Устройство для измерения спектральной чувствительности приемников излучения

 

Изобретение относится к энергетической спек рофотометрии и может быть применено в качестве средства измерения спектральной чувствительности приемников излучения. Целью изобретения является повышение точности и упрощение конструкции . Излучение от источника 1 пррходит первую фокусирующую систему 6, монохроматор 3, вторую фокусирующую систему 11, коммутатор 7 и регистрируется исследуемым приемником 8. В другом положении коммутатора 7 излучение от источника 1 проходит указанный путь, отражается от зеркала 13, опять поступает на коммутатор 7 и в обратном ходе лучей проходит систему 11, монохроматор 3 и систему 6. При этом регистрация ведется с помощью опорного приемника 12. В третьем положении коммутатора 7 излучение от эталонного источника 9 проходит коммутатор 7, систему 11, монохроматор 3, систему 6 и регистрируется опорным приемником 12. Устройство позволяет полностью исключить погрешность, связанную с влиянием атмосферы. 1 з.п. флы, 3 ил. СП с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕспуБлик (5!)5 G 01 J 1/10

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

В б

К АВТОРСКОМУ. СВИДЕТЕЛЬСТВУ. (21) 4657244/25 (22) 02.03.89 (46) 15.06.91. Бюл. М 22 (72) Ю.Н.Долганин и А.Г.Тулубенский (53) 535.853 (088,8) (56) Эпштейн М.И. Измерения оптического излучения в электронике. M., Энергия, 1975, с, 184.

Авторское свидетельство СССР

М 1314237, кл. G 01 J 1/10, 1985. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

СПЕКТРАЛЬНОЙ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ

ПРИЕМНИКОВ ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Изобретение относится к энергетической спектрофотометрии и может быть при-. менено в качестве средства измерения спектральной чувствительности приемников излучения. Целью изобретения является повышение точности и упрощение конст„„5U„„1656339 А1 рукции. Излучение от источника 1 пррходит первую фокусирующую систему 6, монохроматор 3, вторую фокусирующую систему 11, коммутатор 7 и регистрируется исследуе мым приемником 8. В другом положении коммутатора 7 излучение от источника 1 проходит указанный путь, отражается от зеркала 13, опять поступает на коммутатор

7 и в обратном ходе лучей проходит систему

11, монохроматор 3 и систему 6. При этом регистрация ведется с помощью опорного приемника 12. В третьем положении коммутатора 7 излучение от эталонного источника

9 проходит коммутатор 7, систему 11, монохроматор 3, систему 6 и регистрируется опорным приемником 12. Устройство позволяет полностью исключить погрешность, связанную с влиянием атмосферы. 1 з.п. ф-

llbl, 3 Pill.

1656339

Изобретение относится к энергетической спектрофотометрии и может быть применено в качестве средства измерения спектральной чувствительности приемников излучения в широкой области спектра.

Цель изобретения — повышение точности и упрощение конструкции.

На фиг.1 изображена принципиальная схема устройства для измерения спектральной чувствительности приемников излучения; на фиг.2 — схема обработки измеряемых сигналов; на фиг.3 — дисковый модулятор.

Устройство содержит последовательно расположенные источник 1 излучения с выходной диафрагмой 2, монохроматор 3 с входной и. выходной щелями 4 и 5, первую фокусирующую систему 6, оптический коммутатор 7, исследуемый приемник 8 излучения, эталонный источник 9 излучения с выходной диафрагмой 10, вторую фокусирующую систему 11, опорный приемник 12 излучения, первое плоское зеркало 13 и второе плоское зеркало 14, Опорный приемник

12 излучения и исследуемый приемник 8 излучения электрически соединены с блоком 15 обработки измеряемых сигналов, Первая фокусирующая система 6 содержит плоское зеркало, грань которого пересекает оптическую ось перпендикулярно входной щели 4 монохроматора 5. Излучение источника 1 излучения, отражаясь от плоского зеркала и фокусируясь сферическим зеркалом, попадает на входную щель

4 монохроматора 3. Излучение, исходящее из входной щели 4 монохроматора 3, фокусируясь сферическим зеркалом, проходит мимо плоского зеркала и попадает на чувствительную поверхность опорного приемника 12 излучения. В. плоскости, оптически сопряженной с выходной щелью 5 монохроматора 3, установлено первое плоское зеркало 13, а в оптической ветви эталонного источника излучения 9 — второе плоское зеркало 14.

