Способ контроля толщины льда

 

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения толщины льда в естественных и лабораторных условиях с повышенной производительностью за счет исключения необходимости проведения дополнительных измерений, связанных с контролем величины диэлектрической проницаемости льда. Способ основан на измерении электрической емкости конденсатора, диэлектриком которого является контролируемый участок льда 1, а обкладками - размещенный с возможностью перемещений над поверхностью льда 1 плоский электрод 2 и подледная вода 4, которая контактирует с вспомогательным электродом 5. Измерения электрической емкости проводят с помощью соответствующего блока 6 на частоте, превышающей 10 Гц, при которой диэлектрическая проницаемость льда является постоянной величиной, не зависящей ни от частоты питающего напряжения, ни от температуры льда. 1 ил. w &

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (sr)s G 01 В 7/08

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4711597/28 (22) 26.04,89 (46) 23,11.91. Бюл, N. 43 (72) С.К.Ерохин (53) 621.317.39:531.717(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 75945, кл. G 01 В 7/08, 1948.

Богородский В.В, и др. Физика пресноводного льда. — Л.: Гидрометеоиздат, 1971, с.177. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЪ| ЛЬДА (57) Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения толщины льда в естественных и лабораторных условиях с повышенной производительностью за счет исключения необходимости проведения дополнительных. Ж 1693362 Al измерений, связанных с контролем величины диэлектрической проницаемости льда.

Способ основан на измерении электрической емкости конденсатора, диэлектриком которого является контролируемый участок льда 1, а обкладками — размещенный с воэможностью перемещений над поверхностью льда 1 плоский электрод 2 и подледная вода 4, которая контактирует с вспомогательным электродом 5. Измерения электрической емкости проводят с помощью соответствующего блока 6 на частоте, превышающей 10 Гц, при которой диэлектрическая проницаемость льда является постоянной величиной, не зависящей ни оТ частоты питающего напряжения, ни от температуры льда. 1 ил.

1693362

Е1 Е Яд а— сЗ вЂ” ei s

Составитель М, Косоротов

Техред М.Моргентал Корректор О. Кундрик

Редактор О. Стенина

Заказ 4066 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины льда в естественных и лабораторных условиях.

Цель изобретения — расширение диапазона измерений и повышение производительности способа за счет осуществления измерений на частоте, при которой диэлектрическая проницаемость льда постоянна.

На чертеже представлена установка для осуществления способа, Способ осуществляют следующим образом.

На поверхность льда 1 устанавливают с возможностью перемещения плоский электрод 2 измерительного конденсатора. Для поддержания постоянного зазора д между поверхностью льда 1 и электродом 2 измерительного конденсатора последний устанавливается на катки 3 одинакового диаметра. Использование катков 3 облегчает также перемещение электрода 2 по поверхности льда 1 и при переходе к контролю новых участков последнего, Для обеспечения контакта с подледной водой 4, используемой в качестве электрода измерительного конденсатора. слчжит вспомогательный электрод 5, Электрод 2 и вспомогательный электрод Ь подключен к блоку 6, предназначенному для измерения электрической емкости измерительного конденсатора, диэлектриком которого является лед 1, и воздушный зазор д, а обкладками — электрод 2 и подледная вода 4. К выходу блока 6 подключен регистратор 7.

Измерение электрической емкости производится на частоте f > 10 Гц, при которой диэлектрическая проницаемость 1 льда не зависит ни от частоты питающего йапряжения, ни от температуры окружающей среды, т;е. является постоянной величиной, не требующей дополнительного контроля. Расчет толщины а льда при этом производится по формуле

5 где я1 — диэлектрическая проницаемость

10 воздуха; — диэлектрическая проницаемость льда, равная 3, 2 и постоянная по величине при частоте питания f >10 Гц;

S — площадь подвижного электрода; с — измеренная емкость; д — величина воздушного зазора между электродом и поверхностью льда.

Таким образом, контролируемая электрическая емкость измерительного конденсатора однозначно зависит от толщины диэлектрика, которым является лед, .Исключение необходимости проводить дополнительные замеры для исключения влияния изменения диэлектрической проницаемости льда существенно повышает производительность и расширяет диапазон измерений.

Формула изобретения

Способ контроля толщины льда, заключающийся в том, что измеряют емкость конденсатора, который образуют установленным над поверхностью льда электродом и находящейся под его поверхностью водой, по величине которой опреде35 ляюттолщинульда, отличаю щийс я .тем, что, с целью расширения диапазона измерений и повышения производительности контроля, измерение электрической емкости конденсатора производят на частоте

40 f)10 Гц.

Способ контроля толщины льда Способ контроля толщины льда 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для измерения толщины и качества диэлектрических покрытий на металлических изделиях и может найти применение в гибком автоматизированном производстве электрофорезного покрытия

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области неразрушающих методов контроля материалов, и может быть использовано для измерения толщин изоляционных покрытий, например эмалевых, лакокрасочных и других, наносимых , на проводящие изделия

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике, в частности к измерению и контролю толщины покрытий электрическими методами

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля изделий, имеющих диэлектрические , немагнитные покрытия, нанесенные на проводящие цилиндрические основания небольшого диаметра

Изобретение относится к измерительной технике и обеспечивает повышенную разрешающую способность профильного контроля пустотелых и открытых объектов из диэлектриков, а также из параи диамагнетиков

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средствам неразрушающего контроля, и может быть использовано в производстве микроэлектронных и электровакуумных приборов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для оценки условий смазывания узлов трения, выполненных из токопроводящих материалов с диэлектрической смазкой, например в машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх