Устройство для контроля качества поверхности плоских деталей

Авторы патента:

G01B11/30 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля качества обработки поверхности плоских деталей из древесины, древесных материалов и других материалов с легкодеформируемой поверхностью. Цель изобретения - повышение производительности контроля движущихся деталей. Устройство содержит корпус 1, осветитель 2, приемный оптический узел 3, линейный фотодиодный преобразователь 4 излучения, измерительную схему 5, блок 6 коммутации, запоминающий блок 7, вычислительный блок 8, блок 9 управления и блок 10 отображения информации. Положение границы перехода света и тени направленного под углом 45° к контролируемой поверхности 11 светового потока проектируется приемным оптическим узлом 3 на рабочую поверхность линейного фотодиодного преобразователя 4 излучения и в зависимости от высоты микронеровностей при перемещении устройства относительно контролируемой поверхности 11 смещается по рабочей поверхности линейного фотодиодного преобразователя 4. Пределы этого смещения, определяемые измерительной схемой 5 и после вычисления передаваемые на блок 10 отображения информации, характеризуют высоту микронеровностей контролируемой поверхности 11. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИМ

РЕСПУБЛИК

„„Я0„„1569533 (51) 5 С 01 В 11/30

ОПИОАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСН0МУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 4383817/25-28

t (22) 23.02.88 (46) 07.06.90, Бюл. 9 21 (75) Г.К.Коржук (53) 53 1.715 (088.8) (56) Кучин А.А., Обрадович К.А. Оптические приборы для измерения шероховатости поверхности. вЂ” Л.: Иашиностроение, Ленинградское отделение, 1981, с. 57.

2 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА

ПОВЕРХНОСТИ, ПЛОСКИХ ДЕТАЛЕЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля качества обра-. ботки поверхности плоских деталей из древесины, древесных материалов и других материалов с легкодеформируемой поверхностью. Цель изобретениявЂ” повышение производйтельности контроля

1569533 линейного фотодиодного преобразователя 4 излучения и в зависимости от высоты микронеровностей при переме5 щении устройства относительно контролируемой поверхности 11 смещается по рабочей поверхности линейного фотодиодного преобразователя 4. Пределы этого смещения, определяемые измерительной схемой 5 и посла вычисления передаваемые на блок 10 отображения информапии, характеризуют высоту микронеровностей контролируемой поверх11. 1

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к уст-. ройствам для контроля качества обработки поверхности плоских деталей, например древесины, древесных материалов, бумаги, картона и других мате- 25 риалов с легкодеформируемой поверхностью.

Цель изобретения - повышение производительности контроля движущихся деталей. ЗО

На чертеже изображена принципиальная схема устройства дпя контроля качества поверхности плоских деталей.

Устройство. содержит корпус 1, установленные в нем под прямым углом друг к другу осветитель 2 и приемный оптический узел 3, линейный фотодиодный преобразователь 4 излучения, на рабочую поверхность которого .проектируется граница перехода между освещенным и затененным участками поля

40 зрения приемного оптического узла 3, измерительную схему 5, вход которой соединен с выходом линейного фотоди= одного преобразователя 4 излучения, блок 6 коммутации, вход которого сое45 динен с выходом измерительной схемы

5, запоминающий блок 7, первый вход которого соединен с выходом блока

6 коммутации, вычислительньп блок 8, первый вход которого соединен с вы50 ходом запоминающего блока 7, а первый выход - с вторым входом запоминающего блока 7, блок 9 управления, выход которого соединен с.вторым входом вычислительного блока 8, и блок

10 отображения информации, вход кото-: рого соединен с. вторым выходом вычис- лительного блока 8. движущихся деталей; Устройство содержит корпус 1, осветитель 2, приемный оптический узел 3, линейный фотодиодный преобразователь 4 излучения, измерительную схему 5, блок 6 коммутации, запоминающий блок 7, вычислительный блок 8, блок.9 управления и блок 10 отображения информации. Положение границы перехода света и тени направленного под углом 45ок контролируемой поверхности 11 светового потока проектируется приемным опти-! ческим узлом 3 на рабочую поверхность

Устройство работает следующим образом. Устройство устанавливают основанием корпуса 1 на контролируемую поверхность 11 так, чтобы плоскость измерения, проходящая через оси осветителя 2 приемного оптического узла

3, была ориентирована в направлении расположения преобладающих неровностей поверхности 11. При этом расположенньп под углом 45 осветитель 2 проектирует на контролируемую поверхность 11 параллельный пучок света,. ограниченный с одной стороны четкой линейной границей, ориентированной перпендикулярно плоскости измерения так, что граница перехода между освещенным и затененным участками поверхности находится в центре поля зрения приемного оптического узла 3, расположенного в корпусе 1 с противсположной осветителю 2 стороны в плоскости измерения под углом 90 к нему. Нао

