Способ технологической приработки приборов

 

Изобретение относится к радиотехнике, в частности к радиои электроизмерительным приборам, и может применяться при организации технологической приработки и контроля качества радиои электроизмерительных приборов. Целью изобретения является упрощение способа и повышение достоверности контроля. При измерении параметров приборов 3 ... N в процессе приработки в качестве образцовой меры используют значение группового параметра, который формируют из совокупности индивидуальных параметров находящихся на приработке приборов. Это осуществляется с помощью блока 1 управления, связанного через канал 2 общего пользования с приборами 3 ... N. При осуществлении текущей оценки группового параметра оптимизируется длительность приработки. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

;(я) G 01 R 31/28 Т

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ4ЕТЕЛЬСТВУ (21) 4635067/21 (22) 09.01.89 (46) 30.06.91. Бюл. М 24 (72) С.М.Ермишин, А.Н.Крошкин, А,В.Степанов и И,А.Шайко (53) 621.317.799 (088.8) (56) Недоступ Л.А. Оптимизация контроля, регулировка и приработка приборов. Львов, Вища шк., 1987.

Патент США

М 3621394, кл. 324-124-114, 1972. (54) СПОСОБ ТЕХНОЛОГИЧЕСКОЙ ПРИРАБОТКИ ПРИБОРОВ (57) Изобретение относится к радиотехнике; в частности к радио- и электроизмерительным приборам, и может применяться при,, Ы„„1659923 А1 организации технологической приработки и контроля качества радио- и электроизмерительных приборов. Целью изобретения является упрощение способа и повышение достоверности контроля. При измерении параметров приборов 3 ... N в процессе приработки в качестве образцовой меры используют значение группового параметра, который формируют из совокупности индивидуальных параметров находящихся на . приработке приборов. Это осуществляется с помощью блока 1 управления, связанного через канал 2 общего пользования с приборами.3 ... N, При осуществлении текущей оценки группового параметра оптимизируется длительность приработки. 1 ил. !659923

30 ственного контроля параметров приборов проводится прогнозирование изменения индивидуальных и группового параметров на несколько циклов вперед, Потенциально. 35

50

Изобретение относится к радиотехнике, в частности к радио- и электроизмерительным приборам, и может применяться при органиэации технологической приработки и.контроля качества радио- и электроизмерительных приборов, узлов и блоков радиоэлектронной аппаратуры и изделий, качество изготовления и функцлонирования которых оценивается:-величествен нымл показателями их параметров.

Цель изобретения — упрощение способа и повышение достоверности контроля.

Сущность способа заключается в том, что при измерении параметров приборов в качестве образцовой меры используется значение группового параметра., который формируют с помощью статистических процедур из совокупности эначенил индивидуальных параметров находящихся на приработке приборов. Значения параметров отдельных приборов сравниваются с групповым параметром и в случае, если эта разность превышает поле допуска на параметр, прибор снимается с приработки на ремонт и регулировку. После этого, исключив показания приборов, снятых с приработки, корректируют значение группового параметра по совокупности значений параметров исправных пр лборов. Вышеизложенные операции повторяют циклически, причем в каждом цикле помимо непосреднеисправные приборы, значения параметров которых выйдут за поле допуска в прогнозный период с заданной вероятностью также снимаются с приработки на ремонт и регулировку. Кроме того, в каждом цикле определяется разброс группового параметра и сравнивается с некоторым заданным значением, свойственным для стабилизировавшихся параметров. Уменьшение раэброса rpynnoaoro параметра до заданного значения свидетепьствует об окончании технологической приработки. Таким образом, достигается огггимальная для каждой группы приборов длительность технологической приработки. Зто позволяет избежать значительных материальных затрат, связанных с недоприработкой, когда отдельные приборы в силу разбро:а параметров в партиях комплектующйх элементов и критичности схем к внешним возцействиям не успевают стабилизировать свои параметры, что приводит к отказам в эксплуатации, и с переприработкой, когда приборы в силу хорошего качества комплектующих изделий и отлаженности технологических процессов

25 изготовления быстро стабилизируют свои параметры, но бесцельно расходуют ресурс и потребляют энергию.

Один иэ возможных вариантов устройства для реализации способа представлен на чертеже.

Автоматизированная система состоит из блока 1 управления, например, на базе персональной ЭВМ, к которой подключены, например, через канал общего пользования

2 прирабатываемые приборы 3.1-3.N. Ha входы приборов подается произвольное значение измеряемого параметра. Требования к точности установки параметра и стабильности источника не предъявляются.

Записанная в память блока 1 управления программа состоит из двух частей. Сгдна из них организует периодический опрос показаний приборов по каналу общего пользования, Другая часть программы при помощи статистических процедур в реальном масштабе времени формирует групповой параметр, осуществляет с заданной вероятностью браковку приборов, сигнализирует об окончании технологической приработки и документируЬт ее результаты.

