Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов

 

Использование: область магнитных измерений в средствах производственных испытаний постоянных магнитов, а также в лабораторных устройствах измерения магнитных свойств образцов магнитотвердых материалов. Цель изобретения - повышение точности измерений. Сущность изобретения: перед проведением измерений замыкают полюса магнитной системы, в которой проводят измерения, перемагничиваИзобретение относится к области магнитных измерений и предназначено для использования в средствах производственных испытаний постоянных магнитов, а также в лабораторных устройствах измерения магнитных свойств образцов магнитотвердых материалов. Известен способ испытания постоянных магнитов и образцов магнитотвердых материалов, заключающийся в том, что испытуемый постоянный магнит устанавливают в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают по предельному циклу гиют ее по предельному циклу гистерезиса и в этом процессе регистрируют зависимость падения магнитного напряжения в магнитной системе от индукции магнитного потока в ее полюсах 11м(Ви). Устанавливают испытуемый образец в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают его по предельному циклу гистерезиса, измеряя при этом ток iH намагничивающих обмоток и индукцию Ви в полюсах магнитной системы, а значения напряженности приложенного к испытуемому образцу магнитного поля Hi и намагниченность испытуемого образца MI для каждой точки петли гистерезиса определяют согласно выражениям Н| Он Л/-им(Ви)) Mi (им(Ви) IHW) + k Ви /«Г1. где W - количество витков обмоток магнитной системы; lo - длина испытуемого образца; k - коэффициент пропорциональности между измеренными значениями индукции и значениями индукции в объеме испытуемого образца; и0 - магнитная постоянная. 1 ил. стерезиса. В этом процессе значения напряженности приложенного магнитного поля измеряют преобразователем Холла, установленным в плоскости нейтрального сечения испытуемого постоянного магнита, у его боковой поверхности, а индукцию магнитного поля измеряют преобразователем Холла, установленным в щели пластины из магнитотвердого текстурованного материала , являющейся продолжением испытуемого образца. Недостаток испытуемого способа заключается в невысокой точности измерений сл VI со ю со о (

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (si>s G 01 R 33/12

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4752821/21 (22) 24.10,89 (46) 07.05.92. Бюл, М 17 (71) Львовский политехнический институт им. Ленинского комсомола (72) В.В.Мудрицкий (53) 621.317.44 (088,8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 479061, кл. G 01 R 33/12, 1973.

Авторское свидетельство СССР

N 1580299, кл. G 01 R 33/12, 1988, (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ПОСТОЯННЫХ.МАГНИТОВ (57) Использование: область магнитных измерений в средствах производственных испытаний постоянных магнитов, а также в лабораторных устройствах измерения магнитных свойств образцов магнитотвердых материалов, Цель изобретения — повышение точности измерений. Сущность изобретения: перед проведением измерений замыкают полюса магнитной системы, в которой проводят измерения, перемагничиваt

Изобретение относится к области магнитных измерений и предназначено для использованияя в средствах производственных испытаний постоянных магнитов, а также в лабораторных устройствах измерения магнитных свойств образцов магнитотвердых материалов.

Известен способ испытания постоянных магнитов и образцов магнитотвердых материалов, заключающийся в том, что испытуемый постоянный магнит устанавливают в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают по предельному циклу ги. Ж,, 1732306 A1 ют ее по предельному циклу гистерезиса и в этом процессе регистрируют зависимость падения магнитного напряжения в магнитной системе от индукции магнитного потока в ее полюсах UM(B>). Устанавливают испытуемый образец в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают его по предельному циклу гистерезиса, измеряя при этом ток iH намагничивающих обмоток и индукцию В в полюсах магнитной системы, а значения напряженности приложенного к испытуемому образцу магнитного поля Н и намагниченность испытуемого образца М; для каждой точки петли гистерезиса определяют согласно выражениям

Н; = (.И вЂ” О.(В.)) Ь "; м. = (U.(B.) — iHW) Io + k в.,«1. где W — количество витков обмоток магнитной системы; lo — длина испытуемого образца; k — коэффициент пропорциональности между измеренными значениями индукции и значениями индукции в объеме испытуемого образца; р0 — магнитная постоянная.

