Способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала

 

Изобретение относится к измерительной технике и имеет целью повышение точности способа определения толщины фторопластового покрытия, наносимого в виде водной суспензии на полиимидную пленку за счет того, что отделение покрытия с полиимидной пленки осуществляют путем растворения последней в кислоте или щелочи. Отделенное от образца пленки известной площади покрытие взвешивают, а толщину его определяют по отношению его веса к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 В 7/06

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4835256/28 (22) 05.06.90 (46) 15,02,93. Бюл. М 6 (75) И,Д,Пупышев, А.В.Кухаренко и К,И.Власов (56) Вэлитов А,М.-3, и др. Приборы и методы контроля толщины покрытия, Л,: Машиностроение, 1979.

То же, с.103-105, (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОKPljlTVIH НА ПОВЕРХНОСТИ ПЛЕНОЧНОГО МАТЕРИАЛА (57)Изобретение относится к измерительной

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в производстве полиимидной пленки с фтоpollëàñòoBûì покрытием.

Известен способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала путем отделения покрытия от образца заданной площади, взвешивания его и расчета толщины покрытия по отношению веса отделенного покрытия к произведению площади образца на удельный вес материала покрЫтия.

Недостатком известного технического решения является низкая точность применительно к полиимидной пленке с фторопластовым покрытием, вызванная влиянием адгеэии покрытия к поверхности пленочного материала.

Цель изобретения — повышение точности измерения.

Указанная цель достигается тем, что образец полиимидной пленки с фторопластовым покрытием, нанесенным в виде водной суспензии, предварительно сушат, спекэют частицы фторопласта в термокамере, отде,, Ы 1795267 А1 технике и имеет целью повышение точности способа определения толщины фторопластового покрытия, наносимого в виде водной суспенэии на полиимидную пленку за счет того, что отделение покрытия с полиимидной пленки осуществляют путем растворения последней в кислоте или щелочи.

Отделенное от образца пленки известной площади покрытие взвешивают, а толщину его определяют по отношению его веса к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия. 1 ил. ляют фторопластовое покрытие от полиимидной пленки путем растворения последней в растворителе, взвешивают отделенное покрытие и рассчитывают его толщину по отношению веса отделенного покрытия к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия, На чертеже показана схема устройства для реализации способа.

Устройство содержит рулон 1 с полиимидной пленкой 2, ванну 3 с фторопластовой суспензией, вал 4, термокамеру 5, рулон пленки с покрытием 6. датчик толщины покрытия 7.

Способ реализуют следующим образом, На полиимидную пленку 2 методом окунания в ванну 3 с водной суспензией фторопласта наносят слой суспенэии. В термокамере 5 испаряют воду и спекают частицы фторопласта, в результате чего получают полиимидную пленку с фторопластовым покрытием, которую принимают на . рулон 6.

Для определения толщины покрытия вырезают образец пленки с покрытием за1795267 произведению площади образца на удельный вес материала покрытия.

Погрешность измерения толщины покрытия по предлагаемому способу не превышает 0,57..

Составитель И,Пупышев

Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор Н.Король

Редактор

Заказ 422 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101 данной площади, отделяют фторопластовое покрытие от пленки путем растворения пленки в соответствующем растворителе.

Взвешивают образец фторопластового покрытия. А толщину покрытия рассчитывают по отношению веса образца покрытия к

Формула изобретения

Способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала, заключающийся в том, что отделяют покрытие от образца заданной площади, взвешивают отделенное покрытие и рассчитывают его толщину по отношению веса отделенного покрытия к произведению площади образца на удельный вес материала покрытия, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности определения толщины фторопластового покрытия, наносимого в виде

"5 водной суспензии на полиимидную пленку, образец предварительно высушивают, спекают частицы фторопласта в термокамере, а отделение фторопластового покрытия от полиимидной пленки осуществляют путем

20 растворения пленки в растворителе.

Способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала Способ измерения толщины покрытия на поверхности пленочного материала 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к неразрушающему контролю вихр етоковыми методами

Изобретение относится к области машиностроения , а именно к приборам и устройствам для измерения и контроля качества поверхностного токопроводящего слоя изделий

Изобретение относится к методам неразрушающего контроля и может использоваться в металлургической промышленности

Изобретение относится к измерительной технике и может найти широкое применение в системах неразрушающего контроля и измерений толщины пленочных покрытий

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля толщины металлических покрытий в процессе их образования, например, на металлических деталях, в частности, при нанесении покрытий из паровой фазы пиролитическим способом

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения деформирующей способности технологических остаточных напряжений в поверхностном слое изделий из металлов и сплавов с различными электромагнитными свойствами

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля качества и геометрических размеров изделий и может быть использовано для измерения толщины проводящих покрытий
Изобретение относится к электронной технике и электротехнике и может быть использовано, в частности, в качестве датчиков магнитного поля или тензодатчиков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины различных покрытий на цилиндрических металлических основах

Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к методам и техническим средствам для контроля толщины твердых и полутвердых защитных покрытий, изоляционных слоев, жировых отложений, смазочных и лакокрасочных пленок на электропроводящей, в частности, металлической основе
Наверх