Способ получения интерференционного растра

 

Изобретение относится к способам получения интерференционного растра на фотоматериалах и может быть использовано при определении их фотографических характеристик . Изобретение позволяет расширить функциональные возможности способа интерференционного растрирования за счет расширения интервала регистрируемых пространственных частот и/или размера поля интерференции. Сущность предлагаемого способа заключается в регистрации на фотоматериале линейчатой растровой структуры, сформированной в результате деления коллимированного когерентного светового потока на две части, граница которых проходит через ребро образованного плоскостью фотоматериала и зеркалом Ллойда прямого двугранного угла с изменяемой величиной, в створ которого направляют указанный поток. При этом деление осуществляют путем отклонения части потока, которую направляют на зеркало Ллойда, от первоначального направления. 2 ил, 1 табл.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)5 G 02 В 27/42 (0 ь

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 4

Ю

О (21) 4847551/10 (22) 09.07.90 (46) 15.04.92. Бюл. М 14 (71) Всесоюзный государственный научноисследовательский и проектный институт. химико-фотографической промышленности (72) А.П.Аксенчиков, А.В.Павлов и С.А.Недужий (53) 535.853.31(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N199659,,кл. G 03 С 5/04, 1966.

Недужий С.А. и др. Регистрирующие среды для изобразительной голографии и киноголографии. —. Л.: Наука, 1979, с. 143. (54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО РАСТРА (57) Изобретение относится к способам получения интерференционного растра на фотоматериалах и может быть использовано при определении их фотографических хаИзобретение относится к способам получения интерференционного растра на фотографических материалах, в частности фототермопластических, и может быть использовано при определении их сенситометрических характеристик.

Известно техническое решение, в котором, с целью получения интерференционной растровой структуры в виде полос абсолютного контраста по всему полю интерференции, использовано деление когерентного коллимированного светового потока по фронту волны зеркалом Ллойда, образующим двугранный угол с плоскостью фотоматериала, установленный с возможностью вращения вокруг его ребра.

„„5U ÄÄ 1727106 А1 рактеристик. Изобретение позволяет расширить функциональные возможности способа интерференционного растрирования за счет расширения интервала регистрируемых пространственных частот. и/или размера поля интерференции. Сущность предлагаемого способа заключается в регистрации на фотоматериале линейчатой растровой структуры, сформированной в результате деления коллимированного когерентного светового потока на две части, граница которых проходит через ребро образованного плоскостью фотоматериала и зеркалом Ллойда прямого двугранного угла с изменяемой величиной, в створ которого направляют указанный поток. При атом деление осуществляют путем отклонения части потока, которую направляют на зеркало

Ллойда, от первоначального направления. 2 ил, 1 табл.

Формируемый таким образом интерференционный растр образован сходящимися в плоскости фотоматериала прямым и отраженным от зеркала световыми потоками, угол между которыми и,соответственно, пространственная частота полос растра задаются ориентацией двугранного угла относительно направления распространения светового потока, Такое решение использовано в способе получения сенситограмм. на фототермопластических материалах, состоящем в последовательном формировании на очувствленном образце материала по его длине набора полей с размером 22 мм по ширине материала и 5 мл по его длине, зкспонируемых интерференционным растром

1727106

2з!пу

20 (3) при модулируемых значениях экспозиции и проявляемых путем нагрева при создании градиента температуры 40 — 50 С по рабочей ширине рабочего слоя образца 35-мм пленки с полезной шириной 20 — 22 мм.

Недостатком такого способа является использование последовательного формирования полей, что требует относительно высокой длительности процесса экспонирования и сужает функциональные возможности способа, в частности не позволяет проводить испытания материалов с малой длительностью сохранения скрытого электростатического изображения. Использование одновременного экспонирования всех полей при указанном способе проявления требует обеспечения размера поля интерференции не менее 20 мм по ширине рабо.чего слоя, Это приводит либо к сужению интервала регистрируемых пространственных частот, либо к увеличению длины зеркала Ллойда, что сопряжено с технологическими трудностями его изготовления и усложнением конструкции поворотного узла.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей способа путем расширения интервала регистрируемых пространственных частот и/или размера поля интерференции.