1 ил. стерезиса. В этом процессе значения напряженности приложенного магнитного поля измеряют преобразователем Холла, установленным в плоскости нейтрального сечения испытуемого постоянного магнита, у его боковой поверхности, а индукцию магнитного поля измеряют преобразователем

Холла, установленным в щели пластины из магнитотвердого текстурованного материала, являющейся продолжением испытуемого образца, Недостаток испытуемого способа заключается в невысокой точности измерений

1732306 устройств, принцип работы которых основывается на его применении, Это объясняется тем, что в известном способе не предусматривается учет влияния магнитной цепи испытуемых образцов (магнитной системы) на результаты измерений. Внешняя цепь испытуемых образцов магнитотвердых материалов и постоянных магнитов, по которой замыкается их поток, содержит магнитотвердый материал и массивную магнитную систему. В режиме измерений эта цепь намагничивается как намагничивающими обмотками, так и намагниченностью испытуемых образцов, на что испытуемые образцы должны создать определенное количество внешней энергии и, тем самым, уменьшаются значения магнитной индукции в их магнитном потоке.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту, является способ измерения магнитных параметров постоянных магнитов, заключающийся в том, что испытуемый постоянный магнит помещают в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают его по предельной петле гистерезиса. В этом процессе измеряют напряженность приложенного магнитного поля в плоскости нейтрального сечения испытуемого постоянного магнита, у его боковой поверхности, и индукцию его магнитного потока в измерительном зазоре, а значения намагниченности испытуемого образца для каждой точки петли гистерезиса определяют согласно уравнениям, обеспечивающим устранение влияния немагнитных промежутков в магнитной системе на результаты измерений, Недостаток известного способа заключается в невысокой точности, которую он обеспечивает. Невысокая точность измерений объясняется тем, что способ не предусматривает устранение влияния магнитопровода магнитной системы на точность измерений. Магнитное сопротивление магнитопровода соизмеримо с магнитным сопротивлением измерительных зазоров и имеет нелинейную характеристику, что приводит к значительным погрешностям измерений, особенно при регистрации значений коэрцитивной силы и остаточной индукции.

Цель изобретения — повышение точности измерений.

Поставленная цель достигается тем, что в способе определения магнитных параметров постоянных магнитов, заключающемся в перемагничивании испытуемого постоянного магнита в рабочем объеме магнитной системы по предельной петле гистерезиса и в измерении, в этом процессе индукции магнитного потока испытуемого постоянного магнита перед началом измерений замыкают полюса магнитной системы, перемагничивают ее по предельному циклу

5 гистерезиса и измеряют в этом процессе зависимость намагничивающей силы обмоток от значений магнитной индукции, а затем устанавливают испытуемый постоянный магнит в рабочий объем магнит10 ной системы, перемагничивают его по предельному циклу гистерезиса и по значениям намагничивающей силы магнитной системы, индукции магнитного потока испытуемого постоянного магнита, а также по его

15 длине, для каждой точки петли гистерезиса определяют значения напряженности приложенного магнитного поля и намагниченности с помощью соотношений

Н (FM UM;) I,—

Mi = (UM., — F м ) lo + k Ви;,по где Hi — напряженность приложенного к постоянному магниту магнитного поля;

Mi — намагниченность постоянного магнита;

0щ — величина падения магнитного напряжения между полюсами магнитной системы;

FMi — величина магнитодвижущей силы;

Вм| — измеренное значение магнитной индукции;

Io — длина испытуемого постоянного магнита; до — магнитная постоянная, и

35 1 = — — конструктивная постоянная

So магнитной системы;

S — площадь магнитной цепи в месте установки измерительного зазора;

So — площадь сечения испытуемого образца.

