Способ измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах

 

Изобретение относится к ускорительной технике . Цель изобретения - уменьшение времени измерения. Существо изобретения заключается в исполь1зовании асимметрично изогнутого монокристалла , содержащего изогнутый и прямолинейный участки. При этом интенсивность отклоненных частиц измеряют , направляя сначала пучок частиц в прямолинейный участок монокристалла, а затем в изогнутый, и по отношению измеренных значений судят о длине,деканалирования частиц в монокристалле. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (505 Н 05 Н 7/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И OTKPbITMRM

ПРИ ГКНТ СССР а, 1,„.. „„» .с,. 1

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 (46) 15.06.92.Бюл. II 22 (21) 4714103/21 (22) 03.07.89 (72) H,А.Галяев, В.H,Çànîëüñêèé и IO.А.Чесноков (53) 621.384.6 (088,8) (56) Carrlgan R,А.— Preprlnt ГМА(FN-454, Batavla, 1987, р. 33.

Sun С,R. е: al. Nucl. Instr. and Meth, В 2.

60, 1984. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИНЪ| ДЕКАНАЛИРОВАНИЯ ЧАСТИЦ ВЫСОКИХ

ЭНЕРГИЙ В МОНОКРИСТАЛЛАХ

Ъ

Изобретение относится к физике высоких энергий, в частности. к применению сильных полей монокристаллов для управления траекториями частиц высоких энергий.

Целью изобретения является уменьшение времени измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах.

На фиг,1 показано устройство для реализации данного способа: на фиг .2, 3 показано положение монокристал(1а относительно пучка.

Устройство, приведенное на фиг. 1, содержит головную часть 1 магнитооптической системы транспортировки частиц, изогнутый монокристалл 2, поглотитель 3 пучка, хвостовую часть 4 магнитооптиче. ской системы, систему 5 диагностики пучка.

Способ измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах реализуется следующим образом.

На магнитооптической системе транспорти»

1 — (57) Изобретение относится к ускорительной технике . Цель изобретения — уменьшение времени измерения. Существо изобретения заключается в исполь1зовании асимметрично изогнутого монокристалла, содержащего изогнутый и прямолинейный участки, При. этом интенсивность отклоненных частиц измеря-. ют, направляя сначала пучок частиц в прямолинейный участок монокристалла, а затем в изогнутый, и по отношению измеренных значений судят о длине,деканалирования частиц в монокристалле. 3 ил, ровки частиц ускорителя (фиг,1) в кроссовере вместо одного из поворотных магнитов, в качестве отклоняющего элемента размещают изогнутый монокоисталл 2. Пучок высокой интенсивности)10 частиц/с наводят головной частью 1 магнитооптической системы на монокристалл 2. Неотклоненная часть пучка гасится в поглотителе 3, Отклоненные частицы, попадающие в аксептанс хвостовой части 4 магнитооптической системы, формируются ею и регистрируются обычной системой 5 диагностики пучка. Монокристалл при этом изогнут асимметрично (фиг.2), так что одна его часть длиной 1р изогнута на угол Q с постоянным радиусом кривизны R, другая, длиной L>, остается пря.мой. Пучок наводят на монокристалл cQ стороны прямой его части, как это показано на фиг.2. Затем монокристалл поворачивают и наводят на него пучок со стороны изогнутой части, как это показано на фиг.3, и повторно измеряют,интенсивность отклоненных частиц системой 5 диагностики пучка, В первом .

1632344 измерении частицы, деканалированные на прямой части монокристалла длиной 1, нв будут отклоняться монокристаллом и не захватываются хвостовой частью 4 магнитооптической системы. Во втором измерении 5 частицы, деканалированные на прямой части монокристалла, будут захвачены в аксептансе хвостовой части 4 магнитооптической системы,так как они уме повернуты монокристаллом, Таким образом отношение за-I регистрированных интенсивностей Й1/Й2 в первом и втором измерениях равно доле частиц, не испытавшихдеканалирования на прямой части монокристалла длиной L1

N1/1ч2 = ехр(-L1/1 о), 15 откуда получают выражение для определения длины деканалирования

LD = L1/Ь()2/ ) i)

