Способ измерения малых индуктивностей
Способ измерения малых индуктивностей, включающий подачу на последовательно-параллельный измерительный RLxC - контур импульса напряжения, регистрацию переходного процесса в измерительном контуре и определения по периоду его колебаний индуктивности Lx, отличающийся тем, что, с целью повышения безопасности измерения, подают на RLxC-контур прямоугольный импульс напряжения, сопротивление R выбирают линейным, а постоянную времени RC определяют из соотношения 
- рабочая частота измеряемой индуктивности.
Похожие патенты:
Изобретение относится к способам исследования электрофизических характеристик твердых диэлектриков и может быть использовано для неразрушающего контроля непроводящих материалов, например полимеров и их композитов в приборостроении и машиностроении
Изобретение относится к технике измерения неэлектрических величин электрическими методами и может быть использовано для измерения малых перемещений, уровня веществ, их влажности и др
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при измерении и контроле диэлектрических характеристик материалов , в том числе и тонких пленок
Изобретение относится к технике измерений нз СВЧ и может использоваться для определения температурной зависимости параметров твердого диэлектрика в условиях комбинированного нзгрэвг концентриоозанкой солнечной энергией к энергией источника постоянного тока
Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может использоваться для определения температурной зависимости параметров твердых диэлектриков в условиях высокотемпературного динамического нагрева концентрированной солнечной энергией
Способ измерения rlc-параметров // 2100813
Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, индуктивных или резистивных датчиков
Способ измерения параметров rlc-цепей // 2100814
Изобретение относится к измерительной технике и может найти применение в приборах для измерения неэлектрических физических величин посредством емкостных, резистивных или индуктивных датчиков
Изобретение относится к радиотехнике, а именно к технике измерений макроскопических параметров сред и материалов, и, в частности, может использоваться при неразрушающем контроле параметров диэлектрических материалов, из которых выполнены законченные промышленные изделия
Изобретение относится к технике измерений с помощью электромагнитных волн СВЧ диапазона и может использоваться для дефектоскопии строительных материалов различных типов с различной степенью влажности
Изобретение относится к измерительной технике, в частности, может быть использовано для измерения диэлектрических характеристик веществ с помощью емкостного или индуктивного датчика
Изобретение относится к электронному приборостроению и может быть использовано для контроля и измерения диэлектрических параметров различных сред
Изобретение относится к измерению электрических величин, в частности емкости
Изобретение относится к способам и устройству для передачи электромагнитных сигналов в землю через конденсатор
Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано при измерении тангенса угла диэлектрических потерь твердых изоляционных материалов, жидких диэлектриков, например, трансформаторного масла