Повышение точности в способе определения магнитных параметров постоянных магнитов достигается тем, что параметры

45 каждой точки петли гистерезиса определяются путем выполнения математических операций над значениями измеряемых в процессе измерений величин индукции и намагничивающей силы, а также зависимостью падения магнитного напряжения во внешней цепи испытуемого образца, которая определяется в дополнительной операции перед проведением измерений. Таким образом устраняется влияние ненулевого магнитного сопротивления магнитной системы на результаты измерений.

На чертеже представлена структурная схема устройства для осуществления пред.лагаемого способа.

1732306

Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов заключается в следующем. Замыкают полюса магнитной системы и перемагничивают ее по предельному циклу.гистерезиса..В процессе перемагничивания измеряют ток обмоток магнитной системы и индукцию потока в полюсах магнитной системы.. По соответствующих значениях тока и индукции регистрируют функциональную зависимость падения магнитного напряжения между полюсами магнитной системы; в ее объеме, от индукции магнитного потока. Устанавливают испытуемый образец в рабочий объем магнитной системы и перемагничивают по предельному циклу гистерезиса. В этом процессе измеряют намагничивающую силу по току обмоток магнитной системы и индукцию магнитного потока. По измеренным значениям намагничивающей силы, индукции, а также по значениям длины испытуемого образца и измеренной ранее зависимости падения магнитного напряжения от индукции для каждой точки петли гистерезиса значения приложенной напряженности и соответствующие им значения намагниченности испытуемых образцов определяют с помощью следующих выражений

Hi=(l-MI — UMI ) lp

tAI =(ОМ вЂ” FMI ) IP + k B i Ao где Hi — напряженность приложенного к постоянному магниту поля;

М вЂ” намагниченность постоянного магнита;

UMI — величина падения магнитного напряжения между полюсами магнитной системы;

Рщ — величина магнитодвижущей силы;

Ви — измеренное значение магнитной индукции;

lp — длина испытуемого постоянного магнита;

po — магнитная постоянная;

k = — — конструктивная постоянная

So магнитной системы;

S — площадь магнитной цепи в месте установки измерительного преобразователя индукции; Sp — площадь сечения испытуемого образца.

Способ измерений основан на следующем. Магнитный поток, пересекающий испытуемый постоянный магнит и магнитную систему, создается м.д.с. обмоток магнитной системы и намагниченностью испытуемого постоянного магнита, Уравнение для контура замыкания магнитного потока имеет вид

+—

Io

Т

5 где

Io г

Мсй+Р =f HM+Hi dl+

Io г

+ f Hcdl, (1)

io Т

lp — длина испытуемого постоянного магнита;

М вЂ” намагниченность испытуемого постоянного магнита;

FM= 46/ — намагничивающая сила обмоток магнитной системы;

iH — значение тока в обмотках;

W — количество витков обмоток;

Нм — составляющая напряженности магнитного поля в испытуемом постоянном магните, созданная его намагниченностью„

Н вЂ” составляющая напряженности магнитного поля, созданная м.д.с. обмоток маг20 нитной системы;

Hc — общая напряженность магнитного поля в объеме магнитной системы.

Исходя из условий однородности магнитного поля в объеме испытуемого посто25 янного магнита, элементы уравнения (1) можно заменить выражениями (3) +

Io

f Mdl =M lo, 30

T (HM+ Hi),ио = Bp; (2) (о

+ .у

f (HM+ Hi)dl = (Н + Н ) lp, iy где ро — магнитная постоянная;

Bp — индукция.магнитного поля в объеме испытуемого постоянного магнита.

Интеграл от полной напряженности. магнитного поля в объеме магнитной системы по длине является падением магнитного напряжения UM между торцами полюсов магнитной системы, зависящим от индукции Ви магнитного поля в ее полюсах, измеряемой преобразователем

Io

Нс dl = Ом(Ви). о

Учитывая рассеяние магнитного потока

50 в измерительном зазоре и форму полюсов магнитной системы, между значением индукции Во и измеренным значением Ви существует зависимость

Bp= k Ви, (4)

55 где k = —" — конструктивная постоянная

So магнитной системы;

S — площадь измерения зазора;.