I ходящаяся в поле зрения приемного оптического узла 3 граница перехода между освещенным и затененным участками поверхности проектируется им на рабочую поверхность укрепленного на нем линейного фотодиодного преобра-. зователя 4 излучения, что вызывает засветку и срабатывание части его фотодиодных ячеек. Подключенная к выходу линейного фотодиодного преобразователя 4 излучения измерительная схема 5 обеспечивает определение порядкового номера первой иэ засвеченных фотодиодных ячеек и передает полученную информацию на вход блока 6 коммутации, который транслирует ее на вход одной иэ ячеек запоминающего

Составитель Л.Лобзова

ТехРед М.Ходанич Корректор М.Максимишинец

Редактор И.Горная

Заказ 1435 Тираж 491 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101

5 156953 блока 7, после чего переключается на вход следующей ячейки запоминающего блока 7.

При перемешении корпуса 1 в направлении, перпендикулярном плоскос- 5 ти измерения, или перемещения контролируемой поверхности 11 относительно корпуса 1 граница перехода между освещенным и затененным участками поверхности смещается в плоскости измерения в зависимости от высоты неровностей и глубины впадин на контролируемой г7оверхности 11. Это смещение границы освещенности в увеличенных приемным оптическим узлом 3 пределах приводит к смещению участка засветки фотодиодных ячеек линейного фотодиодного преобразователя 4 излученйя. При этом измерительная схема 5, работающая с заданной частотой считывания, все время определяет первую из засвеченных фотодиодных ячеек линейного фотодиодного преобразователя 4 излучения и каждый раз выдает на вход блока 6 коммутации порядковый номер первой иэ засвеченных фотодиодных ячеек, который после считывания каждого иэ значений транслирует его на вход одной из ячеек запоминающего блока 7, переключается на вход следую-щей ячейки,запоминающего блока 7 и так до отработки полного цикла коммутации, после чего блок 7 коммутации останавливается в исходном положении, После поступления сигнала с блока 9 35 управления,на второй вход вычислительного блока 8 он вырабатывает на первом выходе сигнал запроса и транслирует его па второй вход запоминающего блока 7, после чего информация 40

3 6 с его выхода поступает на, первый вход вычислителЬного блока 8, который осуществляет обработку поступившей информации, и результаты вычисления в значениях параметров шероховатости контролируемой поверхности 11 через второй выход передаются на блок 10 отображения информации. После этого цикл контроля качества поверхности может быть повторен необходимое количество раз или прекращен до возникновения потребности.

Ф о р м у л а и з о б р е т е н и я

Устройство для контроля качества поверхности плоских деталей, содержащее корпус и установленные в нем под прямым углом друг к другу осветитель и приемный оптический узел, о твЂ” л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения производительности контроля движущихся деталей, оно снабжено линейным фотодиодным преобразователем излучения, установленным на выходе приемного оптического узла, измерительной схемой, вход которой соединен с выходом линейного фотодиодного преобразователя излучения, блоком коммутации, вход которого соединен с выходом измерительной схемы, запоминающим блоком, вход которого соединен с выходом блока коммутации, вычислительным блоком, один вход которого соединен с выходом запоиинающего блока, блоком управления, выход которого соединен с вторым входом вычислительного блока, и блоком отображения информации, вход которого соединен с выходом вычислительного блока.

Изобретение относится к области измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости объектов

Устройство для контроля прямолинейности // 1567883

Способ определения функции распределения высот и углов наклона шероховатой поверхности // 1567882

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования структуры шероховатых поверхностей диэлектриков, металлов, полупроводников и др., что актуально в приборостроении, неразрушающем оптическом контроле и других отраслях науки и техники

Лазерный интерференционный створофиксатор // 1567881

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет измерять нестворность точек

Оптическая линейка // 1566210

Изобретение относится к измерительной технике и, в частности, к устройствам для контроля отклонений поверхности от прямолинейности

Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности // 1562697

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля дефектов цилиндрических поверхностей, преимущественно для контроля изоляции эмалированных проводов

Способ определения распределения крутизны микронеровностей шероховатых поверхностей // 1562696

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для исследования структурных параметров шероховатых поверхностей, а также оптической анизотропии вещества диэлектриков полупроводников и т.д

Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности // 1562695

Устройство для контроля качества цилиндрической поверхности // 1562694

Оптическая линейка для контроля отклонения от прямолинейности // 1562693

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля прямолинейности поверхности

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ исследования оптического диска оригинала и устройство для его осуществления // 2107893

Устройство для измерения шероховатости и волнистости поверхности при фиксированных значениях базовой длины // 2116616

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей // 2148790

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Способ контроля параметров наружной резьбы и устройство для его осуществления // 2151999

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Способ контроля параметров внутренней резьбы и устройство для его осуществления // 2152000

Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления // 2153160

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Устройство для определения шероховатости поверхности // 2156437

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 2156955

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия