Способ измерения оптического коэффициента поглощения материала, включающий последовательное облучение исследуемого участка материала пучками оптического излучения с рабочей 
p и калибровочной к длинами волн, промодулированными по амплитуде с одинаковой частотой, и измерение на этих длинах волн величин мощности P1 и P2 падающего излучения, отличающийся тем, что, с целью расширения класса исследуемых материалов и диапазона длин волн рабочего излучения и повышения точности, при облучении последовательно регистрируют сигналы U1 и U2, пропорциональные амплитудам тепловых волн, возбуждаемых в материале пучками оптического излучения с длинами волн p и к, при этом значение к выбирают из условия полного поглощения в материале вошедшей в него части излучения с длиной волны к и при облучении исследуемого участка материала пучком оптического излучения с длиной волны к дополнительно регистрируют мощность P20 части этого излучения, отраженной от поверхности материала, а величину оптического коэффициента поглощения K рассчитывают по формуле 
Похожие патенты:
Изобретение относится к методам лазерного атомно-нонизационного ана- ,лиза и может найти применение в анализе атомного состава различных веществ при атомизации проб в iвысокотемпературных газовых средах
Изобретение относится к области квантовой электроники и спектроско ПИИ , а именно к внутрирезонаторной лазерной спектроскопии
Изобретение относится к спектроскопии и может быть использовано для анализа компонентного состава твердых образцов
Изобретение относится к области аналитического приборостроения
Изобретение относится к измерительным приборам, в частности молочной промышленности
Изобретение относится к пищевой промышленности и может найти применение в системах контроля качества спиртоводочных изделий для их идентификации
Изобретение относится к созданию методов и аппаратурных средств агромониторинга, а именно к построению систем контроля качества агропромышленной продукции, в частности алкоголя
Изобретение относится к спектральному анализу
Изобретение относится к области неразрушающего контроля
Изобретение относится к импульсному лазеру, используемому для количественного спектрального анализа галогенсодержащих неметаллических или максимум частично металлических веществ, связанному с съемочным приспособлением, спектрометром и камерой ПЗС, причем интенсивность света, испускаемого, по меньшей мере, одним дискообразным участком конуса расширения плазмы, запоминают, суммируют и оценивают, причем предпочтительно определяют градиенты температуры и плотности
Изобретение относится к средствам мониторинга окружающей среды и может найти применение в системах, осуществляющих экспресс-контроль качества воздуха в вентиляционных каналах зданий и сооружений на предмет выявления в них распыленных мелкодисперсных органических порошков и аэрозолей, содержащих патогенные микроорганизмы
Изобретение относится к методам абсорбционной спектроскопии
Изобретение относится к технике лабораторных исследований процессов кристаллообразования в сахарсодержащих растворах при их охлаждении и может быть использовано в сахарной промышленности
