Прибор для контроля шероховатости поверхности

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности по методу темного поля. Цель изобретения - уменьшение продольных: габаритов прибора за. счет применения в оптической системе прибора простых положительных линз. Прибор содержит установленные на одной оптической оси источник I излучения, положительные линзы 2 и 3 и регистратор 4. Линза 2 совместно с центральной зоной линзы 3 строят на контролируемой поверхности 5 изображение из- Случающей площадки источника 1 излучения . При отражении излучения от поверхности 5 часть лучей, лопадающая на поверхность, свободную от микроде- Лектов, отражается зеркально, а часть рассеивается на микродеЛектах и попадает на периферийную зону линзы 3, которая формирует в плоскости регистратора 4 изображение светлых микродефектов на темном фоне. Зеркально отраженные лучи через центральную зону линзы 3 и линзу 2 возвращаются обратно к источнику 1 излучения и на регистратор 4 не попадают. 1 ил. i (Л

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СО}.1ИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (51) 4 0 01 В 11/30

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

llO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Н A BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (2}) 4118615/24-28 (22) 13.06.86 (46) 15.05.88. Бюл. У 18

{71) Киевский политехнический институт им. 50-летия Великой Октябрьской социалистической революции (72) Л.А.Михеенко, И.С.Мельник и N.Í,Òèìàøåâà (53) 531 ° 715.27(088,8) (56) Авторское свидетельство СССР

В 951070, кл. G 02 В II/30, 1982.

Авторское свидетельство СССР

lI 1249325, кл. G Ol В li/30, 1985. (54) ПРИБОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ }}}ЕРОХОВАТОС

ТИ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности по методу темного поля.

Цель изобретения - уменьшение продольных габаритов прибора за счет приме„„SU„„1395946 A 1 нения в оптической системе прибора простых положительных линз. Прибор содержит установленные на одной оптической оси источник 1 излучения, положительные линзы 2 и 3 и регистратор 4. Линза 2 совместно с центральной зоной линзы 3 строят на контролируемой поверхности 5 изображение из лучающей площадки источника 1 излучения. При отражении излучения от поверхности 5 часть лучей, попадающая на поверхность, свободную от микродеАектов, отражается зеркально, а часть рассеивается на микроде*ектах и попадает на периферийную зону линзы 3, которая формирует в плоскости регистратора 4 изображение светлых микродеФектов на темном фоне. Зеркально отраженные лучи через центральную зону линзы 3 и линзу 2 возвращаются обратно к источнику 1 излучения и íà регистратор 4 не попадают. 1 ил.

1395946

ВНИИП11 Заказ 2485/40 Тираж 680 Подписное

Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измеритель-. ной технике и может быть использовано, в частности, для контроля шероховатости поверхности, 5

Цель изобретения — уменьшение продольных габаритов прибора за счет применения простой положительной линзы вместо сложной отрицательной линзы с отверстием, а также за счет того, что эквивалентное фокусное расстояние системы двух положительных линз меньme эвивалентного фокусного расстояния системы из положительной и отрицатель- ной линз. 15

На чертеже изображена принципиальная схема прибора для-контроля шеро ховатости поверхности.

Прибор содержит установленные на одной-оптической оси источник 1 излуI чения, положительные линзы 2 и 3 и регистратор 4.

Источник ) излучения совместно с 25 линзой 2 меньшего диаметра и с центральной зоной линзы 3 большего диаметра образуют короткофокусный осветительный канал, а регистратор 4 совместно с периферийной зоной линзы 3 30 большего диаметра образуют длиннофокусный приемный канал, апертура кото рого в пространстве предметов превышает апертуру осветительного канала.

Линзы 2, 3 могут быть плосковыпуклыми, двояковыпуклыми либо положитель. ными менисками, В качестве источника

1 излучения может использоваться миниатюрная лампа накаливания, но лучшие: 40 результаты дает применение светодиодов с узкой индикатрисой излучения.

Регистратором 4 может быть фотоприемник, позволяющий регулировать и оценивать величину отраженной от контра- 45 лируемой поверхности С рассеянной составляющей лучистого потока, либо обычный микроскоп, если целесообразно определение величины шероховатости по геометрическим характеристикам 50 визуально наблюдаемых микродефектов контролируемой поверхности 5.

Прибор работает следующим образом.

Расходящийся пучок лучей от источника 1 излучения, пройдя через положительную линзу 2 меньшего диаметра, попадает на центральную зону положительной линзы 3, которая преобразует

его в сходящийся пучок с центром на контролируемой поверхности 5 и строит на этой поверхности изображение излучающей площадки источника 1 излучения. При отражении излучения от конт-. ролируемой поверхности 5 часть лучей, попадающая на поверхность, свободную от микродефектов, отражается зеркально, а часть рассеивается на микродефектах шероховатой поверхности, Зеркальная составляющая отраженного по".. тока возвращается обратно к источнику 1 излучения через центральную зону линзы 3 и линзу 2 и в дальнейшем не рассматривается. Лучи, рассеянные на микродефектах, попадают на периферийную зону положительной линзы 2., которая формирует в плоскости регистратора 4 изображение микродефектов контролируемой поверхности 5. Так как в регистратор 4 попадают только те лучи,.которые. отражаются от микро дефектов, а лучи, отраженные от остальной поверхности, возвращаются обратно к источнику 1 излучения, то микродефекты наблюдаются в регистраторе 4 как световые объекты на темном фоне. Измеряя величину рассеян-..ной составляющей отраженного потока, например, фотоприемником или определяя геометрические параметры микро-.дефектов при визуальном наблюдении, можно судить.о классе шероховатости поверхности 5.

Формула и з обретения

Прибор для контроля шероховатости поверхности, содержащий источник излучения, положительную линзу, установленную по ходу излучения, и регистратор, отличающийся тем, что, с целью уменьшения продольных габаритов поибора, он снабжен второй положительной линзой, установленной между источником излучения и первой положительной линзой.