле допуска, сформированное эталонными волокнами 3. 1 ил.

1285317

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного дифракционного допускового контроля диаметра диэлектрических цилиндрических объек- 5 тов, например оптических волокон.

Цель изобретения — повышение точ/ ности контроля за счет устранения неоднозначности контроля, обусловленной интерференцией дифрагировавших и прошедших сквозь волокно (рефрагированных) лучей, которая имеет место при дифракции на прозрачных диэлектрических волокнах.

На чертеже представлена принципиальная схема устройства для реализации способа дифракционного допускового контроля диаметров прозрачных диэлектрических волокон.

Устройство содержит когерентный источник 1 излучения, коллимационную систему 2, рамку (не показана) с непрозрачными эталонными волокнами 3, проекционную систему 4, блок 5 регистрации и блок 6 обработки информации.

Способ контроля осуществляется следующим образом.

Располагают контролируемое прозрачное диэлектрическое волокно 7

30 вертикально (что обусловлено пространственной ориентацией вытяжной машины), а непрозрачные волокна 3 под углами = 60 к нему так,чтобы проекция их пересечения находилась в центре облучающего пучка.Это обеспечивает создание трех дифракционных картин, расположенных под углами 60 друг к другу, которые не затеняют друг друга и не интерферируют между собой.

Два непрозрачных эталонных волокна 3 выбирают таким образом, что поле допуска, сформированное положения- 45 ми минимум дифракционных картин от них,,определяет максимальный и минимальный размер контролируемого диэлектрического волокна. Использование двух эталонных волокон 3 позволяет получить дифракционные картины, не размыТые за счет интерференции дифрагировавших и рефрагировавших лучей, которая имеет место на диэлектрических оптических волокнах. Излучение от когерентного монохроматического источника 1 излучения поступает на коллимационную систему 2, формирующую равномерное распределение интенсивности B поперечном сечении облучающего пучка. Затем пучок направляется на рамку с этадонными волокнами 3 и на контролируемое диэлектрическое прозрачное волокно

7. Пучок дифрагирует на волокнах о

3 и 7, расположенных под углами 60 друг к другу и попадает в проекционную систему 4, обеспечивающую формирование дифракционных картин в центральном секторе дальней зоны плоскости анализа и увеличение их масштаба. Дифракционные картины от двух эталонных волокон 3 формируют поле допуска, определяющее минимальный и максимальный допустимые диаметры контролируемого волокна 7, и регистрируются в блоке 5 регистрации, сигнал с которого поступает в блок

6 обработки информации, в котором устанавливают наличие попадания минимума дифрационной картины диэлектрического волокна 7 в заданное поле допуска, сформированное эталонными волокнами 3. В случае ухода величины минимума дифракционной картины из поля допуска делается вывод о несоответствии диаметра диэлектрического волокна 7 допустимому значению и необходима регулировка технологического процесса вытяжки оптического волокна.

Формула изобретения

Способ дифракционного допускового контроля диаметров прозрачных диэлектрических волокон, заключающийся в том, что облучают контролируемое и непрозрачное эталонное волокна световым пучком с равномерным распределением интенсивности по его поперечному сечению, регистрируют в дальней зоне дифракционные картины от контролируемого и эталонного волокон соответственно и сравнивают их, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, устанавливают в облучающий пучок второе непрозрачное эталонное волокно так, что эталонные и контролируемое волокна перекрещены под о углом 60 друг относительно друга, а точка пересечения их проекций находится в центре облучающего пучка, регистрируют в дальней зоне дифракционную картину от второго эталонного волокна, определяют положение минимума дифракционной картины контроСоставитель Л.Лобзова

Редактор В.Иванова Техред М.Ходаиич Корректор C.tile@Map

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Jt!!р, t ët(t t () н! !!! Ktt tt н и!) t < ttr ! а!!я !!!!ю в но!те допуска, сформированного дифракционпымп картинами от эталонt

Заказ 7635!-43 Тираж 677

ВНИИПИ Государственного по делам изобретений

113035, Москва, Ж-35, них волокон, устанавливают соответствие контролируемого диаметра допустимому значению.

Подписное комитета СССР и открытий

Раушская наб., д. 4/5