Лазерная активная среда

 

Изобретение относится к квантовой электронике, к лазерным активным средам на основе монокристаллов с центрами окраски (ЦО). Цель изобретения - снижение порога генерации F+3 -центров при одновременном повышении оптической устойчивости F2 -центров. Для этого лазерная активная среда на основе монокристалла LiF(F2F+3) содержит концентрации рабочих центров, соответствующие коэффициентам поглощения на длине волны 460 мм в интервале 27-37 см-1 для F+3= 33-99 см-1 для F2 -центров, а коэффициент поглощения сопутствующих F3 -центров находится в интервале 0,01-2,3 см-1 на длине волны 380 мм. Лазерная активная среда LiF(F2, F+3) дает возможность получить одновременно генерацию на двух типах ЦО (F2, F+3) с расширением спектральной области генерации (516-750 мм). 2 ил., 1 табл.

Изобретение относится к области квантовой электроники, к лазерным активным средам на основе монокристаллов с центрами окраски (ЦО) и может быть использовано при создании плавно перестраиваемых по частоте квантовых усилителей и генераторов, работающих при комнатной температуре в области 520-750 нм. Целью изобретения является снижение порога генерации F3+-центров при одновременном повышении оптической устойчивости F2-центров в лазерной активной среде на основе монокристалла фтористого лития. Лазерная активная среда на основе монокристалла LiFc F2- и F3+-центрами содержит концентрации рабочих центров, определяемые коэффициентом их оптического поглощения на длине волны 460 нм в интервале 27-37 см-1 для F3+; 33-99 см-1 для F2-центров, а коэффициент поглощения сопутствующих F3-центров находится в интервале 0,01-2,3 см-1 на длине волны 380 нм. Нижние границы указанных значений коэффициентов поглощения рабочих центров обусловлены тем, что дальнейшее уменьшение концентрации F2 и F3+-центров повышает величины пороговых плотностей накачки до значений, при которых имеет место оптическое разрушение F2-центров. Нижняя граница коэффициента поглощения F3-центров соответствует минимально достигнутому значению коэффициента поглощения, полученному для лазерной среды LiF(F2, F3+) с указанной выше концентрацией рабочих центров. При концентрации F3-центров, соответствующей верхней границе указанных выше концентраций (2,3 см-1), порог генерации, как показали испытания, приближается к 150 кВт/см2. При превышении этого значения уже наблюдается разрушение F2-центров. Следовательно, дальнейшее повышение нецелесообразно. Верхняя граница указанного выше интервала концентрации (коэффициента поглощения) F3+-центров определяется потерями в области генерации F3+-центров. Дальнейшее увеличение коэффициента поглощения F3+-центров приводит к росту поглощения в спектральной области излучения этих центров и повышению порога. Поскольку крыло полосы поглощения F2-центров распространяется на спектральную область генерации F3+-центров, то первые центры вносят потери при генерации вторыми центрами. Так как верхний предел концентрации F3+-центров ограничен, и вместе с тем, необходимо обеспечить одновременную генерацию двух типов центров окраски, то концентрация F2-центров должна быть связана с концентрацией F3+-центров. Как показали эксперименты, при коэффициентах поглощения F2 до 99 см-1, соответствующих верхней границе их концентрации, еще наблюдается генерация на обоих типах ЦО с порогами не превышающими 150 кВт/см2. Это и определяет верхнюю границу коэффициентов поглощения F2 ЦО. Изобретение поясняется чертежами, где на фиг. 1,2 представлены спектры оптического поглощения и люминесценции лазерных активных сред LiF(F2, F3+). П р и м е р 1. Лазерная среда представляет собой монокристалл LiF, содержащий F2 = и F3+-центры. F2-центры включают в свой состав две анионные вакансии, с двумя локализованными на них электронами. Полоса поглощения F2-центров имеет максимум на m-441 нм, излучение - 680 нм. F3+-центры включают в свой состав три анионные вакансии с двумя локализованными на них электронами. Спектральные характеристики F3+-центров, соответственно погл = 458 нм, изл= 540 нм. Имея в распоряжении спектры и зная соотношение интенсивностей полос в спектрах люминесценции, определяют концентрации рабочих центров по формулам K = , K = Km-K, где Кm - суммарный коэффициент поглощения на длине волны 460 нм, см-1; I/I- соотношение интенсивностей люминесценции F2 = и F3+-центров, соответственно; /= 2,7 - соотношение квантовых выходов рабочих