Способ калибровки измерительных устройств

 

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - упрощение калибровки. Способ заключается в том, что на вход измеритель-, ного устр-ва подают M+l сигналов и измеряют на выходе измерительного устр-ва сигналы Р, , P,j затем изменяют величину сигналов на входе устр-ва в К раз и измеряют сигналы на его выходе , а коэф. нелинейности устр-ва определяют по формуле (/(Р),Р ... ьСрР , где Р не превышает М, а коэф. С, С,...,Ср определяют из решения системы уравнений. Калибровочная характеристика устр-ва определяется по формуле Р(Р) Cc/(P)-Hl-S P, где S - постоянная величина. Поскольку в способе не надо знать мощность на входе устр-ва, то нет необходимости использовать высокостабильные г-ры СВЧ.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТЬИЕСНИХ

РЕСПУЬЛИК

„.SU 14065

А1 (51)4 С 01 R 27 06

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTPM

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ц,-,;,.;.;,, 1.

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4106242/24-09 (22) 22.05.86 (46) 30.06.88. Бюл. У 24 (72) В.И.EApeMos и С.Ю.Лапунов (53) 621.317:621.396.67(088.8) (56) ТИИЭР В 1, т.74, )986. с.53-68.

ТИИЭР 11 4, т.бб, 1978, с.12. (54) СПОСОБ КАЛИБРОВКИ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ

УС ТРОИС ТВ (57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения— упрощение калибровки. Способ заключается в том, что на вход измеритель-. ного устр-ва подают М+1 сигналов и измеряют на выходе измерительного

ycTp sa mrHaabi P <,Р1 ° ° P«+ ° затем изменяют величину сигналов на входе устр"ва в К раэ и измеряют сигналы на его выходе Р, Р з,...,P<„<» а козф. нелинейности устр-ва определяют по формуле a (Р)С Р+С Р +...+ и

+С Р где P не превышает М, а коэф.

С „, С,,...,С определяют из решения системы уравнений. Калибровочная характеристика устр-ва определяется по формуле Р(Р)= (cC(P)+15 ° S Р, где Sпостоянная величина. Поскольку в способе не надо знать мощность на входе устр-sa, то нет необходимостй использовать высокостабильные r-ры СВЧ.

1406520

Р12 = КР22 + С1(КР2, 73 1(23 й

° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° e e ° ° ° а ° ° ° ° ° °

Рм» = KP) » + C „(KP2 »

22

)+...+С „(КР

e ° ° e e ° ° ° ° ° ° ° ° °

1м»1

P ) Р»1

Р 1Э

° ° ° ° 4 ° ° ° ° °

Р1.1 P+1 (2М+1 1М»1) калибровочная характеристика измерительного устройства определяется по фо,рмуле

Р(Р) = (4(P)+1)-S Р, где S — постоянная величина.

Составитель Е.Скороходов

Техред Л.Сердюкова Корректор М.Васильева

Редактор Ю.Середа

Заказ 3188/41

Тираж 772

Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к измеритель- налы Р12, Р11,...,Р1М»1, затем изменой технике и может использоваться няют величину сигналов на входе иэме ира калибровке измерительных уст- рительного устройства в k раз и иэмеройств, имеющих отклонения характе5 ряют cHгналЫ На eгО выходе F22 ° PC3 ристики от линейной. ...,Р2 м»1, а коэффициент нелинейнос-

Целью изобретения является упро- ти измерительного устройства опредещенке калибровки. ляют по формуле

Способ калибровки измерительных с(() = СР с((Р) = С,,1Р + С Р +.. ° +С P устройств заключается в следующем. 1О .P

,На вход измерительного устройства по- где P не превышает М, а коэффициенты, дают М+1 сигналов и измеряют на вы- С, С,...,С определяют иэ решения ходе измерительного устройства сиг- системы уравнений следующего вида: ! 2 ! KP22 + С1(КР P 12) * +С (КР 2 — P 12 )» !

Р,1 КР2 + C1(KP2з Р ) ...+CP(KP — P1» );

° e ° ° ° ° ° ° ° @ ° ° ° ° ° е ° ° в ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° ° °

ы

Р+1 P+1

1м»1 КР2м+м С (КР2м Р1м )+ +CP 2 + . Р1м»1 )

;калибровочная характеристика измери- cv М+1 сигналов на вход измерительного тельного устройства определяется по устройства и измерении сигналов Р

12 формуле Р2з,...,Р1м»1 на его выходе, о т л uf(P) =,(.((Р)+1) S Р, ч а ю шийся тем, что, с целью

,где S — - постоянная величина. упрощения калибровки, дополнительно изменяют величину сигналов в Е H8 надо знать мощнОсть на вхОде изме

,рительного устройства, то нет необства изме яют сигналы на его

;ходимости использовать высокостабиль-, 22 „2 2 »1

P Р ... P и коэффи и

:,ные генераторы СВЧ. линейности определяют по формуле

P формулаизoбре7енHя О(()1+2еСРР где P не превышает М;

Способ калибровки измерительных коэффициенты С1, С,..., С определяют у р йств, заключающиися в подаче ст ой

1,, > ..., p определяют ! из решения системы уравнений вида !

Способ калибровки измерительных устройств Способ калибровки измерительных устройств 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области радиоизмерительной техники

Изобретение относится к измерениям на СВЧ электромагн

Изобретение относится к технике измерения на СВЧ

Изобретение относится к технике измерений на микроволнах

Изобретение относится к радиоизмерительной технике

Изобретение относится к измерениям на СВЧ

Изобретение относится к технике высокочастотных измерений и обеспечивает повышение точности

Изобретение относится к области акустических и радиоизмерений и применяется для определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения листовых материалов и плоских поверхностей веществ

Изобретение относится к тестовому блоку базовой станции для тестирования базовой станции в мобильной системе связи, в частности к способу для измерения коэффициента стоячей волны для передающей антенны и приемной антенны, который может тестировать радиоблок базовой станции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованo для измерения полной входной проводимости антенн

Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения оконечных нагрузок в стандартных коаксиальных и волноводных каналах

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в радиопередающих устройствах

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств с стандартных каналах и для антенных измерений

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям радиофизических характеристик радиопоглощающих покрытий (РПП)

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при создании панорамных измерителей параметров СВЧ устройств
Наверх