Способ измерения нелинейности отклонения электронного луча электронно-лучевой трубки

 

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при испытании отклоняющих систем электронно-лучевых трубок (ЭЛТ). Цель изобретения - повышение точности измерения нелинейных искажений кадровой резвертки путем увеличения числа строк между узлами масштабной сети. На экран ЭЛТ накладывается масштабная сетка, в узлах которой установлены миниатюрные оптические датчики. На экране ЭЛТ воспроизводят прямоугольный растр, при этом отношение строчной частоты к кадровой отличается от целого числа на величину 1/К. При измерении нелинейности по кадру это эквивалентно увеличению строчной частоты в К раз и такому же увеличению точности измерений. Такой выбор отношения строчной частоты к кадровой позволяет повысить точность определения узловых точек до величин, определяемых разрешающей способностью ЭЛТ и фотодатчиков. 2 ил. fe

СО|ОЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 Н 01 J 9/42

ГОСУДАРСТВЕ ННЪ|И КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4223827/21 (22) 08.04.87 (46) 30.01.91. Бюл, М 4 (72) О,А,Бородюк. P.Ã,Èîñåâè÷, B.ß,Týòàðèí и В.Л.Шкляр (53) 621.385,832 (088.8) (56) Кривошеев М.И. Основы телевизионных измерений. — М.: Связь, 1976.

Авторское свидетельство СССР

М 960997, кл. Н 01 J 9/42, 28.05.80. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НЕЛИНЕЙНОСТИ ОТКЛОНЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОГО ЛУЧА

ЭЛ Е KTPOHHO-ЛУЧЕ ВОЙ ТРУБКИ (57) Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при испытании отклоняющих систем электронно-лучевых трубок (ЭЛТ). Цель изобретения — повышение точности измерения

Изобретение относится к радиоиэмерительной технике.

Цель изобретения — повышение точности измерения нелинейных искажений по кадру.

На фиг.1 показан экран ЭЛТ с наложенной на него масштабной сеткой, в узловых точках которой установлены миниатюрные оптические датчики; на фиг,2 — осциллограммы напряжений, поясняющие предлагаемый способ.

Способ осуществляется следующим образом.

Масштабная сетка, являющаяся внешним элементом по отношению к ЭЛТ, с нанесенными на ней взаимно перпендикулярными горизонтальными и вертикальными линиями (рабочее поле ЭЛТ ограничено двумя крайними горизонталями и вертикалями масштабной сетки) наклады Ы,, 1624559 А1 нелинейных искажений кадровой резвертки путем увеличения числа строк между узлами масштабной сети. На экран ЭЛТ накладывается масштабная сетка, в узлах которой установлены миниатюрные оптические датчики. На экране ЭЛТ воспроизводят прямоугольный растр, при этом отношение строчной частоты к кадровой отличается от целого числа на величину 1/К. При измерении нелинейности по кадру это эквивалентно увеличению строчной частоты в К раэ и такому же увеличению точности измерений.

Такой выбор отношения строчной частоты к кадровой позволяет повысить точность определения узловых точек до величин, определяемых разрешающей способностью ЭЛТ и фотодатчиков. 2 ил. вается на экран таким образом, что центр экрана совмещается с центром масштабной сетки, а горизонталь масштабной сетки, проходящая через ее центр, располагается параллельно линии развертки строк. В точках пересечения горизонталей и вертикалей масштабной сетки установлены миниатюрные оптические датчики с заданной разрешающей способностью, обращенные к экрану ЭЛТ, Шаг между горизонталями и вертикалями масштабной сетки выбирается произвольным, но строго постоянным квк по горизонтали, так и по вертикали. Затем, например, из левого нижнего угла в плоскости экрана ЭЛТ и точки 0 (см. фиг.1) разво- рачивают снизу вверх и слева направо электронный луч ЭЛТ в. прямоугольный растр, что достигается при подаче на отклоняющую систему ЭЛТ синхроимпульсов соответственно строчной 01 (см. фиг.2а) и

1624559 кадровой О2 (см. фиг.26) частот. При этом отношение строчной частоты к кадоровой

1 отличается от целого числа на величину, 1 5 например —, Это эквивалентно для изме10 рений нелинейности по кадру увеличению строчной частоты в К раз, например в 10, и такому же увеличению точности измерений.

