Патент ссср 167837
О П И С А Н И Е I67837
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства М
Заявлено 21.1,1959 (М 701334I23-4) с присоединением заявки М
Кл. 121, 380
42к, 49о
МПК С 01b
G 01п
УДК
Приоритет
Опубликовано 05.11.1965. Бюллетень М 3
Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР
Дата опубликования описания 9.III.1965
Авторы изобретения
В. Е. Хаджи и К. П. Сазонов
Заявитель
СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИСКУССТВЕННЫХ
KPHCTAJIJIOB КВАРЦА
Подписная группа Лв 4б
Известен способ контроля качества искусственных кристаллов кварца, состоящий в визуальном осмотре и отбраковке образцов с помутнениями, обусловленными наличием примесей или трещин. Таким методом невозможно обнаружить мелкие трещины и небольшие количества примесей, которые не нарушают прозрачности кристалла, но ухудшают его пьезоэлектрические свойства.
Цель изобретения — устранение недостатков визуального метода. Б связи с этим тонкие срезы кристаллов по (II20) нагревают до
700 С и интенсивность появившегося помутнения сравнивают с интенсивностью помутнения эталона.
Предлагаемый метод прост в осуществлении и дает возможность легко и доступно в производственных условиях контролировать процесс выращивания кристаллов и разбраковывать сырье.
Пример. Из полученных кристаллов вырезают пластины толщиной 2 — 2,5 л м параллельно плоскости (П20) затравки кристалла.
Пластины укладывают в металлические кассеты с ячейками и помещают в муфельную печь, оборудованную термопарой и прибором для контроля и автоматического регулирования температуры (ЭПД-52) . Темп нагрева5 ния не должен превышать 5 — 6 град)мин, так как при резких температурных воздействиях пластины сильно растрескиваются. После 5—
5,5 час при достижении температуры 700 С нагреватель выключают.
10 Пластины, охладив, полируют или просто смачивают иммерсией и фотометрируют в сравнении с эталоном.
Предмет изобретения
Способ контроля качества искусственных кристаллов кварца на присутствие примесей с использованием явления помутнения, отличающийся тем, что, с целью выявления нали20 чия примесей, не нарушающих прозрачность кристаллов, срез последних по (П20) нагревают до 700 С и интенсивность появившегося помутнения сравнивают с интенсивностью помутнения эталона.
