Патент ссср 158311

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСА НИЕ

ИЗОТ РЕТЕНИЛ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Х0 158311

Класс 21а>, 71

МПК О 01

Заявлено 26.XI.1962 (№ 803901!26-9) ГОСУДАРСТВЕННЫИ

КОМИТЕТ ПО ДЕЛАМ

ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИИ

СССР

Опубликовано 1ееХ.1963. Бюллетень № 21

И СЫСФВЗйаЯ

1 1 НАтеитнВ

А. С. Шерешевский ТКХБИЧЕСКЛЯ

М, ива

СПОСОЬ КОНТРОЛЯ ПЕРИОДИЧЕСКИХ СТРУКТФФ вЂ” ——

Подтсная грг1тга Л9 89

Предмет изобретения

Определение периодически повторяющихся дефектов при контроле периодических структур, например замедляющих систем электронных приборов СВЧ диапазона затруднено и сопряжено со значительным усложнением и удорожанием этих приборов.

Отличительной особенностью предлагаемого способа контроля периодических структур является то, что световой поток, прошедший через исследуемую структуру, оптически умножают и интегрируют. Для этого используют принцип получения спектра как взаимной корреляционной функции исследуемой структуры и переменной эталонной частоты, получаемой с помощью двух дифракционных решеток одинакового периода, наложенны.. одна на другую и равномерно поворачиваемых одна относительно другой. Это позволяет быстро и достаточно точно обнаружить периодические дефекты в шаге замедляющих систем электронных приборов СВЧ.

На чертеже изображена схема устройства для осуществления описываемого способа.

Световой поток от источника 1 и конденсора 2 проходит через исследуемую структуру > и две дифракционные решетки 4, после чего фокусируется объективом 5 на катод фотоумножителя б. Напряжение с нагрузочного сопротивления фотоумножителя подается на самописец 7.

При повороте решеток одна относительно другой меняется эталонный период, достигающий ряда значений от минимального до максимального. При совпадении эталонного периода с какой-либо периодичностью шага исследуемой структуры на фотоумножителе возникает импульс. который фиксируется самописцем в виде пика записи..

Если исследуемая структура, например спиральная или штыревая замедляющая система для приборов СВЧ, изготовлена точно, то на спектрограмме получится один пнк записи.

При наличии периодически повторяющихся дефектов появятся дополнительные пики, соответствующие периодам дефектов структуры.

Описанный способ контроля является объективным, высокопроизводительным, не требует применения сложной аппаратуры и позволяет повысить качество электронных приборов СВЧ.

Способ контроля периодических структур, например спиральны.; или штыревых замедляющих систем для приборов СВЧ, с помощью светового потока, отличающийся тем, что, с целью быстрого и точного обнаружения периодических дефектов нгага, световой поток, прошедший через исследуемую структуру, оптически умножают и интегрируют, используя в качестве эталонной периодической структуры с переменным периодом две дифракционные решетки одинакового периода, наложенные одна на другую и равномерно поворачиваемые одна относительно другой. № 158311

Составитель Л. Рубинчик

Редактор И. Дубровская Текрсд T. П. Курилко Корректор А. А. Панькова

Поди. к печ. II Õ вЂ” 1963 г Формат бум. 60 >< 90 /в Объем 0,23 изд. л.

Заказ 2643, !О Тираж 925 Цена 4 коп.

Цl!ИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д, 4, Типография, пр, Санунова, 2