Патент ссср 175249

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 19.1Ч.1962 (J9 774784125-28) Кл. 42Ь, 12 6 с присоединением заявки №

Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР

Приоритет

Опубликовано 21.1Х.1965. Бюллетень № 19

Дата опубликования описания 25.XI.1965

МПК G 01Ь

УДК 531.717.55(088.8) Автор изобретения

Иностранец

Вольфганг Шенборн (Германская Демократическая Республика) / 0ni i :OIL. ...,,, ! °, . 11,Д -.с „:ъ

E )D/l„. !,",Д

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИИ

HA ЛИСТОВЫХ МАТЕРИАЛАХ В ПРОЦЕССЕ

ИХ НАНЕСЕНИЯ

Подписная группа № 1б4

if

Известны устройства для измерения толщины покрытий на листовых материалах в процессе их нанесения, содержащие два дифференциально включенных измерительных прибора, использующих ионизационные излучения, один из которых измеряет толщину основного материала, а другой — суммарную толщину материала вместе с покрытием.

С целью устранения погрешности измерения, вызываемои изменениями толщины основного материала, в предлагаемом устройстве в выходные цепи обоих приборов введены регулируемые потенциометры, предназначенные для подачи дополнительных компенсирующих напряжений и имеющие по два независимых подвижных контакта. Каждый из контактов одного потенциометра механически связан с соответствующим контактом второго потенциометра.

На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства для измерения толщины покрытия на листовых материалах; на фиг. 2 и

3 — схема приспособления для корректировки чувствительности устройства в зависимости от изменения толщины основного материала, на который нанесено покрытие.

Прибор для измерения толщины материала до нанесения покрытия состоит из источника излучения 1 и приемника 2 остаточного излучения, прошедшего через контролируемый материал 8, не имеющий покрытия. В качестве приемника излучения служит ионизационная камера. Возникающий в ней под действием источника тока 4 ионизационный ток вызывает падение напряжения на сопротивлении 5.

Падение напряжения компенсируется напряжением вспомогательного источника б постоянного тока, регулируемым с помощью потенциометра 7. Разность этих напряжений пода10 ется на усилитель 8.

Прибор для измерения толщины материала вместе с покрытием состоит из источника излучения 9 и приемника — ионизационной ка15 меры 10, на которую попадает остаточное излучение, прошедшее сквозь материал вместе с нанесенным на него с помощью валков 11 покрытием 12. Ионизационный ток камеры 10, создаваемый при ее облучении источником то20 ка 18, вызывает падение напряжения на сопротивление 14, которое может быть скомпенсировано напряжением вспомогательного источника 15 постоянного тока с помощью регулируемого потенциометра 1б. Разность этих

25 напряжений усиливается усилителем 17. Так как один из приборов замеряет толщину материала без покрытия, а второй — суммарную толщину материала с покрытием, то разность напряжений сигналов, получаемых на выходе

30 усилителей 8 и 17, измеренная прибором 18, 175249 будет соответствовать значению толщины покрытия.

Результат измерения будет правильным лишь в том случае, если толщина основного материала будет постоянной. Однако толщина основного материала меняется в значительных пределах, что вызывает уменьшение общей чувствительности приборов и создает погрешность измерения толщины покрытия.

Для коррекции изменения чувствительностrl приборов в зависимости от толщины основного материала в устройстве применено спев»альное регулируемое сопротивление 19 (фиг. 2), снабженное двумя контактами 20 и 21, которые могут передвигаться независимо один от другого. Этим достигается независимость о"ношения напряжения на входе 22 к имеющемуся напряжению на выходе 23 от положения обоих движков.

Если бы контакт 20 был механически связан с контактом потенциометра 1б и контакт

21 — с контактом потенциометра 7, то была бы достигнута независимость соотношения выходного напряжения потенциометра от заданных значений обоих аппаратов. Однако нагрузка для источника напряжений на входе не является постоянной, потому что она определяется положением контакта 21. Этот недостаток устраняется тем, что сопротивление разделено на два равных сопротивления 19 и

19" (фиг. 3), являющихся одинаковыми скользящими регулируемыми реостатами. Каждый реостат имеет по два контакта 20 и 20", 21 и

21", которые свободно передвигаются между началом и концом реостата, не мешая один другому.

Контакты 20 и 20", 21 и 21" между собой связаны жестко и каждая пара контактов 20 и 20", 21 и 21" может передвигаться только в одинаковом направлении и устанавливать одинаковые значения при помощи направляющих. Контакты 20 и 20" соединены с потен 0 циометром 1б, а контакты 21 и 21" — с потенциометром 7. Таким образом, нагрузка для входного напряжения источника совершенно не зависит от положения контактов 21 и 21".

Предмет изобретения

Устройство для измерения толщины покрытий на листовых материалах в процессе их нанесения, содержащее два дифференциально

20 включенных измерительных прибора, использующих ионизационные излучения, один из которых измеряет толщину основного материала, а другой — суммарную толщину материала вместе с покрытием, отличающееся

25 тем, что, с целью устранения погрешности измерения, вызываемой изменениями толщины основного материала, в выходные цепи обоих приборов введены регулируемые потенциометры, предназначенные для подачи дополни30 тельных компенсирующих напряжений и имеющие по два независимых подвижных контакта, каждый из которых в одном потенциометре механически связан с соответствующим контактом второго потенциометра, 175249

Составитель Г. Корчагина

Редактор Р. Чистова Техред Л. К. Ткаченко Корректор О. Б. Тюрина

Заказ 3373/14 Тираж 1175 Формат бум. 60Р, 90 /z Объем 0,27 пзд. л. Цена 5 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, д. 2

Патент ссср 175249 Патент ссср 175249 Патент ссср 175249 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического бесконтактного измерения износа толщины реборды железнодорожных (ЖД) колес подвижных составов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля, а именно к радиоизотопным приборам для измерения толщины или поверхностной плотности материала или его покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля тепловыделяющих элементов (твэлов) ядерных реакторов, изготовленных в виде трехслойных труб различного профиля и предназначено для автоматического измерения координат активного слоя, разметки границ твэлов, измерения равномерности распределения активного материала по всей площади слоя в процессе изготовления

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для определения толщины стенок, образованных криволинейными поверхностями (цилиндрическими, сферическими и др.) в деталях сложной несимметричной формы
Наверх