Блок 15 содержит последовательно соединенные (фиг.2) усилитель 16 переменноготока, синхронный детектор 17, связанный с датчиком 18 фазы, расположенный на зеркальном модуляторе 7, Синхронный детектор 17 последовательно соединен с первым измерителем 19 отношения и вторым измерителем 20 отношения, другой вход которого соединен через усилитель 21 с исследуемым приемником 8 излучения, Выход второго измерителя 20 отношений является выходом блока 15 обработки сигналов, В коммутаторе 7 (фиг.3) период Т содержит три зеркальных сектора 22, 23 и 24 с угловым размером Т З, каждый из которых

55 наклонен к оси вращения коммутатора 7 на углы p>., pz и у>з соответственно, которые выби аются иэ условия

2 р — р2 = а2, (1) где ai и а2 (фиг,1)-углы между нормалями к чувствительной площадке исследуемого приемника 8 излучения и к первому зеркалу

13 и нормалями к первому плоскому зеркалу

13 и к выходной диафрагме 10 эталонного источника 9 излучения соответственно, Коммутатор 7. может быть выполнен также в виде плоского зеркала, установленного на поворотной платформе.

Устройство работает следующим образом.

Коммутатор 7 последовательно визирует чувствительную поверхность исследуемого приемника 8 излучения, первое плоское зеркало 13 и выходную диафрагму

10 эталонного источника 9 излучения.

В первую треть периода работы коммутатора 7 излучение источника 1 излучения с помощью первой фокусирующей системы 6 отклоняется плоским зеркалом и поступает нэ входную щель 4 монохроматорэ 3. С выхода монохроматора 3 излучение при помощи второй фокусирующей системы 11 и коммутатора 7 попадает на исследуемый приемник 8 излучения. При этом сигнал с исследуемого приемника 8 излучения равен

Опр (Л} = Snp (Л) К1 Апр L1 (Л) A (Л) г м (Л) <2 (Л} Х хр7(л) г (л)лл, (2) где Япр(Л) — абсолютная спектральная чувствительность исследуемого приемника 8 излучения;

Ф

Апр — площадь чувствительной площадки исследуемого приемника 9 излучения;

Lq(1) — спектральная плотность излучения источника 1 излучения; х1 (Л), тг(Л) — спектральные коэффициен- . ты пропускания первой и второй фокусирующих систем 6 и 11 соответственно;

К1 — коэффициент, учитывающий геометрические свойства устройства;

t (Л) — спектральный коэффициент пропускания монохроматора 3; рз (Л) — спектральный коэффициент отражения граней коммутатора 7; та (Л) — спектральный коэффициент пропускания атмосферы;

Л(Л) — выделяемый спектральный интервал монохроматора 3.

В следующую часть периода работы коммутатора 7 излучение от источника 1 и излучения через первую фокусирующую систему 6, монохромэтор 3, вторую фокусирующую систему 11 и грань коммутатора 7 собирается на первом зеркале 13. отража1656339 ясь от которого оно через коммутатор 7 и вторую фокусирующую систему 11 попадает в выходную щель 5 монохроматора 3.

Монохроматор 3 в этом случае работает в обратном ходе лучей и выполняет функции спектрорадиометра прототипа.

Излучение, исходящее из входной щели

4 монохроматора 3, после фокусировки Ilpoходит мимо плоского зеркала и собирается на опорном приемнике 12 излучения. Первая фокусирующая система 6 позволяет одновременно посылать излучение источника

1 излучения во входную щель 4 монохроматора 3 и излучение, исходящее из входной щели 4 на опорный приемник 12 излучения за счет виньетирования излучения, что уменьшает облученность опорного и исследуемого приемников 12 и 8 в 2 раза.

Однако зто уменьшение облученности приемников излучения не приводит к снижению точности измерения, так как режим работы приемников излучения остается оптимальным (измерения проводятся при отношении сигнал/шум более 100).

Монохроматор 3 имеет s прямом и в обратном ходе лучей одинаковый спектральный коэффициент пропускания, поэто- му сигнал от источника 1 излучения, снимаемый с опорного приемника 12 излучения может быть записан в виае

Оо, (Л) = Я„(Л) к2 A L, (Л) g (Л) т2 (Л) g (Л) х р (Л) р13(Л) Й (A) ЛЛ, (3) где Яоо(Л) — абсолютная спектральная чувствительность опорного приемника 12 излучения;.

