Способ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки

 

Изобретение относится к области динамической масс-спектрометрии и может быть использовано при разработке гиперболоидных масс-спектрометров типа ионной ловушки с высокой разрешающей способнсотью и чувствительностью. Целью изобретения является увеличение разрешающей способности и чувствительности данного масс-спектрометра , а также расширение его функциональных возможностей. Сущность способа состоит в одновременном проведении анализа и сортировки заряженных частиц в высокочастотном электрическом ноле и поло лазерного излучения. Устройство, реализующее способ, состоит из электронного источника 1, анализатора, образованного кольцевым 2 и двумя торцовыми электродами 3, коллектора 4 ионов, детектора 5 ионов, блока 7 управления высокочастотным генератором 6, синхронизирующего устройства 8, блока 9 управления, детектора 10 фотонов, источников 11 и 12 лазерного излучения, системы 13 сбора и коллимации фотонов. В кольцевых электродах выполнены отверстия 14, а в торцовых электродах-отверстия 15. Способ позволяет резко увеличить разрешающую способность масс-спектрометров данного типа по ряду веохеств при высокой чувствительности анализа, использовать их для исследования особенностей нелинейного селективного взаимодействия ионов с лазерным излучением. 1 з.н.ф-лы. 1 ил. i (Л С оо о 4 СО соСпособ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки Способ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки Способ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки Способ анализа ионов в гиперболоидном масс-спектрометре типа ионной ловушки 



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области масс-спектрометрии, а именно к квадрупольной масс-спектрометрии и может быть использовано при изотопном и элементном анализе состава веществ

Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при разработке приборов данного вида с высокой чувствительностью и разрешающей способностью

Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использован при создании приборов с высокой эффективностью удержания избранных заряженных частиц в рабочем объеме анализатора

Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при разработке приборов данного типа с высокими чувствительностью и разрешающей способностью

Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при разработке приборов данного типа с высокой чувствительностью и разрешающей способностью

Изобретение относится к масс-спектрометрии и может быть использовано при создании квадрупольных масс-спектрометров с высокой разрешающей способностью и чувствительностью

Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при создании приборов с высокой степенью сортировки заряженных частиц

Изобретение относится к гиперболоидной масс-спектрометрии и может быть использовано при создании приборов с высокой разрешающей способностью и скоростью сканирования спектра масс
Наверх