Устройство для определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн металлическими пленками

 

Изобретение относится к оптике, изучающей распространение оптического излучения в планарных структурах диэлектрик - металл - диэлектрик. Целью изобретения является уменьшение времени измерений и повышение точности определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн металлическими пленками. Излучение, возбуждающее поверхностную волну, явпяется импульсным. Ширина металлической пленки выбирается не больше диаметра луча излучения, а толщина - не больше величины, при которой за время импуг.ьса излучения устраняется градиент температуры в пленка вдоль нормали к ее поверхности. Измеряемой величиной является изменение падения электрического напряжения, обусловленного нагревом пленки вследствие возбуждения поверхностной волны, при протекании по пленке постоянного эпектрического тока. 1 ил. ч Ё

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)ю G 01 N 21!59

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

6 (21) 4721413/25 (22) 26.07.89 (46) 15,10.91. Бюл, М 38 (71) Университет дружбы народов им. Патриса Лумумбы (72) M.М.Большаков, А.К.Никитин, А.А.Тищенко и Ю.И.Самодуров (53) 535.024 (088.8) (56) A.0tto. Excitation of nonradiative surface

plasma waves In silver Ьу the method of

frustrated total reflection — Z. — Physlk, 1968, ч. 216, s. 398 — 410.

Жижин Г.Н. и др. Распространение ПЭВ пятимикронной области спектра, /Письма в

ЖТФ, 1987, т. 13, М 15, с. 944-948. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

КОЭФФИЦИЕНТА ПОГЛОЩЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНЫХ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ВОЛН

МЕТАЛЛИЧЕСКИМИ ПЛЕНКАМИ

Изобретение относится к оптике, исследующей распространение оптического излучения в планарных поглощающих структурах, точнее в структурах диэлектрик — металл — диэлектрик, и может быть использовано для определения оптических постоянных тонких металлических пленок в видимом и ИК диапазонах, спектроскопии поверхности металлов и в качестве датчика внешних воздействий, Целью изобретения является повышение точности и производительности измерений.

На черетеже представлена схема предлагаемого устройства.... Ж, „ 1684634 А) (57) Изобретение относится к оптике, изучающей распространение оптического излучения в планарных структурах диэлектрик— металл — диэлектрик. Целью изобретения является уменьшение времени измерений и повышение точности определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн метал ическими пленками, Излучение, возбуждающее поверхностную волну, являешься импульсным.

Ширина металлической пленки выбирается не больше диаметра луча излучения, а толщина — не больше величины, при которой за время импульса излучения устраняется градиент температуры в пленке вдоль нормали к ее поверхности, Измеряемой величиной является изменение падения электрического напряжения, обусловленного нагревом пленки вследствие возбуждения поверхностной волны, при протекании по пленке постоянного электрического тока. 1 ил, Устройство содержит источник 1 импульсного монохроматического излучения, элемент 2 преобразования объемной электромагнитной волны 3 в поверхностную электромагнитную волну 4, держатель металлической пленки 5, держатель 6 в виде планарной оптической подложки, электроды 7, последовательно расположенные вдоль трека этой волны за точкой обрыва связи между объемной 3 и поверхностной 4 волнами, источник 8 постоянного тока, усилитель 9 и измеритель 10 электрического напряжения.

Устройство работает следующим образом.

1684634

Импульс монохроматического излучения длительностью At, имеющего отличную он нуля нормальную по отношению к поверхности металлической пленки 5 составляющую электрического поля, направляется из источника 1 излучения на элемент 2 преобразования объемной волны 3 в поверхностную волну 4 под углом возбуждения.

Возбужденная волна 4 распространяется по металлической пленке 5 вдоль оси Х и вследствие тепловых потерь затухает по экспоненциальном закону

I - =1, ехр(-а х), где Ip — энергия (интенсивность) поля поверхностной электромагнитной волны при

Х - О. т.е. в точке обрыва связи между поверхностной и объемной волнами; а — коэффициент поглощения.

Изменение температуры, а следовательно, и электрического сопротивления металлической пленки прямо пропорционально энергии поля волны в данной точке по оси Х. В случае адиабатического процесса нагревания пленки 5 за время At длительности импульса возбуждающего излучения изменение электрического сопротивления Л R участка металлической пленки 5, расположенного между электродами 7, обусловленное распространением поверхностной электромагнитной волны, равно:

S2.б С х + xi а хр б Х, (1) х1 где P — мощность р-составляющей излучения источника 1; д — эффективность возбуждения поверхностной электромагнитной волны;

P — температурный коэффициент электрического сопротивления материала пленки 5;

S — площадь поперечного сечения пленки 5, перпендикулярного к оси Х;

d — плотность материала пленки 5;

С вЂ” удельная теплоемкость материала пленки 5:

p — удельное электрическое сопротивление материала пленки 5;

Х1, Х2 — расстояние по оси Х соответственно от первого и второго (отсчет от элемента 2) электродов до точки обрыва связи между объемной 3 и поверхностной 4 волнами.