Аоп — площадь чувствительной площадки опорного приемника 12 излучения; риаз (Л) — спектральный коэффициент отражения первого плоского зеркала 13;

Кг — геометрический коэффициент устройства при проходе излучения от источника 1 излучения до опорного приемника 12 излучения.

B третьей фазе периода работы коммутатора 7 излучение эталонного источника 9 излучения, отражаясь от второго плоского зеркала 14.и грани коммутатора 7, собирается второй фокусирующей системой 11 в выходной щели 5 монохроматора 3. Далее монохроматическое излучение, выходящее из щели 4, первой фокусирующей системой

6 собирается на опорном приемнике 12 излучения. При этом монохроматор 3 работает также в обратном ходе лучей. Сигнал с этого приемника излучения определяется выражением о.. (Л} =Ы(Л}5.. (Л) Кз А,.р(Л}р(Л} х е (Л) тм (Л} А (Л) гз (Л) ЛЛ, (4) 55

М (Л) = . (6) и (Л) а спектральная чувствительность исследуемого приемника излучения определяется вйражением где L2(k) — спектральная яркость излучения эталонного источника 9 излучения; р14 (Л) — спектраль ный коэффициент отражения второго плоского зеркала 14;

5 Кз — геометрический коэффициент устройства при распространении излучения от эталонного источника 9 излучения до опорного приемника 12 излучения.

Учитывая идентичность технологии из10 готовления первого и второго плоских зеркал 13 и 14 (р1з(Л) =р14(Л)), равенство оптических путей (2-4), (12-4) и (5-8), (5-13), (5-9), соответственно, что ведет при всех измерениях к одинаковому коэффициенту

15 пропускания атмосферы r,(Л), условие

Ps =, — (где j4 и j3

/ 11 второй фокусирующих систем 6 и 11 соответственно), принимая во внимание, что апертуры всех оптических элементов (первой и второй фокусирующих систем 6 и 11 и монохроматора 3) согласованы, и используя соотношения (2)-(4), можно записать

lg) 0 А 0о (Л) lgl 2 1 0ол (Л) й)ос Апр ЛЛ где иаэс — входной апертурный угол устройства.

Определение коэффициентов К1, Кр и Кз

3р устройства производят по известным метах дикам энергетических расчетов оптических систем.

Сигналы Uo,s (Л) и <ол (Л) опорного приемника 12 излучения, предварительно уси35 ленные усигителем 16 переменного тока (фиг.2), подаются на измерительный вход синхронного детектора 17. В качестве опорных используются сигналы, синфазные с измеряемыми, поступающими от датчика 18

40 фазы, расположенного на коммутаторе 7.С выхода синхронного детектора 17 сигналы поступают на соответствующие входы измерителя 19 отношения, где происходит их деление, Сигнал, пропорциональный ре45 Я Л зультату деления (, ), подается на ио. (Л) первый вход второго измерителя 20 отношений, на другой вход которого поступает уси5р ленный в усилителе 21 сигнал аппп(Л) исследуемого приемника 8 излучения 8. В результате фиксируется измеряемая величина

1б56339

Зпл () (7) ° Изобретение позволяет измерять абсолютную спектральную чувствительность приемников излучения. При этом полностью исключается погрешность, связанная с влиянием атмосферы на результаты измерений, так как обеспечивается равенство оптических путей от выходной диафрагмы источника излучения и чувствительной площадки опорного приемника излучения до входной щели монохроматора и от выходной щели монохроматора до чувствительной площадки исследуемого приемника излучения, первого плоского зеркала и выходной диафрагмы эталонного источника излучения.

Формула изобретения

1. Устройство для измерения спектральной чувствительности приемников излучения, содержащее оптически связанные источник излучения с выходной диафрагмой, первую фэкусирующую систему, монохроматор с входной и выходной щелями, вторую фокусирующую систему, оптический коммутатор, исследуемый приемник излучения и эталонный источник излучения с выходной диафрагмой, а также опорный приемник излучения, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и упрощения конструкции, оно дополнительно содержит первое и второе плоские зеркала, первое плоское зеркало оптически связано через оптический коммутатор и вторую фокусирующую систему с, Bûõoäíoé щелью монохроматора и размещено так, что его рабочая поверхность перпендикулярна оптической оси и оптически сопряжена с выходной щелью. монохроматора, второе плоское зеркало размещено по ходу излучения между эталонным источником излучения и оптическим коммутатором, опорный

