Способ определения параметров напряженно-деформированного состояния объекта

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях напряженно-деформированного состояния объектов из оптически чувствительных материалов. Целью изобретения является повышение информативности путем определения суммы главных напряжений. К объекту из оптически чувствительного материала прикладывают механическую нагрузку. Просвечивают объект поляризованным излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют разность главных напряжений. Одновременно с этим регистрируют интенсивность отраженного или прошедшего излучения и по ней находят сумму главных напряжений. По полученным данным вычисляют значения главных деформаций и напряжений.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 11/18

ГОСУДАPСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4715905/28 (22) 10 .07.89 (46) 15.08,91. Бюл. ¹ 30 (75) Ю.А. Рудяк (53) 531.781.2(088.8) (56) А.study on the reflective method of

dynamic holo-photoelasticity uslnf ruby

laser/Tong YingweL Ll Hongql//Proc nt.

Conf, Ехр. Mech, Beljing, Oct. 7 — 10, 1985, р.

285 — 291, (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ

НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОГО

СОСТОЯНИЯ ОБЪЕКТА (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях напряженно-деформироИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях напряженно-деформированного состояния объектов из оптически чувствительных материалов.

Целью изобретения является повышение информативности путем определения суммы главных напряжений.

Способ осуществляется следующим образом.

К объекту из оптически чувствительного материала прикладывают механическую нагрузку. Просвечивают объект поляризованным излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой. определяют разность главных напряжений и разность главных деформаций. Одновременно с регистрацией интерференционной картины регистрируют фотоприемником интенсивность отраженного или прошедшего излучения. Экспериментально установлено, что величины этих

„„ 0 „„1670388 А1 ванного состояния объектов из оптически чувствительных материалов. Целью изобретения является повышение информативности путем определения суммы главных напряжений. К объекту из оптически чувствительного материала прикладывают механическую нагрузку, Просвечивают объект поляризованным излучением и регистрируют интерференционную картину, по которой определяют разность главных напряжений.

Одновременно с этим регистрируют интенсивность отраженного или прошедшего излучения и по ней находят сумму главных напряжений. По полученным данным вычисляют значения главных деформаций и напряжений. интенсивностей однозначно связаны с суммой главных напряжений. Определяют сумму главных напряжений, а также сумму главных деформаций. На основе полученных данных определяют значения главных напряжений и деформаций, Формула изобретени

Способ определения параметров напряженно-деформированного состояния объекта, заключающийся в том, что просвечивают объект поляризованным излучением, регистрируют интерференционную картину и по ней определя ют параметры напряжен но-деформированного состояния, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности путем определения суммы главных напряжений, одновременно с регистрацией интерференционной картины регистрируют интенсивность отраженного или и рошедшего излучения и по ее величине определяют сумму главных напряжений.

Способ определения параметров напряженно-деформированного состояния объекта 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, к способам контроля круговых структур (синтезированных голограмм и др.)

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения изгибных деформаций

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к экспериментальным методам механики деформируемого твердого тела, и может быть использовано для определения параметров напряженно-деформированного состояния (НДС) прозрачных тонкостенных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении напряжений в крупногабаритных изделиях под действием собственной массы

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению перемещений объектов интерференционными методами

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследованиях напряженно-деформированного состояния моделей геологических объектов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, в частности к измерению деформаций твердых тел с применением реплик

Изобретение относится к определению деформаций в изделиях посредством датчиков деформации, закрепляемых на изделиях

Изобретение относится к измерительной технике, к определению деформаций цилиндрических оболочек оптическими методами

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области измерения деформации объектов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для обнаружения неплоскостности свободной поверхности жидкости

Изобретение относится к области определения координат точек и ориентации участков поверхности тела сложной формы

Изобретение относится к горному и строительному делу и может использоваться при измерениях параметров напряженно-деформированного состояния горных пород и массивных строительных конструкций с использованием скважинных упругих датчиков, а также при оценке контактных условий в технических системах, содержащих соосные цилиндрические элементы

Изобретение относится к способам исследования и контроля напряженно-деформируемых состояний, дефектоскопии и механических испытаний материалов

Изобретение относится к средствам измерения сил и деформаций тел
Наверх