Способ получения поляризованного пучка нейтронов

 

С0О8 СОВЕТСЙИМ

СОЦ иЛИСТВИЕСМИХ

РЕСПУБЛИК

ПЕ (В (51}5 G 01 Ж 1 32 3 00Ъ М" f!- . ; i (Й1

>();<, А

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К A ВТОРСКОМЪ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТНЕННЬЙ КОМИТЕТ СССР

re ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕ+ 1 И ОТКРЫтж (46} 15. 12. 90. Рвл. Ф 46 (21) 4 160153j31-25 (22) 12.12.86 (7I) Обьединенкьй институт ядерная исследований (72) В,K. Игнатович, M.È. Подгорец« кий и И.И. Цулая (53) 539.12.135(088.8) (56) Hughes D. Burgy M. ЕеИесйСоа ох netttrons from magnetized mirrors

Physical Review, 1961, v. 81, иоЗ, р. 498.

Абов Ю.Г., Гунько А. Д., Кручицкий П.А. Поляризованные медленные нейтроны. И. . Атомиздат, 1966; с.84. (54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ПОЛЯРИЗОВАННОГО БАЧКА НЕЙТРОНОВ (57) Изобретение относится к технике получения пучков поляризованных нейтрояее н иохет быть, использовано в экспериментах по нейтронной.физике.

Цель изобретения — повышение степени поляризации пучка нейтронов. Способ заключается в брэгговскои отрвкении падающего пучка нейтронов от намагниченного внеииии магнитным полем кристалла с близкиии значениями ядерной и магнитной амплитудами рассеяния.

Повышение степени поляризации пучка нейтронов достигается уменьшением разности абсолютных значений ядерной и магнитной амплитуд. указанное у . ень шение дбусловлеко выборои величины внешнего магнитного поля и температуры христалла, которые соответствуют точке скачка производной на &рафике

-завксимостк интенсивности отраженного . пучка нейтронов от величикы внешнего Е . магнитного воля. Реализация предложения позволяет повысить степень поля" ризацик tl ka tIO СравнениЮ С ИзВеСТ- ( ными примерно на два порядка. 2 ил.

1412480

Сущность предложения состоит в

-следующем, Отраженный пучок нейтронов с интенсивностью I содержит нейтроны,l0

46 энергии отраженного пучка, в узком спектральном интервале поляризация отраженного пучка может составлять величину, отличающуюся от единицы

:не более чем на 10 4.

Реализация изобретения позволяет повысить степень поляризации нейтро;. нов примерно на два порядка.

55

Изобретение относится к технике получения пучков поляризованных ней" тронов El может быть использовано в экспериментах по нейтронной физике °

Цель изобретения — повышение степени поляризации пучка нейтронов путем уменьшения разности абсолютных значений ядерной и магнитной амплитуд.

На фиг. показана схема получения поляризованного пучка нейтронов; на фиг. 2 зависимость полной интен сивности отраженных нейтронов от величины внешнего магнитного поля. На фиг. f использованы следующие обозначения: С вЂ” кристалл, D — детектор, I — интенсивность падающего пучка нейтронов, Е " интенсивность î-раженного пучка нейтронов, кристалл С помещен во внешнее магнитное поле В

I — интенсивность прошедшего пучка нейтронов. Иа фиг. 2 использованы обозначения; I — интенсивность отраженного пучка нейтронов, В - внешнее магнитное поле,  — значение внешнего магнитного поля В, соответствующее точке скачка производной; цифрами по осям абсцисс и ординат обозначены значения внешнего магнит- 3 ного поля и интенсивности отраженного пучка нейтронов в относительных . единицах.

Получение поляризованного пучка нейтронов предложенным способом заключается в следующем, Падающий пу чок нейтронов с интенсивностью Io

1 претерпевает брзгговское отражение от намагниченного внешним магнитным полем В кристалла С с ядерной Ь11 и магнитной b амплитудами рассеяния нейтронов, различающимися не более чем на 2Х причем используют кристаллы, в которых модуль магиитнбй амплитуды Ь при абсолютном насыще-. нии больше модуля ядерной амплитуды

Ь > Измеряют зависимость интенсивно.сти отраженного пучка нейтронов I от величины внешнего магнитного поля

В и температуры Т кристалла, Определяют точку скачка производной на графике зависимости отраженного пучка нейтронов I< от величины внешнего. магнитного поля В, устанавливают значение температуры кристалла Т Т, а внешнего магнитного поля В В, которые со<ответi:òâóþò найденной точке скачка пронзнопной и осушествляют брэгговское отражение нейтронов при данных температуре кристалла и значении внешнего магнитного Ноля. обеих поляризаций Е + и I, причем

Е + + Е». Степень поляризации равна р Е /I . Чтобы повысить р необходимо уменьшить I ». I будет равно О, когда } b j I Ъ 1, что соответствует точке скачка производной на графике зависимости интенсивности отраженного пучка нейтронов I от величины внешнего магнитного поля В.

