Способ тепловой дефектоскопии

 

Изобретение относится к тепловому неразрушающему контролю и может быть использовано для обнаружения дефектов типа нарушений сплошности как в однородных, так и в слоистых материалах. Цель изобретения - повышение чувствительности способа Для обнаружения л фекта типа несплошнссти, расположенного и толще материала, на поверхность контролируемого изделия наносят твердотельный слой, коэффици т температуропроводности которого меньше, чем у контролируемое изделия. Затем создают температурный градиент, нормальный поверхностям твердотепьного слоя и изделия, после чего регистрируют распределение температур на поверхности этого слоя в различные моменты времени для определения локальных различий в скорости ее остывания. Наличие твердотельного слоя с низкой температуропроводностью способствует увеличению длительности существования кратковременных локальных отклонений температуры , обусловленных мелкими дефектами, и тем самым облегчает их регистрацию. ел С

СОЮЗ COBE .СКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

P E Cп BÄ ß Ê

1627954 А1 si)s G 01 N 25/72

ГОСУДАРСТВЕ ННЫЙ КОГЛИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И 01КРЫ",ИЯМ

ПРИ ГК1.Т СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ь) О (Л (21) 4414792/25 (22) 25.04,88 (46) 15.02.91. Бюл, М 6 (71) Киевский автомобильно-дорожный, »ñ титут им.60-летия Великои Октябрьскои спциалистической революции (72) В.Е,Канарчук, О.Б.Деркачев, Г.Н.Желнов, П,Н.Кротенко и Н.Н.Дмитриев (53) 536.2(088,8)

@6) Патент Великобритании N. 2168494А, кл. G 01 N 25/72, 1986.

Патент СЫА М 3681970, кл, 73-15.4.

1970. (54) СПОСОБ ТЕПЛОВОЙ ДЕФЕКТОСКОРИИ (57) Изобретение относится к тепговому неразрушающему контрог ю и может быть использовано для обнаружения дефектов типа нарушений сплошности как в однородных, так и в слоистых материалах. Цель изсбреИзобретение относится к тепловому нераэрушающему контролю и может быть использовано для обнаружения дефектов типа нарушений сплошности как в однородных так и в слоистых материалах.

Цель изобретения — повышение чувствительности способа при изучении материалов с высокой температуропроводностью, Способ тепловой дефектоскопии осуществляется следующим образом.

На поверхность контролируемо о изделия наносится равномерный слой материала, коэффициент температуроп роводности которого меньше коэффициента температуропроводности контролируемого изделия, тения — повышение чувгтвительности способа. Для обнаружения р фекта типа несплошнссти, расположенного в толще матер..ала, на поверхность контролируемого изделия наносят твердотельный слой, козффици нт температуропроводности которого меньше, чем у конr« олируемо;о изделия. Затем создают температурный градиент, нормальный поверхностям твердотельного слоя и изделия, после чего регистрируют распределение температур на поверхнос1и этого слоя в различные моменты времсни для определения локальных различий в скорости ее остывания. Наличие твердотельного слоя с низкой темоературопроводностью способствует увеличению длительности существования кратковременных локальных отклонений температуры, обусловленных мелкими дефекта ли, и тем самым облегчает их регистрацию. создается температурный градиент, нормальный к поверхности контролируемого изделия и регистрируется температурное поле этой поверхности в различные моменты времени для определен ия различий в скорости ее остывания, Локальные отклонения температуры, возникающие в процессе нагрева и остывания и обусловленные наличием дефектов в контролируемом изделии, дольше сохраняются на поверхности твердотельного слоя с малым коэффициентом температуропроводности, чем на поверхности при отсутствии этого слоя, который служит своего рода теплофизиче=ким устройством памяти, 1627954

Формула изобретения

Составитель Е. Сириденко

Техред М.Моргентал Корректор М. Максимишинец

Редактор А. Долинич

Заказ 336 Тираж 387 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101

Способ тепловой дефектоскопии, включэющий создание температурного градиента, нормального к поверхности контролируемого изделия, и последующую регистрацию температурного поля этой поверхности в различные моменты времени для определения скоростей ее остывания, по которым судят о наличии дефекта, отличающийся тем, что,с целью повышения чувствительности способа при изучении материалов с высокой температу5 ропроводностью, на нагреваемую поверхность контролируемого изделия наносят твердотельный слой из материала, коэффициент температуропроводности которого меньше, чем у контролируемого изделия.