Sp — площадь сечения испытуемого постоянного магнита.

1732306

10 зом.

Для каждой составляющей напряженности магнитного поля HM u Hi в объеме испытуемого магнита, созданной их источ. никами — намагниченностью М и м.д.с. FM =

=iMW, получают зависимости величин Н и М от измеряемых значений iu и В> в процессе перемагничивания магнита и измеренной ранее зависимости 0и(Ви)

Нг=(Ем. — 0м ) lo (5) Mi =(UMi — FMI ) lo + k Bu /Co (6)

-1

По значениям величин Hi и Мь согласно уравнениям (5) и (6), определяют значение индукции в объеме испытуемого постоянного магнита

В ц.,(Н + М;). (7)

Устройство состоит из магнитной системы 1 с намагничивающими обмотками 2, измерительным зазором 3 и технологическим зазором 4, а также из преобразователя

5 индукции, источника 6 тока, измерительного шунта 7, первого усилителя 8, первого аналого-цифрового преобразователя 9, второго усилителя 10, второго аналого-цифрового преобразователя 11, блока 12 цифрового вычислителя, блок 13 управления и ввода информации, блока 14 цифровой памяти и блока 15 вывода результатов измерений.

Испытуемый постоянный магнит 16 установлен в рабочий объем магнитной системы 1, между ее полюсами, на которых расположены намагничивающие обмотки 2, В измерительный зазор 3 установлен преобразователь 5 индукции. К выводам обмоток

2 подключен источник 6 тока и измерительный шунт 7, соединенные последовательно между собой. Выход преобразователя индукции 5 подключен к входу первого усилителя 8, выход которого соединен с входом первого аналого-цифрового п реобразователя 9, а потенциальные выводы измерительного шунта 7 подключены к входу второго усилителя 10, выход которого соединен с входом второго аналого-цифрового преобразователя 11. Разрядные выходы аналогоцифровых преобразователей 9 и 11 подключены к блоку 12 цифрового вычислителя. С блоком 12 цифрового вычислителя сопряжены блок 13 управления и ввода информации, блок 14 цифровой памяти и блок

15 вывода результатов измерений, В качестве блока 12 используется типовой одноплатный микроконтроллер.

Устройство работает следующим обраПеред началом измерений замыкают полюса магнитной системы 1 и перемагничивают ее по предельному циклу гистерези15

55 са, изменяя ток обмоток 2 источником 6 тока. В этОм процессе напряжение с потенциальных выводов шунта 7 усиливается усилителем 10 и преобразуется в цифровой код преобразователем 11. Выходной сигнал индукции преобразователя 5 усиливается усилителем 8 и преобразуется в цифровой код преобразователем 9. По команде блока

13 блок 12 цифрового вычислителя выходной код второго аналого-цифрового преобразователя 11 записывает в ячейки памяти блока 14, используя выходной код первого аналого-цифрового преобразователя 9 в качестве адресного.

Таким образом, после перемагничивания магнитной системы 1 в ячейках блока 14 цифровой памяти записана зависимость намагничивающей силы обмоток 2 от индукции магнитного потока, пересекающего полюса магнитной системы 1, что является зависимостью падения магнитного напряжения в магнитной системе 1 от индукции в ее полюсах, Посредством блока 13 управления и ввода информации вводят в блок 12 цифрового вычислителя значения длины магнита 16. Испытуемый магнит 16 устанавливают между полюсами магнитной системы 1 и перемагничивают его по предельному циклу гистерезиса, измеряя при этом индукцию в полюсах магнитной системы преобразователем 5 и ток намагничивающих обмоток 2 шунтом 7. Сигналы с выходов преобразователя 5 и шунта 7 усиливаются усилителями 8 и 10 и преобразованные аналого-цифровыми преобразователями

9 и 11 в цифровые параллельные коды подаются на входы блока 12 цифрового вычислителя, который согласно заложенной в него программе вычислений по соотношениям (5)-(7) определяет значения приложенной напряженности поля, намагниченности испытуемого магнита 16 и его индукции, Использование изобретения позволит повысить точность измерений магнитных параметров постоянных магнитов и образцов магнитотвердых материалов за счет введения коррекции на ненулевое магнитное сопротивление магнитной системы, в которой проводятся измерения.

