Устройство для проверки матричных запоминающих устройств

 

Класс 21е, 12

Лв )46870 ссср

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

11однн ная группа Л3 95

Е. И. Мамонов и В. Г. Ржанов

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРОВЕРКИ

МАТРИЧНЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ

Заявлено 25 января 1960 г. ва Хе 651838/26 в Комитс T II0 делам изобретений и открытий прп Совете Министров СССР

Опубликовано в «1аюллетене ссаос>ретений» сЪ 9 аа 1962 г.

Известные устройства, предназначенные для проверки матричных запоминающих устройств, не дают возможности производить всестороннее исследование сегнетоэлектрических матриц.

В описываемом устройстве возможность измерения коммутационных характеристик, степени униполярности диэлектрического гистерезиса и других специальных характеристик сегнетоэлектрических матриц достигнута подключением задающего генератора через логические элементы к триггеру, служащему для переключения каналов передачи импульсов, подаваемых на вход координатных шаговых искателей.

Блок-схема устройства изображена на чертеже.

Задающий генератор 1 с регулируемой частотой повторения импульсов соединен с логическими ключами 2 и 8 типа «И». Ключи 2 и У управляются одновибратором 4. В начальном состоянии одновибратора 4 ключ 2 открыт, а ключ 3 закрыт. Импульсы от генератора через ключ 2 поступают на логические ключи 5 и 6 типа «И», управляемые по одному из своих входов триггером 7. Один из ключей 5 пли б всегда открыт. Если вначале открыт ключ 5, импульсы с генератора 1 поступают на вход формирующего одновибратора 8 и на единичный вход триггера 9. Импульс переключения триггера 9 используется для запуска электронной линии задержки 10. Задержанный импульс запускает одновибратор 4 и поступает на счетный вход триггера 7, служаще10 для переключения каналов 11 и 12 и каналов И:и 14. Одновпбратор 4 коммутирует каналы 15 и 16. Длительность импульса одновибратора 4 должна быть больше, чем период следования импульсов генератора 1. В этом случае вследствие поступления на одновибратор 4

,àäåðæàííîãî линией 10 импульса выходной импульс одновибратора 4 по шине 16 через открытый ключ 17 типа «И» поступит на формирующий одновибратор 18 (переключатель 19 находится в положении 20).

После возвращения одновпбратора 4 в исходное положение ключ 2

¹ 146870 открывается, а ключ 8 закрывается. При этом импульсы через ключ 8 поступают на одновибратор 21 и на вход триггера 9. Процесс коммутации повторяется.

Импульсы, полученные на выходах одновибраторов 8 и 21 и одновибраторов 22 и 18, подаются на схемы 23 и 24 типа «ИЛИ». В результате объединения импульсов схемами 28 и 24 на шинах 25 и 2б получают две серии импульсов чередующейся полярности. Перек;почателем 19 полярность импульсов на шинах 25 и 2б может быть изменена на обратную, Амплитуды импульсов, снимаемых с выходов одновиораторов 8, 22, 21 и 18 регулируются раздельно, что дает возмо>кность получать требуемые амплитудные соотношения импульсов, подаваемых на выходной усилитель 27. Длительность импульсов также регулируется. Применение. регулируемой линии задержки 10, служащей для пересчета импульсов, дает возможность в широких пределах изменять количество импульсов в сериях. Выходной усилитель 27 подключен к входам координатных шаговых искателей, не показанных на чертеже и служащих для адресной селекции по координатам ХУ исследуемой матрицы, Осциллографируя импульсы считывания, определяют быстродействие коммутации сигналов сегнетоэлектрическими элементами матрицы, топографическую однородность матрицы, величину порогового поля и другие характеристики сегнетоэлектрических элементов. При замене выходного усилителя и формирующих элементов устройство может быть применено для испытания ферритовых матриц.

Предмет изобретения

Устройство для проверки матричных запоминающих устройств, содержащее задающий генератор, логические, схемы «И» и «ИЛИ», электронную линию задержки, триггеры, одновибраторы и координатные шаговые искатели, отл ич а и щеес я тем, что, с целью обеспечения универсальности использования и, в частности, экспериментального исследования сегнетоэлектрических матриц, задаюший генератор с регулируемой частотой соединен через логические схемы «И» с линией задержки, выход которой подключен к счетному входу триггера, служащего для переключения каналов передачи последовательности импульсов, параметры которых имеют установочные регулировки (по количеству, полярности, длительности и соотношению амплитуд), хо входам координатных шаговых искателей. № 146870

Составитель В. С. Козлов

Редактор Н. С. Кутафина

Техред А. А. Кудрявицкая

Корректор Е. Коган

Гипография ЦБТИ, Москва, Петровка, 14

Поди. к печ. 18.VI-62 г, Формат бум. 70 :;108, м Объем 0,26 пзд. л.

Зак. 6551 Тираж 1(100 Цена 4 коп.

ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Центр, М, Черкасский пер., д. 2/6.

Устройство для проверки матричных запоминающих устройств Устройство для проверки матричных запоминающих устройств Устройство для проверки матричных запоминающих устройств 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники и системах управления

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности, к устройствам хранения информации, и может найти приме нение в специализированных системах хранения и обработки изображений, в ассоциативных параллельных процессорах при решении информационно-логических задач, задач поиска и сортировки данных, в устройствах обработки сигналов в реальном масштабе времени

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству, содержащему схему обнаружения и исправления множественных ошибок

Изобретение относится к способам записи в энергонезависимую память и может быть использовано в приборах, осуществляющих хранение и обновление оперативной информации в процессе своей работы

Изобретение относится к устройствам тестирования электронных элементарных схем и групповых линий соединений

Изобретение относится к средствам для программирования/стирания электрически стираемых программируемых полупроводниковых постоянных запоминающих устройств

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к электронным запоминающим устройствам (ЗУ) с электрически программируемыми ячейками
Наверх