Способ сравнения оптических свойств двух образцов
Изобретение относится к оптическим измерениям и может быть использ вано для измерения разницы оптических свойств двух образцов. Цель-изобретения - повьшение точности . Используют один или несколько источников светового излучения 3-6, а также один приемник светового излучения 7. От обоих образцов 1,2 световые лучи одновременно поступают на приемник све.тового излучения 7. Измеряемые световые лучи от образцов 1,2 имеют различные направления относительно образца. Направления измеряемых световых лучей от образцов 1,2 попеременно чередуются с соответствующей частотой, например с частотой 1-10 000 Гц. По сигналу переменного тока, вырабатьшаемому приемником светового излучения 7, судят о разнице оптических свойств образцов , например отражающей или пропускающей способностях поверхности или пленки как функции от направления светового луча. 2 ил. § О)
СОЮЗ СОВЕТСНИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК (19) (11) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К ПАТЕНТУ
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР
ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3706912/24-25 (86) РСТ/FI 83/00050 (21.06.83) (22) 27 ° 02.84 (31) 822306 (32) 29.06.82 (33) FI (46) 23.03.88. Бюл. И 11 (71) Лабсистемз Ой (FI) (72) Ханну Харюнмаа (ГТ) (53) 535.24 (088.8) (56) Патент Франции 11 2203069, кл.G О1 F 2/34, 1974.
Патент Великобритании 11 1356049, кл.G 01 N 21/48,1974. (54) СПОСОБ СРАВНЕНИЯ ОПТИЧЕСИ1Х
СВОЙСТВ ДВУХ ОБРАЗЦОВ (57) Изобретение относится к оптическим измерениям и может быть использовано для измерения разницы оптических свойств двух образцов.
Цель изобретения — повьппение точности. Используют один или несколько источников светового излучения 3-6, а также один приемник светового излучения 7. От обоих образцов 1,2 световые лучи одновременно поступают на приемник светового излучения 7.
Измеряемые световые лучи от образцов 1,2 имеют различные направления относительно образца. Направления измеряемых световых лучей от образцов
1,2 попеременно чередуются с соответствующей частотой, например с частотой 1 — 10 000 Гц. По сигналу переменного тока, вырабатываемому приемником светового излучения 7, судят о разнице оптических свойств образцов, например отражающей или пропускающей способностях поверхности или пленки как функции от направления светового луча. 2 ил.
1384218
Изобретение относится к оптическим измерениям и может быть использовано для измерения разницы в оптических свойствах двух образцов.
Целью изобретения является повышение точности измерений.
На фиг.l приведен пример реализации способа для измерения неровностей кожи, связанной с местной прыщавостью кожи вследствие аллергических реакций; на фиг.2 — пример реализа- ции способа для измерения разницы в мутности двух жидких образцов.
Исследуемые образцы (участки кожи1 1 и 2 (фиг.1), один из которых является эталонным, освещаются источниками 3 — 6 света, в качестве которых используются четыре светоиэлучающих диода (СИД) одинакового цве- 20 та, Источники 3 и 4 света освещают кожу перпендикулярно, а 5 и 6— наклонно. В качестве приемника светового излучения используется один фототранзистор 7, на который подают 25 световые лучи, отраженные от двух исследуемых участков кожи 1 и 2.
Элемент 8 управления работает таким образом, что каждый исследуемый участок освещается одним СИД пер- 30 пендикулярно и одним СИД наклонно, так, что, когда один СИД освещает один исследуемый участок перпендикулярно, другой исследуемый участок освещается СИДом наклонно. Сигнал переменного тока с фототранзистора 7 поступает на усилитель 9, выпрямляется выпрямителем 10 и измеряется измерителем 11.
Коэффициенты отражения исследуе- 40 мых участков при перпендикулярных световых лучах обозначены D „ и D а при наклонных S u S
Сигнал R переменного тока приемника светового излучения пропорциона-45 лен равенству
R (D+ S )"(D+ S ) HJIB
1 2 2 1 (D — S )"(D — S ).
Я 2
Используя обозначения
Н = D
1 f
Н= D 2
55 получаем
Величины Н, и Н 2 определяют схемы направлений отражения лучей от образцов. Если схемы направлений отражения лучей от образцов различны, то вырабатывается сигнал, который тем больше, чем больше разница в неровности поверхностей.
В примере реализации на фиг.2 исследуются два жидких образца и измеряется мутность. Устройство, таким образом, представляет собой дифференциальный нефелометр. Луч света от одного, двух или четырех источников света направляется на образцы. Часть светового луча падает на приемник светового излучения, в отношении сигнала переменного тока которого методика соответствует описанной.
Когда используются два или четыре источника света, балансовая регулировка может быть осуществлена автоматически с помощью второго приемника светового излучения. На этот второй приемник оба световых луча различного направления гадают попеременнно с соответствующей частотой с одного образца в каждый момент времени, и получаемый сигнал переменного тока используется для регулировки соотношения между световыми интенсивностями источников света, таким образом, что указанный сигнал переменного тока становится равным нулю °
Формула изобретения
Способ сравнения оптических свойств двух образцов, заключающийся в направлении на образцы световых лучей и измерении отраженного от них
I света, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, на образцы направляют световые лучи, имеющие различные относительно образцов направления, отраженный от образцов свет одновременно регистрируют одним приемником светового излучения, при этом направления измеряемых cBt„.TQBblx лучей чередуют с частотой 1 - 10000 Гц и по сигналу переменного тока приемника светового изI лучения судят о разнице оптических свойств образцов.
1384218
Составитель Ю. Гринева
Редактор В.Бугренкова Техред M.Äèäûê КорректорИ.Муска
Заказ 1357/58 Тираж 847 Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, r.Óæãîðoä, ул. Проектная, 4