5 приемник излучения через первую фокусирующую систему оптически связан с входной щелью монохроматора, первая фокусирующая система выполнена так, что одновременно оптически связаны с входной

10 щелью монохроматора источник излучения и опорный приемник излучения, а оптический коммутатор выполнен так, что nooseредно оптически связаны с выходной щелью монохроматора исследуемый приемник из15 лучения, первое плоское зеркало и выходная диафрагма эталонного источника излучения, при этом оптические пути от выходной диафрагмы источника излучения и чувствительной поверхности опорного при20 емника излучения до входной щели монохроматора и от выходной щели монохроматора до чувствительной поверхности исследуемого приемника излучения, рабочей поверхности первого плоского зер25 кала и выходной диафрагмы эталонного источника излучения соответственно равны.

2. Устройство по п.1, о т л и ч а ю щ е ес я тем, что оптический коммутатор выполнен в виде дискового модулятора, угловой периЬд

30 которого разделен на три равных зеркальных сектора, каждый из которых наклонен на угол относительно оси вращения дискового модулятора, обеспечивающий поочередную оптическую связь с выходной щелью

35 монохроматора чувствительной поверхности исследуемого приемника излучения, первого плоского зеркала и выходной диафрагмы эталонного источника излучения, 1656339

В-о

Составитель С, Иванов

Редактор М, Келемеш Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор Т. Палий

Заказ 2045 Тираж 338 Подписное

8НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Устройство для измерения спектральной чувствительности приемников излучения Устройство для измерения спектральной чувствительности приемников излучения Устройство для измерения спектральной чувствительности приемников излучения Устройство для измерения спектральной чувствительности приемников излучения Устройство для измерения спектральной чувствительности приемников излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области метрологии и фотометрии

Изобретение относится к фотометрии астрономических объектов и позволяет проводить электрофотометрические измерения с повышенной точностью и надежностью, что достигйется при помощи встроенной системы калиброки чувствительности фотоприемника

Изобретение относится к области спектрофотометрии и может быть применено для измерений спектрального коэффициента яркости конструктивных и оптических материалов, а также для аттестации стандартных образцов по спектральному коэффициенту яркости и спектральному коэффициенту диффузии отражения в инфракрасной области

Изобретение относится к области оптико-электронного приборостроения и предназначено для измерения яркостных характеристик ветровых волн

Изобретение относится к фотометрии жидких сред и может использоваться в химической, нефтеперерабатываю щей , пищевой и др

Изобретение относится к области энерг-етической спектрофотометрии и может быть применено в качестве исходного средства для метрологической аттестации первичных преобразователей и измерителей потока излучения и энергетической освещенности

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для сравнения интенсивностей световых потоков

Фотометр // 1226073
Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано для анализа нерассеивающих оптически однородных веществ

Изобретение относится к измерительной технике в части создания эталонных устройств для передачи размера единицы средней мощности оптического излучения, поверки и калибровки средств измерений средней мощности оптического излучения, оптических аттенюаторов и источников оптического излучения в волонно-оптических системах передачи (ВОСП) и может быть использовано в ранге рабочего эталона средней мощности в ВОСП в рамках "Государственной поверочной схемы для средств измерений средней мощности оптического излучения в ВОСП" - МИ 2558-99

Изобретение относится к области измерений характеристик светорассеяния объектов

Изобретение относится к области измерений характеристик светорассеяния оптико-электронных приборов (ОЭП) и может быть использовано в технике экспериментального измерения индикатрисы отражения, пеленгационной характеристики и эффективной площади рассеяния ОЭП в лабораторных условиях

Изобретение относится к области измерения оптических характеристик объектов, более конкретно к области измерений яркостных характеристик объектов в лабораторных и натурных условиях

Изобретение относится к области космических технологий, в частности к способам полетной калибровки спутниковых сенсоров оптического диапазона в абсолютных энергетических единицах, и может быть использовано для калибровки спутниковых сенсоров высокого пространственного разрешения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в фотометрии в качестве средства измерений световой экспозиции, создаваемой источниками оптического излучения

Изобретение относится к энергетической спектрофотометрии и может быть применено в качестве средства измерения спектральной чувствительности приемников излучения
Наверх