Ф ормул a и зоб рете н и я

Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов, включающий перемагничивание магнитной системы с испытуемым постоянным магнитом по предельной петле гистерезиса, измерение магнитной индукции, отличающийся тем, что с целью повышения точности способа, предварительно замыкают полюса магнитной системы, перемагничивают магнитную систему без испытуемого постоян1732306

Hi =(FM. — UMi ) lo

Mi = (UMi — FMi ) Ip + k Ви ро где Н; — напряженность приложенного к постоянному магниту магнитного поля;

Составитель В.Мудрицкий

Редактор А.Козориз Техред М.Моргентал Корректор Т.Палий

Заказ 1582 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 ного магнита по предельной петле гистерезиса, определяют зависимость падения магнитного напряжения между полюсами магнитной системы от магнитной индукции, а после перемагничивания магнитной системы с испытуемым постоянным магнитом по предельной петле гистерезиса определяют зависимость магнитодвижущей силы от магнитной индукции, затем для каждой точки предельной петли гистерезиса постоянного магнита определяют координаты из следующих соотношений:

Mi — намагниченность постоянного магнита;

0у — величина падения магнитного напряжения между полюсами магнитной

5 системы;

Ещ — величина магнитодвижущей силы;

 — измеренное значение магнитной индукции;

Io — длина испытуемого постоя нного

10 магнита; ,ио — магнитная постоянная;

k = — — конструктивнаяпостоянная

$o магнитной системы; I 5 $О-площадь сечения испытуемого образца;

$ — площадь измерительного зазора магнитной системы.

Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов Способ определения магнитных параметров постоянных магнитов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитным измерениям и может быть использовано для контроля коэрцитивной силы деталей, составляющих магнитную силу электромагнитного реле

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля состава абразивных материалов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в трансформаторостроении для совершенствования технологии изготовления витух магнитопроводов из анизотропной электротехнической стали с ребровой кристаллографической структурой

Изобретение относится к магнитным измерениям и может быть использовано для измерения коэрцитивной силы изделий из ферромагнитных материалов в разомкнутой магнитной цепи

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении температуры Кюри ферритов, в частности при пзучении фазовых превращений в материалах

Изобретение относится к измерениям электромагнитных свойств ферромагнитных материалов и может быть использовано для измерения шумов перемагничивания (эффект Баркгаузена)„ Цель изобретения - повышение точности и производительности измерений

Изобретение относится к измерениям магнитных величин и может найти применение при разработке магнитных систем с постоянными магнитными потоками

Изобретение относится к магнитным измерениям и может быть использовано для контроля магнитных свойств и качества изготовления пакетов пластин из магнитомягкого материала, например пакетов, используемых при изготовлении магнитопроводов магнитных головок

Изобретение относится к области магнитных измерений и может быть использовано для контроля сердечников импульсных трансформаторов

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к индуктивным датчикам, и может быть использовано для магнитных и линейно-угловых измерений, в дефектоскопии, для обнаружения и счета металлических частиц и тому подобное

Изобретение относится к испытательной технике контроля и может быть использовано при испытаниях и эксплуатации энергетических установок, при контроле рабочих режимов турбин, двигателей и компрессоров

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для допускового контроля магнитных свойств постоянных магнитов, ферритовых сердечников и других изделий из магнитных материалов, в том числе магнитомягких

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники в машиностроении и черной металлургии и может быть использовано при неразрушающем контроле ферромагнитных изделий

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для использования в технологических процессах добычи и переработки железных руд на горнообогатительных комбинатах
Наверх