Магнитный дефектоскоп

 

Класс 42k 4боа

Р. : 148574

СССР

1 :

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная гриппа № 172

А., А. Романенко и Н, Г. Николаевская

МАГНИТНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

Заявлено 3 апреля 1961 г. за № 724561/25 в Комитет по,",ела а H."ñ6ðñòåíi,ii и открв:тий пр:i Совете 1!i!I стров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» ¹ 13 за 1962 г.

Известны магнитные дефектоскопы для контроля изделий постоянного сечения и неограниченной длины.

В этих дефектоскопах электромагнит, намагничивающий изделение, расположен под углом к оси изделия.

В предлагаемом дефектоскопе, с целью выявления дефектов, расположенных под любым углом к оси проверяемого изделия, полюса электромагнита выполнены передвижным и и расположены параллельно от изделия с двух сторон по его длине так, чтобы в зависимости от расстояния между полюсами изменялось напряжение магнитного поля и изделия.

На чертеже схематически изображена намагничивающая система, представляющая собой два электромагнита 1 с своеобразными полюсами 2 и общим магнитопроводом 8 Г-образной формы. Включаются катушки электромагнитов так, что магнитные потоки их складываются.

Полюса имеют определенные размеры и сдвинуты относительно друг друга таким образом, что между ними в определенной области существует магнитное поле, с помощью которого хорошо выявляются продольные и поперечные дефекты на проходящей между полюсами трубе. На чертеже указаны место 4 полива магнитной суопензией и»есто 5 осмотра, которые являются в данном случае строго определенными, чтобы чувствительность к продольным и поперечным дефектам была одинакова (чувствительность к продольным и поперечным дефектам можно регулировать раздельно).

Предмет изобр етения

Магнитный дефектоскоп для контроля изделий постоянного сечения и неограниченной длины, в котором намагничивающий изделие электромагнит расположен под углом к оси изделия, о т л и ч а ю щ и йЫ )48571 ся тем, что, с целью выявления дефектов, расположенных под любым углом к оои проверяемого изделия, полюса электромагнита выполнены передвижными и расположены параллельно оси изделия с двух сторон по его длине так, чтобы в зависимости от расстояния между полюсами изменялось направление магнитного поля в изделии, Составитель описания Е. С. Бредель

Редактор Е. Г. Манежева Текред А. А. Кудрявицкан Корректор Н. В. Щербакова

Поди к печ. 12Л 1-62 г, Фор м ат 6yм. 70Х 108 /и Объем 0,18 изд. л

Зак. 6277 Тираж 900 Цена 4 коп

ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2!6.

Типография ЦЬТИ, Москва, Петровка, 14.

Магнитный дефектоскоп Магнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при дефектоскопическом контроле ферромагнитных материалов и изделий
Наверх