Устройство для измерения размера пятна электронно-лучевой трубки

 

Изобретение относится к электрониоС технике. Цель изобретения - повышение точности и скорости измерения. Для этого в устройство для измерения размера пятна электронно-лучевой трубки (ЭЛТ) введены усилитель 7 фототока с регулируемым коэффициентом передачи, генератор 8 тактовых импульсов, триггеры 9 и 13, дифференцирующая цепочка 10, переключатель 14, усилитель 15 отклонения с регулируемым коэффициентом усиления и смещения, пиковый детектор 17, осциллограф 12, вольтметры 16 и 18 и формирователь 11 импульсов подсве- -- ки, выполненный с регулируемым по амплитуде и длительности выходным импульсом. 1 3. п. ф-лы, 5 ил. S сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (50 4 Н 01 J 9 42

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

flO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ,.1

OllHCAHHE ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АBTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4120600/24-2! (22) 18.09.86 (46) 5.08.88. Бюл. № 30 (71) Львовский политехнический институт им. Ленинского комсомола (72) 3. Д. Грицкив (53) 621.385 (088.8) (56) Миллер В. А., Куранин А. Л. Приемные электронно-лучевые трубки. М.: Энергия, !

971, с. )77

Бонштедт Б. Э., Маркович М. Г. Фокусировка и отклонение пучков в электроннолучевых приборах. М.: Советское радио.

1967, с. 204.

Л0„„417078 А 1 (54) УСТРОИСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

РАЗМЕРА ПЯТНА ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВОЙ ТРУБКИ (57) Изобретение относится к электронной технике. Цель изобретения — повышение точности и скорости измерения. Для этого в устройство для измерения размера пятна электронно-лучевой трубки (ЭЛТ) введены

v ñHëèòåëь 7 фототока с регулируемым коэфФициентом передачи, генератор 8 TdKTDBblx импульсов, триггеры 9 и 13, дифференцируюшая цепочка 10, переключатель 14, усилитель 15 отклонения с регулируемым коэффициентом усиления и смешения, пиковый детектор 17, осциллограф 12, вольтметры 16 и 18 и формирователь 11 импульсов подсвегки, выполненный с регулируемым по амплитуде и длительности выходным импульсом.

1 з. п. ф-лы, 5 ил.

141

Изобретение относится к электронной технике, в 1астности к устройствам измерения разрешающей способности электроннолучевых трубок (ЭЛТ).

Целью и:>обретения является повышение точности и скорости измерения размера пятна н» экр»не испытуемой ЭЛТ.

Н» фиг. l изображена структурная схема предлаг»емого устройства; на фиг. 2 — диаграммы, >н>ясняющие работу устройства; на фиг. 3 графики, поясняющие работу устройства при калибровке отсчета уровня яркости в пятне; на фиг. 4 — графики, поясняющие р»боту устройства при измерении размера нят>1»; на фиг. 5 — осциллограммы при н Ilpавильной (а) и правильной (б) настройке устройства.

Устройство включает в себя электронно.Iучевук> трубку 1 (ЗЛТ) с отклоняющей системой 2, расположенные перед экраном

:-). 1Т 11 одной оси проекционный ооъектив 3, 1>>пическуI(> 1цель 4, конденсор 5 и фотоприемник 6, усилитель 7 фототока, а также генератор 8,»ктовых импульсов, первый тригг> р >!,,I>íi>ôI.ðåHI>,èðóþùóþ цепочку 10, формирователь 11 импульсов подсвета, осциллогp>I(;,2, второй триггер 13, переключатель 14, усII)IHòåëü 15 отклонения, первый и>льтметр (6, пиковый детектор 17 и второй вольтметр 18. ((ри этом генератор 8, триггер 19, и це1»о->к» 10 соединены последовательно, выход дифферснцирую>цеи цепочки 10 соединен с вх1>до)1 формирователя 11, выход которого

11 >.1кл>о Icll к катодно- модулятор ному узлу

>1>уб>к>: l, и с синхровходом осциллографа 12 и 1)х»дом Ip»I I.cpa 13, выход которого через

>к рек, к>чатсль 14 подключен к входу усили;с,>я . >>, нь>ход которого нагружен на систему 2 и вольтметр 16, а выход усилителя 7

>н>дключен к сил>альному входу осциллографа !2 и входу детектора 17, выход которого соеди>>сн c вольтметром 18.