Исходными данными для программы являются; количество подключенных приборов, период опроса их показаний, необходимая вероятность браковки, значение допустимой по НТД погрешности измерения и раз-. брос группового параметра, характерный для окончания технологической приработки, В данной системе в качестве образцового сигнала выступает искусственно формируемый групповой параметр, например, в рассматриваемом случае таковым можно считать среднее значение показаний приборов 3.1-3,N, Формула изобретения

Способ технологической приработки приборов, заключающийся в том, что на группу приборов подают напряжение пита-, ния и входное воздействие, воздействуЮт на приборы внешними факторами, регистрируют результаты измерений для каждого из приборов, сравнивают результаты измерений с образцовой мерой, о т л и ч а ю щ ий с я тем, что, с целью упрощения способа и повышения достоверности контроля, в качестве образцовой меры используют значение группового параметра для группы приборов. который формируют из совокупности результатов измерений, определяют расхождение результатов измерения для каждого из приборов с групповым параметром, сравнивают его с полем допуска соответствующей величины, снимают с приработки как неисправные приборы, результат сравнения для которых указывает

1659923

Составитель В.Степанкин

Редактор Т.Лошкарева Техред М.Моргентал Корректор И,Муска

Заказ 1843 Тираж 439 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 е на выход за пределы поля допуска, корректируют значения группового параметра, исключают из него результаты измерений приборов, признанных неисправными, циклически повторяют приработку оставшейся группы приборов, в каждом цикле прогнозируют значения результатов измерений каждого прибора и группового параметра, снимают с приработки как потенциально ненадежные приборы, результаты измерений которых с заданной вероятностью выйдут эа предел допуска, в прогнозируемый период определяют в каждом цикле разброс группового параметра и сравнивают его с

5 заданной величиной, продолжают приработку до тех пор, пока разброс группового параметра не уменьшается до значений, соответствующих стабилизированным характеристикам, и в этот момент заканчивают

10 технологическую приработку.

Способ технологической приработки приборов Способ технологической приработки приборов Способ технологической приработки приборов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электроизмерительной технике, в частности к средствам поверки измерительных компараторов

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля тока потребления интегральной схемы без выпаивания из печатной платы

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам автоматического контроля параметров интегральных стабилизаторов напряжения

Изобретение относится к электротехнической , радиотехнической и электронной промышленности и найдет применение при контроле печатных плат

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может использоваться для допускового контроля электротехнического оборудования, например исправности диодных приборов светодиодных матричных экранов

Изобретение относится к измерительной и вычислительной технике, макет быть использовано в автоматизированных системах контроля параметров с применением ЭВМ и является усовершенствованием устройства по авт

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля радиоэлектронных логических блоков о Целью изобретения является повышение достоверности контроля0 Кроме того, может быть обеспечено уменьшение аппаратурных затрат

Изобретение относится к классу устройств для контроля и диагностики параметров тиристорных преобразователей, управление которыми осуществляется на базе микропроцессорной техники

Изобретение относится к области теплового неразрушающего контроля силовой электротехники, в частности тиристоров тиристорных преобразователей, и предназначено для своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода изделия в целом в специальный контрольный режим
Изобретение относится к области диагностирования силовой электротехники, в частности тиристорных преобразователей, и предназначено для поддержания надежности тиристорного преобразователя на требуемом уровне и своевременного выявления дефектных тиристоров, используемых в тиристорных преобразователях, без вывода последних в специальный контрольный режим

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в качестве устройства диагностики при проведении пусконаладочных работ, эксплуатации и ремонте устройств автоматики и вычислительной техники на микросхемах эмиттерно-связанной логики (ЭСЛ)

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике для диагностики состояния объекта по результатам преобразования детерминированных и случайных сигналов и может быть использовано в телеметрических системах с эвакуируемыми накопителями информации ("черный ящик") и радиоканалом для передачи катастрофических отказов

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для диагностирования разветвленных электронных цепей

Изобретение относится к способам электрического контроля и испытаний на постоянном и переменном токе с последующей отбраковкой подложек из диэлектрика или полупроводника, содержащих изделия электронной техники и электротехники (электрорадиоизделия), содержащих плоские и объемные проводящие области, содержащих активные и пассивные функциональные элементы в виде полупроводниковых приборов, многослойных трехмерных структур, пленок с различным типом электрической проводимости, жидкокристаллических панелей и др

Изобретение относится к автоматике и контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля и поиска неисправностей в цифровых электронных устройствах

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности цифровых блоков и схем, поиска и локализации в них неисправностей как в процессе регулировки, так и в процессе эксплуатации
Наверх