Чтобы модуль магнитной амплитуды Ьм наблюдался при полном насыщении, модуль магнитной амплитуды b должен быть больше модуля ядерной амплиту ды b . Для выполнения этого условия необходим соответствующий химический состав кристалла. Однако, если b значительно превосходит Ь, то излом тоже не наблюдается, поскольку внеш" нее магнитное поле В можно менять только в пределах технического насыщения. Для расШирения этой области необходимо увеличить температуру кристалла Т, чтобы приблизиться к точке Кюри. При температуре кристалла ТТ, а внешнего магнитного поля

В=В, соответствующих точке скачка

Ф .производной Е «I+ и р=1. При получении поляризованного пучка нейтронов с использованием кристалла кобальта с примесью 87. железа, намагниченного до.технического насыщения и нагретого.до. температуры, близкой к температуре перехода в парамагнитную фазу при хорошей коллимации первичного пучка и дополнительной селекции по

Формула из обретения

Способ получения поляризованного ! пучка нейтронов путем осуществления брэгговского отражения нейтронов от намагниченного внешним магнитным по. лем кристалла с ядерной и магнитной амплитудами рассеяния нейтронов, различающимися не более чем на ZX, о т"!

2480

44а1

Составитель В. Костерев

ТехРед Л.Олийнык; l Корректор В. Романенко

Редактор Т. Шагова

Тираж 360 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 4335

Вф

Производственно-полиграфическое предприятие, р. Vxropoä, ул. Проектная, 4

3 !4 лич ающийс я тем, что, сцелью повышения степени поляризации пучка нейтронов путем уменьшения разности абсолютных значений ядерной и магнитной амплитуд, используют кристаллы, в которых модуль магнитной амплитуды при абсолютном насыщении больше модуля ядерной амплитуды, измеряют зависимость интенсивности от-= раженного пучка нейтронов от величины внешнего магнитного поля и темнературы кристалл :.,: пререляют точку скачка производной на графике зависимости ин-. тенсивности отраженного пучка нейтронов от величины внешнего магнитного поля, устанавливают значения температуры кристалла н внешнего магнитного поля, соответствующие найденной точке скачка производной и осуществляют

1О брзгговское отражение нейтронов при данных температуре кристалла и значении внешнего магнитного поля.

1

I

Способ получения поляризованного пучка нейтронов Способ получения поляризованного пучка нейтронов Способ получения поляризованного пучка нейтронов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике регистрации нейтронов и может быть использовано при определении плотности и флюенса импульсных потоков нейтронов на ядерных реакторах

Изобретение относится к области нейтронной физики и может быть использовано для измерений потоков нейтронов и юс спектральных характеристик в радиационной медицине, физических исследованиях

Изобретение относится к технике измерения ядерных излучений, более конкретно к блокам детектирования эк Бивалентной дозы смешанного гамманейтронного излучения

Изобретение относится к методам контроля работоспособности нейтронных приборов и может быть использовано в атомной энергетике

Изобретение относится к радиационной технике и может быть использовано в детекторах мощноаи дозы Устройство позволяет повысить точность регистрации мощности дозы, создаваемой нейтронным излучением в тканеэгаивалентных материалах

Изобретение относится к спектрометрии нейтронного излучения и может быть использовано для определения энергетического спектра нейтронов из источников на основе (Р,п) реакции

Изобретение относится к приборам для определения поляризационных характеристик ферромагнитных пленок на ультр4холодных нейтронах

Изобретение относится к способу определения дозы нейтронов с помощью ядерных фотоэмульсий и может быть использовано для индивидуального дозиметрического контроля

Изобретение относится к ядерным методам контроля физических.параметров пучков фотонов и может быть использовано при рабх5те с пучками нов

Изобретение относится к области экспериментальной ядерной физики

Изобретение относится к приборам для определения поляризационных характеристик ферромагнитных пленок на ультр4холодных нейтронах

Изобретение относится к физике электромагнитного излучения и может найти применение для измерения рентгеновского излучения при исследованиях высокотемпературной плазмы, взаимодействии высокоэнергичных частиц с веществом, в медицине, в рентгеноструктурном анализе, в радиографии, рентгеновской микроскопии, производстве микросхем
Наверх