Способ калибровки магнитных дефектоскопов

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов. Цель изобретения - повышение достоверности калибровки за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов. достигается за счет того, что в способе калибровки магнитных дефектоскопов, заключающемся в том. что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, имитатор сварного шва и дефекта размещают на противоположных поверхностях бездефектного контрольного образца так, что продольные оси симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного контрольного образца. 1 п. ф.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5!)5 G 01 N 27/82

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4917214/28 (22) 07.03.91 (46) 23.02.93. Бюл. Мг 7 (71) Могилевский машиностроительный институт (72) А.M.Øàðoâà, А.Н.Синица и Г.А.Лехнович (56) Авторское свидетельство СССР

N. 911305, кл. G 01 N 27/82, 1982.

Авторское свидетельство СССР

N 1589190, кл, G 01 N 27/82, 1990. (54) СПОСОБ КАЛИБРОВКИ МАГНИТНЫХ

ДЕФ E КТОСКОПОВ (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов.

Цель изобретения — повышение достоверности калибровки за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов, Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля и может быть использовано для калибровки магнитных дефектоскопов.

Известен способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор дефекта пропускают по нему ток, считывают величину сигнала и проводят калибровку дефектоскопа.

Недостаток указанного способа, в том, что невозможно калибровать дефектоскопы, предназначенные для контроля сварных соединений. т. к, способ не позволяет учиTbIBBTb размагничивающее действие валика шва.

Наиболее близким по технической сущности к достигаемому результату является. Ы„„1797О29 А1 достигается за счет того. что в способе калибровки магнитных дефектоскопов, заключающемся в том. что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа, имитатор сварного шва и дефекта размещают на противоположных поверхностях бездефектного контрольного образца так, что продольные оси симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного контрольного образца.

1 и. ф. способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимопротивоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого сигнала проводят калибровку дефектоскопа.

Недостаток способа в том, что он не позволяет с большой точностью моделировать подповерхностные дефекты сварных соединений.

Целью изобретения является повышение достоверности калибровки магнитных

1797029

Формула изобретения

Способ калибровки магнитных дефектоскопов, заключающийся в том, что на бездефектный контрольный образец укладывают имитатор сварного шва в виде электропроводящей пластины и имитатор дефекта в виде электропроводящей пластины, намагничивают образец постоянным полем, пропускают по имитаторам ток во взаимно противоположных направлениях, считывают сигнал от дефекта и по величине этого

Составитель А.Синица

Техред M.Mîðãåíòàë Корректор М.Макимишинец

Редактор Т.Иванова

Заказ 649 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, K-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 дефектоскопов за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов.

Указанная цель достигается тем, что имитаторы сварного шва и дефекта размещают на противоположных поверхностях г. - дефектного контрольного образца так, .;l родольные оси симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного контрольного образца.

С увеличением глубины залегания дефекта ширина его магнитного отпечатка на поверхности изделия (там, где расположен датчик магнитного поля) увеличивается, Это не позволяет с достаточной точностью моделировать подповерхностные дефекты при размещении имитатора дефекта на имитаторе шва, т. к. сложно подобрать ширину имитатора дефекта, равную ширине магнитного отпечатка подповерхностного дефекта.

B заявляемом способе калибровки отсутствуют сложности, описанные выше, т. к. имитаторы дефекта и шва расположены на противоположных сторонах бездефектного образца, что наиболее точно имитирует подповерхностный дефект сварного соединения.

Способ калибровки реализуется следующим образом. На противоположные поверхности бездефектного контрольного образца укладывают имитаторы сварного шва и дефекта таким образом, что бы продольные оси симметрии имитатора лежали в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного образца. На поверхности имитатора сварного шва размещают датчик

MBl.HvITKof0 поля. Намагничивают образец, пропускают по имитаторам шва и дефекта ток во взаимно противоположных направлениях, измеряют сигнал от дефекта и калибруют дефектоскоп.

Пример . Калибруют магнитографический дефектоскоп МД-11Г для контроля сварного соединения с шириной усиления

22 мм. Подлежат выявлению непроварки в корне шва с шириной более 0,5 мм, Толщина бездефектного образца 16 мм. На его противоположные поверхности укладывают имитаторы шва (злектропроводящая пластина шириной 22 мм) и дефекта (злектропроводящая пластина шириной 0,5 мм) так, чтобы продольные оси симметрии имитаторов лежали в плоскости, перпендикулярной поверхности бездефектного образца. Укладывают на имитатор шва ленту И-4701. Намагничивают образец полем 380 А/см, по имитаторам дефекта и шва пропускают ток

15 и 120 А соответственно. Считывая магни30 тограмму с ленты калибруют дефектоскоп. сигнала проводят калибровку дефектоскопа, отличающийся тем, что, с целью

35 повышения достоверности калибровки за счет увеличения точности имитации подповерхностных дефектов, имитаторы сварного шва и дефекта размещают нэ противоположных поверхностях бездефектного конт40 рольного образца так, что продольные оси симметрии имитаторов лежат в плоскости, перпендикулярной к поверхности бездефектного контрольного образца.