Устройство для измерения коэффициента отражения в ультрафиолетовой области спектра

 

Изобретение относится к прикладной оптике. С целью повьш1ения точности измерений и расширения спектрального диапазона измерения в ультрафиолетовой области модулятор устройства в одном гнезде содержит образец , а в двух других гнездах установлены природные, сколы монокристаллов CdBr,., и CdJ, обладающие, идеальной оптической поверхностью и плоскопараллельностью слоев. Монокристаллы в области 5-10 эВ имеют характерную структуру спектра отражения. Это позволяет осуществлять надежную привязку исследуемого вещества по спектру. Зондирующий луч падает на модулятор под углом 4-8°. Причем нижний предел определяется геометрией установки, а верхний - минимизацией френелевских потерь. 2 ил. (Л с 1C 00 00 СП СП СО

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН

9 А1

09) (И) ц 4 G 01 N 21/55

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 3922157/31-25 (22) 12.04.85 (46) 07.02.87. Бюл. к- 5 (71) Львовский государственный университет им. И.Франко (72) Я.О.Довгий и И.В.Китык (53) 535.242(088.8) (56) Соболев В.В. и др. Расчеты оптических функций полупроводников по соотношениям Крамерса-Кронига.—

Кишинев: Штиинца, 1976, с. 62-66.

Авторское свидетельство СССР

)Ф 661312, кл. G 01 N 21/55, 1977. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА ОТРАЖЕНИЯ В УЛЬТРАФИОЛЕТОВОЙ ОБЛАСТИ СПЕКТРА (57) Изобретение относится к приклад- ной оптике. С целью повьппения точности измерений и расширения спектрального диапазона измерения в ультрафиолетовой области модулятор устройства в одном гнезде содержит образец, а в двух других гнездах установлены природные сколы монокристаллов CdBr u CdJ, обладающие идеаль Э ной оптической поверхностью и плоскопараллельностью слоев ° Монокристаллы в области 5-10 эВ имеют характерную структуру спектра отражения. Это позволяет осуществлять надежную привязку исследуемого вещества по спектру.

Зондирующий луч падает на модулятор под углом 4-8 . Причем нижний предел определяется геометрией установки, а верхний — минимизацией френелевских потерь. 2 ил.

1 12

Изобретение относится к прикладной оптике и может быть использовано для измерения и контроля спектров отражения твердых тел в ультрафиолетовой области спектра.

Цель изобретения — повышение точности измерений и расширение спектрального диапазона измерения коэффициентов отражения.

На фиг. 1 представлена принципиальная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 — спектры отражения эталонов CdJ CdBr и исследуемого образца.

Устройство состоит из источника

1 света, модулятора 2 с гнездами 3, фотоприемника 4 и регистратора 5.

Устройство работает следующим образом.

Луч от источника 1 света, монохроматизированный с помощью дифракционного монохроматора (не показан), попадает на вращающийся диск модулятора, расположенный по отношению оси таким образом, чтобы поочередно отраженный от двух эталонов и образца, размещенных в гнездах 3, он всегда попадал в одну и ту же точку фотоприемника 4. Последний преобразует эти сигналы, пропорциональные интеи88559 2 сивности отраженного света, в электрические импульсы, записываемые с помощью регистратора 5. Величину коэффициентов отражения и соответствующие спектральные положения определяют по графику фиг. 2 (кривые 6-8).

Формула изобретения

f0 Устройство для измерения коэффициента отражения в ультрафиолетовой области спектра, содержащее источник света и расположенные по ходу луча модулятор в виде диска с тремя гнездами, одно из которых предназначено для исследуемого образца, причем гнезда расположены под углом о

120 равноудаленно от центра диска, фотоприемйик и регистратор, о т л ич а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерений и расширения спектрального диапазона измерения коэффициентов отражения, два гнезда модулятора содержат эталонные слоистые монокристаллические соединения CdBr u CdJ, причем ис2 точник света установлей относительно модулятора так, что зондирующий луч . составляет с нормалью к плоскости

З0 модулятора угол 4-8

1288559

10 Еэ

Составитель И.Никулин

Техред И.Верес- Корректор С.Шекмар

Редактор А.Шишкина

Заказ 7799/40 Тираж 799 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4

Устройство для измерения коэффициента отражения в ультрафиолетовой области спектра Устройство для измерения коэффициента отражения в ультрафиолетовой области спектра Устройство для измерения коэффициента отражения в ультрафиолетовой области спектра 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическим устройствам для измерения коэффициентов отражения материалов и может быть использовано, например, для измерения коэффициента отражения многослойных диэлектрических зеркал, металлических поверхностей и покрытий на теплозащитных материалах

Изобретение относится к мерам и эталонам, применяемым в измерительной технике, а именно при контроле оптических характеристик мелкодисдерсных частиц, например катализаторов , цементов

Изобретение относится к спектрофотометрии и может использоваться при измерениях коэффициентов отражения зеркал с высокими отражающими свойствами

Изобретение относится к спектральному приборостроении и может быть использовано при создании спектрофотометров

Изобретение относится к оптическим способам контроля изделий

Изобретение относится к области измерений в теплофизике и теплотехнике

Изобретение относится к методам исследования биологических, биохимических, химических характеристик сред, преимущественно биологического происхождения и/или контактирующих с биологическими объектами сред, параметры которых определяют жизнедеятельность биологических объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для экспресс-контроля разливов нефти и нефтепродуктов в морях и внутренних водоемах

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля интегральных параметров лучистого теплообмена мобильных и стационарных объектов окружающей среды

Изобретение относится к устройству и способу для проведения, в частности, количественного флуоресцентного иммунотеста с помощью возбуждения кратковременным полем
Наверх