Поставленная цель достигается тем, что в способе получения интерференционного растра, включающем регистрацию на материале интерференционной линейчатой растровой структуры, сформированной в результате деления коллимированного когерентного светового потока на две части, граница которых проходит через ребро образованного плоскостью фотоматериала и зеркалом Ллойда прямого двугранного угла с изменяемой величиной, в створ которого направляют указанный поток, деление осуществляют путем отклонения части потока, которую направляют на зеркало Ллойда, от первоначального направления, На фиг. 1 изображена оптическая схема получения интерференционного растра согласно прототипу, где 1 — испытуемый фотоматериал, 2 — зеркало Ллойда, р — угол поворота системы зеркало Ллойда — фотоматериал относительно направления распространения светового потока.

В этом случае связь между значением пространственной частоты растрирования v, углом поворота системы зеркало-материал относительно распространения светового потока fp и длиной волны экспонирующего излучения il выражается как

Для малых ф, соответствующих минимальным значениям регистрируемых про- странственных частот, выражение (1) приобретает вид V = -(- )

2d (2) где а — размер регистрируемого поля интерференции;

L — длина зеркала Ллойда.

На фиг. 2 изображена оптическая схема получения интерференционного растра согласно предлагаемому способу, где 3 — призма с преломляющим углом я, р, — угол между направлениями распространения частей прямого и отклоненного световых потоков, падающих на зеркало и фотоматериал.

При этом величина и в плоскости фотоматериала выражается как

Пример 1 (по прототипу).

Образец фототермопластической пленки типа ФТПГ длиной 150 мм и шириной 35 мм (полезная ширина 20 — 22 мм) помещают в кассету и заряжают до потенциала рабочего слоя 300 В путем перемещения кассеты относительно зарядного устройства (скоротрона), Затем образец перемещают в позицию экспонирования за зеркалом Ллойда длиной L = 320 мм, обеспечивающим деление когерентного коллимированного светового потока по фронту волны, образующего прямой двугранный угол с плоскостью материала и установленный с возможностью вращения вокруг его ребра в пределах 0-90 относительно направления распространения светового потока (фиг. 1), B качестве источника излучения используют лазер ЛГ38 с длиной волны экспонирования А = 0,63

MKM при соотношении энергии в сходящихся пучках в плоскости экспонирования сенситограммы 1:1. Для модуляции величины экспозиции используют ступенчатый нейтрально-серый клин с 20 полями и константой К = 0,15. Устанавливают угол поворота системы зеркало — материал относительно направления светового потока p = 1,7 .

Производят последовательно экспонирование полей сенситограммы, ориентированных по ширине образца, при ступенчатом перемещении последнего по его длине в направлении, перпендикулярном плоскости зеркала. Длительность экспонирования каждого поля 1 с при освещенности первого поля 0,5 Вт/м и общей длительности экспо1727106 нирования 20-30 с . учетом времени перемещения образца.

Проэкспонированный образец подвергают тепловому проявлению в условиях плавного перепада температуры 40-50 С 5 по рабочей ширине образца в области температуры вязкого течения материала рабочего слоя (85 — 90 С). Время. нагрева образца

-1 с.

После проявления производят измере- 10 ние размера а визуализированной области с растровой структурой и ее пространственную частоту v. Определение v осуществляют посредством измерения угловой координаты О первого дифракционного 15 максимума растровой структуры на гониофотометре, а значение v находят из формулы

v =sin0/Ë .

Условия осуществления способа (L, 20 р Л) и параметры зарегестрированной растровой структуры (а, v) приведены в таблице.

Пример 2 (по прототипу).