Устройство работает следую>цим обр»»оbi.

В режиме калибровки измерителя уровня

>яркости пят»» переключатель 14 находится в р»з1>мк>>утом состоянии. Выходные импульсы гс>>ератора 8 тактовых импульсов (фиг. 2)

>н)ступак)т на вход первого триггера 9, в резульгате чего на выходе последнего формирук>тся импульсы прямоугольной формы (фиг. 2). Поступая на дифференцирующую цепочку 10. эти импульсь> преобразуются в короткие импульсы различной полярности для переднего и заднего фронта входных импульсов (фиг. 2); поступая на формирователь 11 импульсов подсвета, отрицательные входные импульсы вызывают периодическое срабатывание формирователя импульсов подсвета, в результате чего на экране

ЗЛТ возникает неподвижное излучаюгцее пятно. 1!роекционный обьектив 3 создает изображение пятна в плоскости щели 4, ширина которой выбирается существенно мень7078

1О !

2 ше размера пятна. Прошедшее щель излучение собирается конденсором 5 на фоточувствительном слое фотоприемника 6. Выходной сигнал фотоприемника 6, представляющий собой импульсы, следующие с периодом импульсов подсвета, сформированных формирователем 11, усиливается усилителем

7 фототока и затем детектируется детектором 17, выходное напряжение которого измеряется вольтметром 18. На фиг. За показано распределение яркости в исследуемом пятне по оси х. Если путем регулировки смещения усилителя 15 центр пятна совместить с центром щели, то выходные импульсы усилителя фототока будут иметь наибольший размах, соответствующий U,„(ôèã. Зб). Регулировкой коэффициента передачи усилителя 7 устанавливается напряжение, соответствующее стопроцентному уровню яркости в пятне.

В режиме измерения размера пятна переключатель 14 переводится во включенное состояние. В результате, выходные импульсы триггера 13, запускаемого положительными импульсами со входа дифференцирующей цепи (фиг. 2), поступают на усилитель 15 отклонения и формируют в отклоняющей системе 2 ток (фиг. 2). В соответствии с этим током пятно на экране отклоняется в два смежных положения так, что возникает изображение двух расположенных рядом пятен.

Расстояние между пятнами определяется размахом тока, который регулируется усилением усилителя 15 отклонения. На фиг. 4а показано распределение яркостей в двух расположенных сравнительно близко пятнах так. что они уже перекрываются. Регулировкой смещения усилителя 15 пятна выводятся в симметричное положение относительно щели и тогда на выходе усилителя 7 возникают импульсы, амплитуда которых соответствует точке пересечения кривых распределения яркостей (фиг. 4б). Если U принято за 100О,">-ный уровень яркости, то амплитуда импульсов U дает выраженный в процентах уровень, на котором производится измерение размера пятна. Размер пятна на этом уровне показан на фиг. 4а отрезком D, который равен расстоянию i, между пятнами, которое определяется размахом сигнала на выходе усилителя 15. Следовательно, вольтметр 16 может быть прокалиброван непосредственно в значениях размера пятна.

При измерениях важно, чтобы пятна были симметрично расположены относительно щели. Для контроля положения пятен используется осциллограф 12. В соответствии с предлагаемым способом синхронизации осциллографа на его экране наблюдается наложенное изображение импульсов от двух пятен. Если пятна будут смещены относительно центра щели несимметрично, то вершина импульса будет раздвоенной, как показано на фиг. 5а. Требуемому положению пятен соответствует фиг. 5б.

1417(77<

Фор.)(у

Схема построена так, что чмп) il>0!)I HÎ I.— света подаются на ЭЛТ ii(: Око:.чании переходного процесса отклоне!!ия луч;i, что повышает точность измерения.

В качестве формирователя 1! импульс(>в подсвета целесообразно использовать мультивибратор с регулируемой !!мпг!ит лой выход(ного импульса. Изменение параметров времязадаю(цей цепочки мула гивибратора позволяет регулировать также длительность импульса. Тем самым можно измерять размер пятна в различных режимах возбуждения люминофора по интенсивности и времени, исключить влияние послесвечения люминофора.