Способ был опробован на магнитооптической системе транспортировки протонно- 20 го пучка с энергией 70 ГэВ. Монокристалл

Зе, вырезанный вдоль кристаллографической плоскости(110), был изогнут на угол а =

23 мрад и размещен вместо одного из поворотных магнитов. Длина изогнутой части 25 монокристалла L2 - 32 мм, длина прямой части L1 = 13 мм. Интенсивность зарегист- рированных отклоненных части1 в первом измерении составила N1 = 5 10 частиц/с, во втором й2- 1 10 частиц/с. 30

Для протонов с энергией 70 ГэВ в испытанном образце монокристалла германия получено значение длины деканалирования -09е(110) = 19 + 2 мм.

Использование данного способа изме- 35 рения длины деканаллрования обеспечивает по сравнению с существующими способами следующие преимущества.

В связи с1 использованием интенсивных пучков > 10 частиц/с против 10 частиц/с

6 достигается хорошая статистическая обеспеченность, вследствие этого время измерения сокращается до 1 ч ротив -: t мес в прототипе.

В способе не требуется специальной экспериментальной установки, а измерение проводится на обычной магнитооптической системе транспортировки частиц высоких энергий.

В связи с хорошей статистической обеспеченностью появляется воэможность испытания протяженных образцов монокристаллов.

Формула изобретения

Способ измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах, заключающийся в пропускании частиц через изогнутый монокристалл и регистрации отклоненных частиц, отличающийся тем, что, с целью уменьшения времени измерения, монокристалл дополнительно снабжают прямолинейной частью, при этом пучок наводят на монокристалл сначала со стороны прямой его части и производят измерение интенсивности частиц, отклоненных монокристаллом, B конце магнитооптической системы, затем монокристалл переворачивают и наводят на него пучок со стороны изогнутой части и повторно производят измерение интенсивности, а по отношению измеренных интенсивностей определяют длину деканалирования, 1632344

Составитель Е. Громов

Редактор Т. Лошкарева Техред М.Моргентал Корректор M. Шароши

Заказ 2811 Тираж 175 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035. Москва, )К-35, Раушская наб.. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород. ул.Гагарина. 101

Способ измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах Способ измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах Способ измерения длины деканалирования частиц высоких энергий в монокристаллах 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике генерации ионизирующих излучений

Изобретение относится к ускорительной технике

Изобретение относится к ускорительной технике

Изобретение относится к ускорительной технике

Изобретение относится к ускорительной технике, в частности к технике высокочастотных ускорителей заряженных частиц, и может быть использовано при создании С1 ьноточных ускорителей , работающих в режиме ускорения за счет запасенной в.ускоркюшей системе энергии

Изобретение относится к импульсной технике -и может быть использовано для питания инжекторов ускорителей заряженных частиц, рентгеновских трубок и т.д

Изобретение относится к технике СВЧ и может быть использовано в ускорительной технике

Изобретение относится к СВЧ-технике и может быть использовано для определения электродинамических характеристик СВЧ-трактов, например замедляющих структур однородных или неоднородных ускоряющих волноводов

Изобретение относится к ускорительной технике, в частности к оборудованию для разделения пучков заряженных частиц в каналах транспортировки ускорителей

Изобретение относится к области техники ускорителей заряженных частиц и может быть использовано в качестве ускоряющей структуры для промежуточных и высоких энергий ускоряемых частиц

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано в высокоинтенсивной начальной части ускорителя с пространственно-однородной квадрупольной фокусировкой

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано в высокоинтенсивной начальной части ускорителя с пространственно-однородной квадрупольной фокусировкой

Изобретение относится к системам высокочастотного питания ускорителей заряженных частиц, конкретно к системам высокочастотного питания резонансных ускорителей от магнетронов

Изобретение относится к области медицины, медицинской аппаратуры, а именно к устройствам и способам для лучевой терапии

Изобретение относится к области ускорительной техники и может быть использовано в устройствах ускорения ионных пучков

Изобретение относится к системам высокочастотного питания ускорителей заряженных частиц, конкретно к системам высокочастотного питания резонансных ускорителей от магнетронов

Изобретение относится к ускорительной технике и может быть использовано при разработке бетатронов с выведенным электронным пучком, например, для целей лучевой терапии
Наверх