В устройство по примеру 1 помещают 25 аналогичный материал, устанавливают угол поворота системы зеркало — материал р=2,8 относительно направления световоГо потока.

Остальные условия экспонирования (, 30

Л) и проявления те же, что в примере 1.

Полученные результаты приведены в таблице.

Пример 3 (по п рототи пу).

В устройство по примеру 1 помещают 35 образец аналогичного материала, который размещают параллельно ребру угла для экспонирования одновременно всех полей сенситограммы при р= 3,5 .

Остальные условия экспозиции и прояв- 40 ления те же, что в примере 1.

Полученные результаты приведены в таблице. v = 200 мм-1, а = 20 мм. Из выражения (1) следует, что для получения величины а = 20 при v = 100 мм необходимо 45 применять зеркало с длиной L = 640 мм.

П ример4, В устройство по примеру 1 помещают аналогичный материал, который располагают в соответствии с примером 3 при р=0 . 50

Для отклонения части светового потока, падающей на зеркало, используют стеклянную прямоугольную призму с преломляющим углом e= 5,2, размещенную на половине площади светового потока 55 на расстоянии 640 мм от ребра угла, что обеспечивает совмещение с ним границы пересечения отклоненной и прямой частей светового потока (фиг. 2). При этом отклоненная часть светового потока падает на зеркало под углом уЪ= 3,5 к направлению прямой части потока, падающей на материал.

Экспонирование проводят согласно примеру 3, а проявление — в соответствии с примером 1, Условия осуществления способа и полученные результаты приведены в таблице.

П римеры5-9.

Для записи применяют фототермопла-. стический материал типа ФТП-2-80 шириной 80 мм (рабочая ширина 70 мм).

Экспонирование образцов 5-9 осуществляют согласно примеру 4 при варьируемых в соответствии с данными таблицы значениях р и р . Вариацию уо осуществляют посредством наклона призмы и изменения расстояния между призмой и ребром угла системы зеркало — материал.

Тепловое проявление осуществляют при постоянной температуре 95 С на рабочей ширине 70мм при длительности нагрева

1 с.

Условия осуществления способа и полученные результаты приведены в таблице.

Пример 10 (по прототипу).

Экспонирование и проявление материала ФТПГ проводят по примеру 2, но в качестве источника излучения используют лазер

Л Г-31 с А = 0,44 мкм.

Условия осуществления способа и полученные результаты приведены в таблице, Пример 11 (по прототипу).

Экспонирование и проявление материала ФТПГ проводят согласно примеру 3 при

Л= 0,44 мкм, Условия осуществления способа и полученные результаты приведены в таблице, Пример12.

Экспонирование и проявление материала ФТПГ проводят по примеру 4 при

=0,44 мкм.

Условия осуществления способа и полученные результаты приведены в таблице.

Примеры13 — 14.

Экспонирование и проявление материала ФТП-2-80 проводят по примеру5 при А =

0,44 мкм и варьируемых в соответствии с данными таблицы значениях ф и p> .

Условия осуществления способа и полученные результаты приведены в таблице.

Из приведенных примеров следует, что предлагаемый способ позволяет увеличить размер поля интерференции (пример 4) в сравнении с известным способом без увеличения минимальной регистрируемой пространственной частоты (пример 3) или длины зеркала (пример 3, расчет). Т кой

1727106 а/v, Л, мкм и,мм

L,ìì

Пример, ММ

Тип фотоматеиала р, град ро, град а, мм

320

100

0.63

1,7

ФТПГ

0,1

320

2,8

150

0,63

0,1

0,1

0,2

0.16

0,12

0,2

0,13

0,12

320

3,5

3,5

3,5

0

3,5

0

3,5

3,5

3,5

7

570

38

58

58

0,63

0,63

0,63

0,63

0,63

0,63

0,63

0,63

ФТП-2-80

15

320

220

2,8

0,44

ФТПГ

0,07

292

146

610

320

3,5

3,5

3,5

3,5

3,5

38

0,44

0,44

0,44

0,44

0,07

0,14

0,19

0,9

ФТП-2-80

Н способ также позволяет уменьшить минимальную регистрируемую пространственную частоту и/или увеличить размер поля в сравнении с известным способом (пример

2), что позволяет проводить испытания ма- 5 териалов, например, шириной 80 мм (примеры 5 — 9).