Таким образом, предлагаемое устройство позволяет получать значение размера пятна на заданном уровне распределения яркосги в нем. Введение новых элементов выгодно отличает предлагаемое устройство от известного -- отпадает необходимость вычисления размера пятна по параметрам контрастночастотной характеристики, так как этот размер считывается непосредственно по HH THкатору вольтметра. Одновременно другой вольтметр указывает уровень яркости, на котором производится определение размера пятна. Выполнение усилителя отклонения с регулируемым смещением позволяет иссле7товать размер пятна в любой точке экрана ЭЛТ. Выполнение формирователя импульсов подсветки с регулируемыми иBpHметрами выходных импульсов расширяет возмо>кность по исследованию ЭЛТ в различных режимах возбуждения экрана и позволяет повысить скорость и точность измерений.

1. 5 (. трои(. THÎ I„IH и3х1ерс ни я разм(1)а пЯтна э, 1(l(T p 0 H H o -. 1 >> (> H0(,!Е;(OB«11C, lbHO Ра(. ИО.(ОЖС HHbl(> и<1 0.(— ной (>си перел экраном трмбки проекционный объектив, оптическую щель, конленсор и фотоприемник, выхол которого электрически соединен с в;олом усилителя фототок;! с регулируемым коэффициентом перелачи, от.!и10 <(а)оцес(» тем, что, с целью новы!цсния то(ности и скор()сти измерения, в него вне,леHI>l последовательно соелн!)енные генер(!Тор т(! 1.—

To!)I>Ix H lHульсов, первый триггер, лиффсре 1цирмк)ц(()я цепочка, второй триггер, !!срок ll(>

15 мыми коэффициентом усиления и сме!ц«ния, а также формирователь импульсов полсвета, пиковый детектор. осl(H717!Oãðиф, первый второй вольтмстры, при этом вы. Ол лиффсР(lil(liPS К)и(Ей H(>ПО)ihH COC .IHHC и С 1!ХО (ОМ

QQ формировl холе которого расположены клем мы 1,151 ц0.100(..ill н(н ИЯ h каТОДHO-Молу, I HTOp HO)13 х з,!х э.l(. к) poHHO .1>> <(ево!! тръ бки, и с (H H ) 1>0

Bx0,(0м Ос циллографа, в Ixo;(>, OH)IH 1 сх l)l 01 h,1011 HI!)i с 0(IHHCH (. ПЕРВЫХ) ВО lbl М(! P()>1 и <. н <1 б> ж (11 I(, 1(м м а м и;(, 1 Я и 0 л((> е, (H H (H H 51 к откло !як>п>ей системе электронно-,!уч H(й

ТРХ (>КИ. 1ХОЛ 5)CH.1ИТ(.1Я (1)ОТОТОК<1 \ 0(.,(И ! к и с . игна IHHI>IXI входом 0(циллогр;)ф,! вхо(ом пикового детектора, выхол ко!Орого

H0 (кл к) чен к второму вол ьтметру.

2. Уст170!)ст(3(7 по H. 1, ()т.ill

1417078

Составитель В. Постовалов

Редактор Т. Парфенова Техред И. Версс Корректор С. Черни

Заказ 4072/51 Тираж 746 Подписное

В11ИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” -35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфицсское предприятис, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для измерения размера пятна электронно-лучевой трубки Устройство для измерения размера пятна электронно-лучевой трубки Устройство для измерения размера пятна электронно-лучевой трубки Устройство для измерения размера пятна электронно-лучевой трубки 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области электротехники, в частности к газоразрядным лампам низкого давления

Изобретение относится к электронной технике

Изобретение относится к электротехнике , в частности к производству металлогалогенных ламп (МГЛ)

Изобретение относится к технике, измерений электрических величин, а также к технике измерений или испытаний в процессе изготовления электронных приборов и может быть использовано в импульсных сильноточных электронных приборах с магнитным удержанием пространственного заряда, используемых в электронной технике и физическом эксперименте

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано при испытаниях электродов газоразрядных ламп

Изобретение относится к производству газоразрядных приборов и источников света и может быть использовано для контроля качества разрядных трубок

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх