Способ контроля технологических дефектов в листовых светопроводящих армированных пластиках

 

Изобретение относится к области оценки уровня технологических дефектов и исследования физико-механических свойств композитных армированных светопропускающих материалов. Целью изобретения является повышение точности оценки технологических дефектов. Способ контроля заключается в том, что образец нагружают путем растяжения под углом 45° к оси светопропускающих волокон, а просвечивают образец вдоль волокон и регистрируют зависимость светопропускания от приложенной нагрузки. В качестве первого параметра оценки уровня технологических дефектов принимают напряжение, возникающее в нагруженном образце в момент первоначального снижения светопропускания. Вторым параметром оценки уровня дефектов выбирают напряжение в нагруженном образце, соответствующее началу стадии линейного снижения светопропускания образца. Полученные параметры сравнивают с эталонными напряжениями, соответствующими выбранным значениям светопропускания. При отнулевом циклическом растяжении в качестве предельного выбирают напряжение, превышающее первый параметр на 4-6%. В качестве критерия для оценки уровня технологических дефектов в этом случае выбирают число циклов растяжения, соответствующее началу линейного участка падения светопропускания испытуемого образца. Полученное число циклов нагружения сравнивают с известным эталонным значением.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

ЕЕСПУБЛИН.(19) (И) ($1) 4 G 01 N 21/88

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И OTHPb(THAM

ПРИ ГКНТ СССР

Н А BTOPCKGMY СВИ4ЕТЕЛЬСТВУ (21) 4300240/24- 10 (22) 27.08.87 (46) 15.08.89. Бюл. Ф 30 (7 1) Институт механики AH УССР (72) В.Ф.Шленский, Д.-В.А.Марчюленис, А.-А.Ю.Суткус и В.Г.Перевозчиков (53) 620. f79.15(088.8) (56) Сандалов А.В., Лейт В.А., Медведев М.З. Возможность использования

I светопропускания для неразрушающего контроля армированных пластиков. — Механика полимеров. Рига, 1975, N 3, с.563-565.

Шленский В.Ф. Оптический метод исследования разрушений в светопластиках при постоянных и переменных нагрузках. — Физика и химия обработки материалов. M. 1979, М 5, с.115—

119 °

Ривкинд В.Н. Изменение светопрозрачности стеклопластиков под действием механических нагрузок. — В кн.: Свойства полиэфирных стеклопластиков и методы их контроля. Л.:

Судостроение. Вып. 2, 1970, с.142—

150. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ

ДЕФФЕКТОВ В ЛИСТОВЫХ СВЕТОПРОВОДЯЩИХ

АРМИРОВАННЫХ ПЛАСТИКАХ (57) Изобретение относится к, оценке уровня технологических дефектов и исследованию физико-механических свойств композитных армированных светопронускающих материалов. Целью

Изобретение относится к исследованию физико-механических свойств изобретения является повышение точности оценки технологических дефектов. Способ контроля заключается в том, что образец .нагружают путем растяжения под углом 45 к оси свео топропускающих волокон, а просвечивают образец вдоль волокон и регистрируют зависимость светопропускания от приложенной нагрузки. В качестве первого параметра оценки уровня технологических дефектов принимают напряжение, возникающее в нагруженном образце в момент первоначального снижения светопропускания. Вторым параметром оценки уровня дефектов выбираЮт напряжение в нагруженном а

Ю образце, соответствующее началу стадии линейного снижения светопропускания образца. Полученные параметры сравнивают с эталонными напряжениями, соответствующими выбранным значениям светопропускания. При отнулевом циклическом растяжении в качестве предельного выбирают напряжение, превышающее первый параметр на 4-6Х. В качестве критерия для оценки уровня технологических дефектов в этом случае выбирают число цик- © лов растяжения, соответствующее на- ЬЭ чалу линейного участка падения све- Ю топропускания испытуемого образца.

Полученное число циклов нагружения сравнивают с известным эталонным зна- . чением. композитных материалов, пропускающих свет.

15009 2

Целью изобретения является повышение точности оценки уровня технологических.деффектов.

На фиг. 1 изображена схема прилоФ жения растягивающей нагрузки Р и просвечивания световым потоком Ф образца из армопластика с укладкой волокон в плоскости листа; на фиг.2 и

3 — зависимости светопропускания . от напряжения b или числа циклов нагружения

21= „8 /7.

n yn

2. " "о

15 где и, „ — соответственно исходное и текущее при возрастании

6 или и значения светопропускания для статического и циклического растяжений под углом 45 к оси волокон о образца; фиг.4 — схема измерения светопропускания армированного пластика с помощью однолучевого двухканального фотометра.