Аналогичный результат достигается и при использовании другой длины волны из- 10 лучения (примеры 10 — 14).

Во всех случаях отношение между получаемым размером поля интерференции и регистрируемой минимальной пространст- 15 венной частотой, характеризующее функциональные возможности процесса интерференционного растрирования B устройстве с зеркалом Ллойда, улучшено по сравнению с прототипом в 1,2 — 2 раза. 20

1 (Прототип)

2 (Прототип)

3 (Прототип)

Расчет

5

7

9 . 10 (Прототип)

11 (Прототип)

12

13

Формула изобретения

Способ получения интерференционного растра, включающий регистрацию на фотоматериале интерференционной линейчатой растровой структуры, сформированной в результате деления коллимированного когерентного светового потока на две части, граница которых проходит через ребро образованного плоскостью фотоматериала и зеркалом Ллойда прямого двугранного угла с изменяемой величиной, в створ которого направляют указанный поток, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей путем увеличения размера поля интерференции и/или интервала регистрируемых пространственных частот, деление осуществляют путем отклонения части потока, которую направляют на зеркало Ллойда, от первоначального направления.

1.727106

Составитель А.Павлов

Редактор М,Кобылянская Техред М.Моргентал Корректор С.Лыжова ,Заказ 1278 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ получения интерференционного растра Способ получения интерференционного растра Способ получения интерференционного растра Способ получения интерференционного растра Способ получения интерференционного растра 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет повысить точность изготовления структуры путем устранения влияния непрямолинейности перемещения каретки

Изобретение относится к оптике и может использоваться для выполнения преобразования Гильберта волнового пучка в зоне дифракции Френеля при проведении диагностики фазовых объектов, классификации образов

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может применяться например, для изготовления шкал и дифракционных решеток

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может найти применение, например, дня итотовленил шаблонов, шкал и дифракционных решеток

Изобретение относится к дифракционной оптике и может быть использовано для выполнения преобразований Гильберта и Фуко волнового пучка, необходимых в различных приборах для диагностики фазовых объектов

Изобретение относится к области оптического приборостроения, а именно к технологии изготовления фокусирующих и корригирующих дифракционных оптических элементов

Изобретение относится к технике оптического приборостроения и может быть использовано для нанесения микроскопических шкал, нониусов и т.д

Изобретение относится к измерительной технике, а точнее - к устройствам для измерения линейных перемещений с помощью дифракционной оптики

Изобретение относится к методам и средствам преобразования оптического излучения для формирования изображения объектов в некогерентном свете

Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для измерения расстояния до излучающего объекта, в частности для определения расстояния до точечного источника света

Изобретение относится к области оптических измерений с применением дифракционной оптики и может найти применение при поиске, определении пространственного положения и ориентации группы рассеивающих частиц в различных оптических элементах, а также при получении достоверных измерений пространственно-частотных спектров этих рассеивающих частиц с целью их точной идентификации, повышения точности в определении их размеров и расстояний между ними

Изобретение относится к световым индикаторам, подсвечиваемым источником света

Изобретение относится к световой панели, содержащей источник света и панельный элемент

Изобретение относится к способу управления распределением интенсивности поля волны или волн частично когерентного или некогерентного оптического излучения на конечном расстоянии от его источника или в дальней зоне и устройству, реализующему заявленный способ

Изобретение относится к области лазерной оптики, а именно к острой фокусировке когерентного излучения, и может быть использовано для высокоразрешающей оптической записи и сканирующей оптической микроскопии
Наверх