центров, определенное экспериментально. Они составили, в единицах коэффициента поглощения К на длине волны 460 нм: K+ = 27 см-1; K = 33 см-1. Коэффициент поглощения сопутствующих F3-центров на длине волны 380 нм; K = 0,01 см-1. На фиг. 1 (кривая 1) представлены спектральные характеристики данной среды. П р и м е р 2. Другая лазерная среда изготовлена на основе монокристалла фторида лития, содержащего рабочие центры в концентрации (кривая 2): K+ = 32,5 см-1; K = 49,0 см-1, а сопутствующие центры K = 0,38 см-1. П р и м е р 3. Еще одна лазерная среда изготовлена на основе монокристалла LiF, содержащего рабочие центры в концентрации (фиг. 2, кривая 3): K+ = 37 см-1; K= 99 см-1, а также сопутствующие центры K = 2,3 см-1. П р и м е р 4. Лазерная среда изготовлена на основе монокристалла фтористого лития, содержащего рабочие центры в концентрации (кривая 4): K = 48 см-1, K = 135 см-1. Коэффициент поглощения сопутствующих F3-центров K = 4,2 см-1. Лазерные элементы выполнены в форме параллелепипедов из кристаллов, окрашенных облучением сильноточными импульсами электронов с длительностью 10 нс, энергией до 0,3 МэВ. При этом глубина проникновения электронов составила 300 мкм. За один импульс вводили в кристалл через поверхность 1 см-2 1,66 х 1013 электронов. Облучение проводили при комнатной температуре. Дозу для различных лазерных сред устанавливали различной, варьируя количество импульсов облучения. Лазерные элементы имели следующие размеры: 10 х 5 х 3 мм3. Исследуемый элемент выполнен на основе единого монокристалла, содержащего окрашенный слой толщиной 300 мкм и неокрашенную часть. Окрашенный слой, содержащий рабочие центры, прилегал к грани лазерного элемента размером 5 х 10 мм2. Оптическая плотность слоя D на = 460 нм измерялась с помощью спектрофотометра MPS-50L. По измеренному значению D с учетом спектров люминесценции находился коэффициент поглощения рабочих центров. Характеристики лазерных элементов приведены в таблице. Коэффициенты поглощения всех описанных предложенных элементов в спектральной области генерации 516-750 нм, характеризующие потери, не превышали 1 см-1. Малое значение отношения Р/К характерно для предложенных лазерных сред, поскольку условия облучения не способствовали образованию сложных агрегатных центров. В таблице приведены также значения пороговой плотности мощности накачки в схеме лазера с поперечной накачкой. Для накачки использовалась вторая гармоника перестраиваемого лазера на F2+-центрах в LiF-OH с = 457 ем, который накачивался лазером на рубине. Как следует из приведенных данных при коэффициенте K+ = 27-37 см-1 и K = 33-99 см-1, а также концентрации сопутствующих центров K = 0,01-2,3 см-1 порог накачки находится в интервале 60-150 кВт/см2. Вместе с тем из таблицы следует, что при значениях K+ = 27 см-1и K = 33 см-1 величина порога плотности мощности накачки F3+-центров приближается к предельному значению, превышение над которым приводит к снижению оптической устойчивости F2-центров. Следовательно, дальнейшее уменьшение концентрации рабочих центров не целесообразно. Для лазерной среды с K+ = 37 см-1 и K = 99 см-1 порог генерации F3+-центров достигает 150 кВт/см2 в связи с ростом потерь в области генерации F3+-центров в спектрах поглощения (см. фиг. 2, кривая) начинают проявляться агрегатные центры R (380 нм) с коэффициентом поглощения в максимуме K = 2,3 см-1 и N (520, 550 нм) - центры). Поэтому следует ограничиться значениями K+ = 27-37 см-1 и K = 33-99 см-1. Изменения соотношения интенсивностей люминесценции рабочих центров в пользу F2-центров и рост потерь в области генерации F3+-центров приводит к тому, что наблюдается генерация только в красной области спектра. Примером является лазерная среда с K+ = 48 см-1 и K = 135 см-1; K = 4,2 см-1. Для описанных лазерных элементов минимальное значение пороговой плотности мощности накачки для F3+-центров составило 60 кВт/см2. Минимальная пороговая энергия накачки F3+-центров - 45 мкДж. Более низкий порог позволяет работать в области малых плотностей мощности накачки (до 150 кВт/см2), благодаря чему повышается устойчивость F2-центров. Таким образом, предлагаемая лазерная среда на основе монокристалла фтористого лития с F2 = и F3+-центрами окраски, дает возможность значительно снизить порог генерации F3+-центров, получив одновременно генерацию на двух типах ЦО (F2, F3+) с расширением спектральной области генерации (516-750 нм).

Формула изобретения

ЛАЗЕРНАЯ АКТИВНАЯ СРЕДА на основе монокристалла фтористого лития с F2= F+3 -рабочими и сопутствующими F3 - центрами, отличающаяся тем, что, с целью снижения порога генерации F+3 - центров при одновременном повышении оптической устойчивости F2 - центров, концентрации рабочих центров соответствуют коэффициентам оптического поглощения на длине волны 460 нм в интервале 27 - 37 см-1 для F+3 -, в интервале 33 - 99 см-1 для F2 - центров и в интервале 0,01 - 2,3 см-1 на длине волны 380 нм для F3 - центров.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области квантовой электроники, к лазерам на центрах окраски в кристаллах

Изобретение относится к лазерной технике, лазерным веществам на основе оксида алюминия с примесью титана и может использоваться для изготовления активных элементов перестраиваемых лазеров с различными системами накачки

Изобретение относится к области квантовой электроники, а именно к способам изготовления оптических элементов, служащих для генерации и усиления перестраиваемого по частоте излучения, а также управления параметрами излучения лазеров

Изобретение относится к области квантовой электроники, к лазерам на центрах окраски

Лазер // 1316530
Изобретение относится к области квантовой электроники, а именно к конструкции активного лазера , и может быть использовано при создании твердотельных лазеров

Изобретение относится к области квантовой электроники и может быть использовано для создания активных элементов и пассивных затворов в лазерах

Изобретение относится к квантовой электронике, а именно к технологии изготовления оптических элементов

Изобретение относится к области квантовой электроники, а именно к конструкции активного элемента лазера, и может быть использовано при создании лазеров на красителях в твердой матрице

Изобретение относится к квантовой электронике, а именно к материалам для лазерной техники и предназначено для применения в твердотельных лазерах с длиной волны стимулированного излучения в интервале от 1,9 мкм до 2,0 мкм

Изобретение относится к области оптоэлектроники и интегральной оптики, в частности к способу получения направленного когерентного излучения света устройствами микронного размера

Изобретение относится к области лазерной техники и промышленно применимо в перестраиваемых лазерах для целей волоконно-оптической связи и спектроскопии

Изобретение относится к оптической схеме для ослабления оптического шума

Изобретение относится к области лазерной техники и более конкретно - к лазерным медицинским инструментам для стоматологических, дерматологических, оторинологических применений, в том числе с использованием эндоскопов
Изобретение относится к получению нового сложного оксида на основе иттрия и алюминия, являющегося перспективным материалом для оптоэлектроники

Изобретение относится к материалам для лазерной техники, а именно к монокристаллическим материалам, предназначенным для получения активных элементов твердотельных лазеров
Наверх