Способ контроля деффектов в листовых армированных пластиках реализуется следующим образом.

Образец из ортогонально-армированного пластика испытывают при статическом растяжении под углом 45 к направлению волокон, совпадающему с осями ортотропии xi (фиг.1). Одновременно образец просвечивают вдоль волокон х или я и регистрируют зависимость изменения светопропу- 35 скания от нагрузки (фиг.2) до стадии линейного снижения светопропускания. После этого образец разгружают и испытания прекращают. Из полученной зависимости 7 = f(6) опре- 40 деляют напряжения Ь» и Ь (фиг.2).

Эти напряжения являются физическими параметрами состояния материала в момент нарушения сплошности и в начале стадии интенсивного развития нару-45 шения сплошности. Для образцов, характеризующихся большими начальными деффектами, моменты нарушения сплошности наступают раньше. Поэтому напряжения, соответствующие этим момен-50 там, служат для различных образцов в качестве меры при оценке влияния деффектов на механические свойства материала..

Аналогично схеме, изображенной на фиг.1, оценивают влияние деффектов на механическое поведение армированного пластика при циклическом сдвиге. Для этого конкретный образец испытывают при отнулевом растяжении до уровня, превышающего на 4-67. напряжение Ь" его начального нарушения сплошности (фиг.2), пока в изменении светопропускания появится стадия линейного снижения. Затем образец разгружают и испытания прекращают, а из зависимости . = f(n) определяют число циклов нагружения п", соответствующее началу линейной стадии (фиг.3).

Измерение светопропускания образцов в исходном состоянии и в процессе нагружения проводят с помощью однолучевого двухканального фотометра (фиг.4) . Устройство содержит блок 1 осветителя, обеспечивающий получение стабильного излучения в видимой области спектра; переднюю 2 и заднюю 3 секции оптического коммутатора для переключения светового потока на разные каналы с исследуемым 4 или эталонным 5 образцами; оптический приемник 6 и регистрирующий прибор 7 °

Устройство работает следующим образом.

Световой поток от осветителя через секцию 2 подводится через гибкие световоды к нагружаемому или эталонному (свободному от всяких нагрузок) образцам. Потоки, пропущенные через материал, поступают по приемным световодам, через секцию

3 на оптический приемник 6, где регистрируются фотоэлектрическим способом с помощью фотоумножителя. Электрические сигналы с приемника поступают на регистрирующий прибор 7 для индикации в цифровом или аналоговом виде.

Контроль дрейфа характеристик отдельных блоков системы и их коррекции производится по показаниям канала с эталонным образцом, коэффициент пропускания которого неизменен в процессе испытания. Переключение светового потока на эталонный канал проводят с помощью оптического коммутатора. При проведении измерений светопропускания образцов подбирают величину облучающего потока таким образом, чтобы его можно было надежно регистрировать после просвечивания стеклопластика шириной 20 м, Регистрацию светопропускания проводят при нормальной температуре (21 + — З С), постоянстве значений

1500922 облучаемых поверхностей и углов между ними и направления светового потока. Последнее выполняли за счет оценки светопропускания по части светового потока, определяемой площадью . торцов световодов, закрепленных перед началом испытаний на поверхностях образцов с помощью специальных захватов. Соблюдение таких условий испытания позволяет устранить влияние на светопропускание.образца факторов,не связанных с накоплением повреждений.

Применение однолучевого двухканального фотометра дает воэможность исследовать светорассеивающие .матери,алы с коэффициентом пропускания до 5 .10 с точностью до " -0,37 при доверительной вероятности 0,95.

Физические параметры состояния стеклопластика определяют графически по зависимостям изменения светопропускания, регистрируемым при различных условиях испытания. Для зависимости = f,(б),представленной на фиг.2 (пунктиром показана стадия изменения светопропускания при последующем растяжении образцов под углом 45 к оси волокон до разрушения), на участках ОА и CD, характеризующихся постоянными скоростями роста и падения светопропускания, проводят касательные АВ и ВС.

3а характерные моменты нарушения сплошности, определяемые по изменению светопропускания, приняты точки А и В перегиба. Точку А перегиба определяют как точку касания касательной к зависимости — Ь в момент ее отклонения от линейной, а точку перегиба В как пересечение касательных АВ и ВС . Напряжения b и определяют соотнетственно как абсциссы точек перегиба А и В.

Для зависимости и, показанной на фиг.3, проводят касательную АВ к участку ВС с постоянной скоростью снижения светопропускания, и в точке

A пересечения касательной с осью абсцисс определяют число циклов нагружения и+.

Формула и з обретения

1. Способ контроля технологических

5 дефектОВ в листОВых светОпрОВОдящих армированных пластиках, заключающийся в том, что образец исследуемого материала нагружают путем статического растяжения в плоскости листа !

О под углом 45 к оси волокон, облуе чают неизменным по величине световым потоком, регистрируют изменение светопропускания и определяют связанный с ним физический параметр, 15 характеризующий свойства материала, отличающийся тем, что, с целью повышения точности оценкИ уровня технологических дефектов, образец просвечивают вдоль волокон

его рабочей части, регистрируют зависимость светопропускания от прикладынаемой нагрузки и после регистрации определяют напряжение в момент первоначального снижения све25 топропускания.

2. Способ по п.1, о т л и ч а ю шийся тем, что после регистрации дополнительно определяют на30 пряжение в начале стадии линейного снижения светопропускания, а уровень технологических дефектов при статическом нагружении определяют путем сравнения полученных значений

35 Напряжений с эталонными.

3. Способ по п.1 и 2, о т л и— ч а ю шийся тем, что после определения напряжения в момент первоначального снижения светопропускания образец подвергают циклическому отнулевому растяжению до значения, превышающего первоначальное на 4-6Х, 45 при этом фиксируют начало линейного участка снижения светопропускания образца, а по соответствующему этому моменту числу циклон нагружения определяют уровень технологических деффектОВ при циклическОм сдВиге путем сравнения полученных значений с эталонными.

1500922

Составитель В,Маслов

Техред Л.Олийнык Корректор п.бескид

Редактор Т.Парфенова

Заказ 4858/48 Тираж 789 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Способ контроля технологических дефектов в листовых светопроводящих армированных пластиках Способ контроля технологических дефектов в листовых светопроводящих армированных пластиках Способ контроля технологических дефектов в листовых светопроводящих армированных пластиках Способ контроля технологических дефектов в листовых светопроводящих армированных пластиках 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к строительству и машиностроению, конкретно к методам дефектоскопии строительных материалов и конструкций из неметаллов, например пластиков, позволяет определять величину и положение дефекта, оценивать раскрыв и может быть использовано при контроле изделий с переменной толщиной

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения посторонних включений в структуру материала детали, неодинаковой цветности участков поверхности деталей

Изобретение относится к области неразрушающего контроля материалов и изделий, а более конкретно к устройствам визуальной и фотометрической оценки рентгенограммы повьшенной плотности

Изобретение относится к оптическим методам контроля, в частности изменений объектов решетчатой структуры, например намотанной на решетку пряжи

Изобретение относится к области фотометрии и может быть использовано в оптическом приборостроении при контроле качества оптического стекла

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при автоматизации визуального метода дефектоскопии

Изобретение относится к метрологии и предназначено для контроля дефектов деталей

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения углового распределения рассеянного света и косвенной бесконтактной оценки параметров рассеивающей поверхности

Изобретение относится к устройствам для обнаружения поверхностных дефектов на цилиндрических объектах, таких как топливные таблетки атомных электростанций

Изобретение относится к контролю качества поверхности оптическими методами и может найти применение в оптическом приборостроении, например, для контроля качества подготовки поверхностей подложек интегрально-оптических устройств, лазерных зеркал и т.д

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности деталей дефектов различного происхождения: механических, цветности, посторонних включений в структуру материала детали

Изобретение относится к устройствам для контроля геометрических размеров и дефектов типа посечек, сколов, трещин стеклоизделий

Изобретение относится к телевизионной микроскопии и может быть использовано в промышленности при автоматизации контроля качества и, особенно, криминалистике для проведения баллистических экспертиз пуль стрелкового оружия, а также создания и хранения банка данных пулетек для последующей идентификации оружия по следам на пулях

Изобретение относится к контролю качества поверхностей твердых тел оптическими методами, а именно к обнаружению дефектов и микрообъектов на плоских поверхностях проводящих и полупроводящих изделий путем регистрации эффективности возбуждения поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ), и может найти применение в оптическом приборостроении, экологическом мониторинге, в физических, химических, медико-биологических и других исследованиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения на поверхности контролируемых объектов (КО) дефектов различного происхождения

Изобретение относится к исследованию и анализу физического состояния объектов сложной формы с помощью оптических средств, в частности к определению рельефа таких объектов, как стреляные пули и гильзы

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для диагностики усталостного износа металлоконструкций (МК) и прогнозирования остаточного ресурса
Наверх