Изменение электрического сопротивления A R, определяемое формулой (1), обусловливает изменение падения элект20

35

40 типом точность определения коэффициента

55 рического напряжения Л О на участке металлической пленки 5 между электродами 7:

Au-I AR, (2), где! — сила постоянного электрического тока, протекающего через пленку 5, которое усиливается усилителем 9 и фиксируется измерителем 10 электрического напряжения. Зная величины физических характеристик пленки 5, мощность р-составляющей источника 1 излучения и эффективность преобразования объемной волны в поверхностную, при известных расстояниях Х1 и Х2 и силе тока I можно с помощью формул (1) и (2) однозначно определить величину коэффициента поглощения поверхностной электромагнитной волны. Парциальная ошибка определения коэффициента поглощения, обусловленная неточностью измерения напряжения A U =

0,018, составляет 0,01$. Основной вклад в суммарную ошибку определения коэффициента поглощения в устройстве вносят погрешности определения расстояний Х1 и

Хг, обусловленные конечными размерами электродов вдоль оси Х, и нестабильность мощности импульсного излучения. Однако размер электродов вдоль оси Х можно ограничивать требуемой величиной, а использование термостатированных (при низких температурах) источников импульсного монохроматического излучения поэволяет иметь нестабильность мощности импульсного излучения менее 1 (,. В этом случае суммарная ошибка определения коэффициента поглощения составляет 1,5ф, Время измерения не превышает длительности импульса излучения и для рассмотренного примера составляет 10 с.

Таким образом, по сравнению с протопоглощения предлагаемым устройством повышена в 5 раз, а время измерений сократ

Формула изобретения

Устройс, во для определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн металлическими пленками, содержащее источник монохроматического излучения, оптически связанный через элемент преобразования объемной электромагнитной волны в поверхностную электромагнитную волну с держателем образца, и измеритель электрического напряжения, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности и производительности измерений, в устройство дополнительно введены два электрода, усилитель и источник постоянного тока, электроды последовательно расположены

1684634

Составитель С.Голубев

Твхред М,Моргентал Корректор М«учеркеая

Редактор A,Ëåæíèíà

Заказ 3500 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по иаобретениам и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва. Ж-35. Рауаскею наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 на держателе образца вдоль направления распространения излучения и соединены параллельно с источником тока и усилителем, выход которого соединен с измерителем электрического напряжения, при этом размер электродов в направлении распространения излучения по крайней мере на порядок меньше расстояния между ними, а источник излучения выполнен им5 пульсным,

Устройство для определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн металлическими пленками Устройство для определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн металлическими пленками Устройство для определения коэффициента поглощения поверхностных электромагнитных волн металлическими пленками 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к фотометрии и спектрофотометрии и может быть использовано для определения коэффициентов пропускания (отражения) плоских и неплоских оптических элементов и систем в видимой и ИК-областях спектра

Изобретение относится к оценке пожароопасных свойств твердых горючих материалов , а именно к комплексной проверке правильности функционирования установки по определению дымообразующей способности

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к изме1 рению влажности путем использования инфракрасных волн

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к способам измерения концентрации определяемого компонента в анализируемом веществе по результату воздействия анализируемого вещества на вспомогательный оптический сигнал

Изобретение относится к технической физике и связано с исследованием оптических свойств твердых слабопоглощающих сильнорассеивающих материалов

Изобретение относится к технической физике, точнее к исследованию оптических свойств твердых слабопоглощающих сильнорассеивающих материалов

Изобретение относится к области определения физических параметров оптических деталей и может быть использовано для определения оптического поглощения и теппофизических характеристик оптических волокон

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для измерения концентрации жидких сред, в частности для измерения концентрации нефти в высокообводненной эмульсии, и может быть использовано в системах автоматизации процессов добычи и переработки нефти

Изобретение относится к технике очистки сточных вод, в частности к устройствам для измерения концентрации активного ила в сточных водах

Изобретение относится к оптическим методам анализа и может быть использовано для измерения дымности отходящих газов в энергетических отраслях промышленности и на транспорте

Изобретение относится к лабораторной технике, а именно к устройствам для цитофотометрических измерений и может быть использовано в биологии, медицине, сельском хозяйстве, геофизике и геохимии, а также других областях науки и производства, где необходимо количественное определение веществ в микроструктурах (органы, ткани, клетки, вкрапления микроэлементов и т.д.)

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для измерения оптической плотности газов с включениями в энергетической, машиностроительной и других отраслях промышленности

Изобретение относится к области аналитического приборостроения, в частности к способам и устройствам, использующим оптические методы регистрации информационного сигнала, и может быть использовано при клинической диагностике заболеваний и патологий, а также при экспериментальных исследованиях крови и ее составных частей

Изобретение относится к обработке жидкостей УФ излучением и предназначено для контроля параметров процесса стерилизации и дезинфекции жидкостей указанным способом

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к спектрофотометрии, конкретно к измерениям коэффициента пропускания, преимущественно широкоапертурных (к широкоапертурным оптическим пластинам мы относим пластины с апертурой более 50 мм) оптических пластин, и может найти применение в оптико-механической промышленности и при исследованиях и испытаниях оптических приборов и систем
Изобретение относится к способам исследования материалов с помощью оптических средств, а именно к определению биологической активности веществ, имеющих в своей структуре полимеры

Изобретение относится к области иммунологических исследований оптическими методами, в частности к приспособлениям для тестирования иммуноферментных анализаторов планшетного типа, состоящих из рамки, снабженной дном с отверстиями, выполненными с шагом, равным расстоянию между оптическими измерительными каналами иммуноферментного анализатора, набора оправок, выполненных в виде стаканов, и, по меньшей мере, одной рейки с гнездами под оправки

Изобретение относится к измерительной технике, касается оптических устройств для непрерывного измерения дымности отходящих газов и может быть использовано в химической, металлургической промышленности и топливно-энергетическом комплексе
Наверх