В моменты времени tt t2 и тз пересечения 10 электронным лучом узловых точек, например, соответственно по порядку Жз, Ж4 и Е4 в микродатчиках, установленных в соответствующих точках, возникают импульсы отметки Оз (см. фиг.2в), О4 (см. фиг.2г) и Оь (см, 15 фиг.2д), временное положение которых Лц, hu u b to, т.е. электрические координаты этих точек определяются относительно кадрового или строчного импульса частотомером в режиме определения периода. При 20 этом координата любой иэ узловых точек . состоит из двух частей: Ь t — расстояния соответствуюЩего кадрового импульса от первого следующего за ним строчного и Лt— расстояния от этого строчного сийхроим- 25 пульса до соответствующей отметки. Очевидно, что для датчиков, лежащих на одной горизонтали, Ж = Л tz. Поэтому разность их электрических координат не зависит от того, является ли отношение строчной час- 30 тоты к кадровой целым числом. Датчики, не лежащие на одной вертикали, дают импульсы не только в разных строках, но и в разных кадрах. При этом для них остается постоянной дробная часть числа h t", а Л t и коли- 35

fI чество строк (т.е. целая часть A t ) различны и зависят от нелинейных искажений по кадру. Поэтому число линий, укладывающихся между двумя узловыми точками по горизонтали, пропорционально разности электри- 40 ческих координат этих узловых точек относительно строчного синхроимпульса.

Число же линий, укладывающихся между двумя узловыми точками по вертикали, т,е. по кадру, пропорционально отношению 45 разности электрических координат этих точек к периоду строчной частоты.

Рассмотрим случай, когда узловые точки первой горизонтали а (0-8) совпадают с

1-й строкой первого кадра. В следующем кадре они уже не совпадают ни с одной строкой развертки, так как оношение строчной и кадровой частот выбрано числом нецелым и, следовательно, начало второго кадра занимает иное положение относительно строчного синхроимпульса, чем начало первого кадра. Пусть в пятом кадре с (1+@)й строкой совпадут точки второй горизонтали б (0-8). Тогда при отличии отношения строчной частоты к кадровой на — от

10 целого числа это означает, что между этими горизонталями лежит m целых и четыре десятых строки. Такой выбор отношения строчной частоты к кадровой позволяет значительно увеличить точность определения координат узловых точек в ЭЛТ (до величин, определяемых разрешающей способностью ЭЛТ и фотодатчиков), Формула изобретения

Способ измерения нелинейности отклонения электронного луча электронно-лучевой трубки, заключающийся в формировании на экране прямоугольного растра линий развертки, заполняющего рабочую часть экрайа, определении электрических координат каждой узловой точки масштабной сетки относительно начала кадровой и начала соответствующей строчной разверток и сопоставлении числа линий на разных участках экрана путем вычитания электрических координат узловых точек, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности измерения нелинейных искажений по кадру, соотношение строчной и кадровой частот устанавливают равным нецелому рациональному числу, а электрические координаты узловых точек определяют эа число кадров не меньшее чем обратная величина дробной части отношения строчной частоты к кадровой.

1624559

Составитель М.Гущин

Редактор Л.8еселовская Техред M.Ìîðãåíòâë Корректор Н.Король

Заказ 196 Тираж Подписное

8НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул,Гагарина, 101

Способ измерения нелинейности отклонения электронного луча электронно-лучевой трубки Способ измерения нелинейности отклонения электронного луча электронно-лучевой трубки Способ измерения нелинейности отклонения электронного луча электронно-лучевой трубки 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электротехнике и может использоваться при изготовлении светосигнальных установок, в которых лампы накаливания эксплуатируются в режиме частых включений

Изобретение относится к светотехнике и предназначено для проверки прочности крепления цоколей к трубке-колбе люминесцентной лампы

Изобретение относится к радиоизмерительной технике

Изобретение относится к вакуумметрии и может быть использовано при измерении давления в электровакуумных приборах

Изобретение относится к технике испытания изделий электроники и может быть использовано для термотоковой тренировки изделий электроники или для их испытания на безотказность и теплоустойчивость

Изобретение относится к электронной технике, в частности к способам анализа и контроля качества термокатодов электровакуумных приборов и предназначено для оценки неоднородности плотности тока эмиссии по эмиттирующей поверхности катода эмиссионной неоднородности (ЭН)

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для автоматического измерения разрешающей способности электронно-лучевых трубок (ЭЛТ) различного назначения в лабораторных и цеховых условиях

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля тока дросселей газоразрядных ламп

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов

Изобретение относится к контролю характеристик электровакуумных приборов и может быть использовано при разработках и производстве вакуумных катодолюминесцентных индикаторов и люминофоров

Изобретение относится к микроэлектронике, измерительной технике, может быть использовано при производстве, проектировании электролюминесцентных индикаторов (ЭЛИ), а также их научных исследованиях

Изобретение относится к области квантовой электроники, в частности к газоразрядным лазерам

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при производстве вакуумных люминесцентных индикаторов (ВЛИ) и люминесцентных материалов

Изобретение относится к электротехнической промышленности, в частности к производству разрядных ламп

Изобретение относится к области электротехники, а именно к устройствам для испытания электровакуумных приборов

Изобретение относится к области электронной техники и приборостроения, в частности к способам контроля термоэмиссионного состояния поверхностно-ионизационных термоэмиттеров ионов органических соединений, используемых для селективной ионизации молекул органических соединений в условиях атмосферы воздуха в газоанализаторах типа хроматографов и дрейф-спектрометров

Изобретение относится к области проведения испытаний приборов и может быть использовано при изготовлении мощных генераторных ламп
Наверх