Патент ссср 167524

Авторы патента:

G01N22 - Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот (G01N 3/00- G01N 17/00,G01N 24/00 имеют преимущество)

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 21а4, 71

Заявлено 16.Х.1961 (№ 896343/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР

МПК G 01г

УДК 533.9.07(088.8) Опубликовано 18.1.1965. Бюллетень № 2

Дата опубликования описания 29.1.1965

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ

ПЛОТНОСТИ ЭЛЕКТРОНОВ В ПЛАЗМЕ

Подписная группа № 142

Известны способы определения распределения плотности электронов по сечению плазмы путем измерения амплитуды прошедшего через нее сигнала.

В момент достижения определенной «критической» плотности электронов в плазме для данной частоты зондирующего сигнала наступает «отсечка» микроволнового сигнала. Имея набор большого числа высокочастотных генераторов, излучающих различные длины волн в миллиметровом и сантиметровом диапазоне, можно определить плотность электронов в плазменном шнуре в различных стадиях его существования.

Предлагаемый способ отличается от известных тем, что при его осуществлении измеряют геличину затухания амплитуды проходящих через плазму микроволновых сигналов различных частот. Эти частоты выбраны таким образом, что в момент отсечки сигнала одной частоты амплитуда одного из остальных сигналов испытывает затухание. Указанное отличие позволяет определять функцию пространственного распределения электронов в широком диапазоне плотностей.

Если в момент отсечки одного сигнала из5 вестно затухание другого, то можно определить в этот момент и среднее значение частоты соударений электронов с атомами газа.

Предмет изобретения

Способ определения распределения плотности электронов в плазме по измерению амплитуды прошедшего через нее сигнала, отличаюи ийся тем, что, с целью определения функции

15 пространственного распределения электронов в широком диапазоне плотностей, измеряют величину затухания амплитуд, проходящих через плазму микроволновых сигналов нескольких различных частот, выбранных таким об20 разом, что в момент отсечки сигнала одной частоты амплитуда одного из остальных сигналов испытывает затухание.

Похожие патенты:

Патент 163004 // 163004

Патент 152969 // 152969

Автоматический прибор циклического действия для определения температуры застывания топлив // 151865

Высокочастотный фазочувствительный измеритель влажности однородных формовочных песков // 146543

Электронный влагомер // 138091

Способ определения коррозийной активности грунтов // 137698

Способ определения температурного коэффициента линейного расширения электропроводных материалов // 131970

Способ измерения паросодержания пароводяной смеси // 131138

Датчик влажности к электронному влагомеру // 129366

Электронный влагомер // 126659

Способ исследования подповерхностных слоев объектов // 2101694

Изобретение относится к радиолокации, а именно к способам исследования подповерхностных слоев различных объектов

Способ изменения свойств материалов и устройство для его осуществления - генератор "эмитоп" // 2102233

Изобретение относится к созданию материалов с заданными свойствами при помощи электрорадиотехнических средств, что может найти применение в химической, металлургической, теплоэнергетической, пищевой и других отраслях промышленности

Датчик поточного влагомера // 2102731

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам измерения влажности, и может быть использовано в тех отраслях народного хозяйства, где влажность является контролируемым параметром материалов, веществ и изделий

Способ определения диэлектрической проницаемости материала // 2103673

Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия

Устройство для контроля электромагнитной сплошности поверхности изделий // 2103674

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения

Устройство для контроля дефектов в изделиях из диэлектрических материалов // 2103700

Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности

Компьютерный томограф // 2103920

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может использоваться для томографического исследования объектов и медицинской диагностики при различных заболеваниях человека, а также для лечения ряда заболеваний и контроля внутренних температурных градиентов в процессе гипертермии

Способ определения границ фазовых переходов в полимерах // 2104515

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Способ исследования объектов квч воздействием // 2108566

Изобретение относится к исследованию объектов, процессов в них, их состояний, структур с помощью КВЧ-воздействия электромагнитных излучений на физические объекты, объекты живой и неживой природы и может быть использован для исследования жидких сред, растворов, дисперсных систем, а также обнаружения особых состояний и процессов, происходящих в них, например аномалий структуры и патологии в живых объектах

Устройство для измерения сплошности потоков криопродуктов // 2108567

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения сплошности потоков диэлектрических неполярных и слабополярных сред, преимущественно криогенных