Электромагнитный дефектоскоп

 

О П И С А Н И E I82388

ИЗОБ РЕ ТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВЙДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советскиз

Содиалистическиз

Республин

Зависимое от авт, свидетельства Ма

Заявлено 05.11.1965 (№ 941684/25-28) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 25Х.1966. Бюллетень М 11

Дата опубликования описания 13ХП.1966

Кл, 42k, 46/04."1ПК 6 01п

УДК 620,179.152(088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР =со

Авторы

ЭЛ ЕКТРОМАГН ИТНЫЙ ДЕФ ЕКТОСКОП

Известные устройства для дефектоскопии с помощью электромагнитных колебаний СВЧ содержат излучатель, приемник, систему, фиксирующую дефекты на экране. Сканирование контролируемого изделия осуществляется с помощью диска Нипкова.

Однако такие устройства мало производительны при контроле изделий, имеющих форму тел вращения.

В описываемом устройстве этот недостаток устранен благодаря тому, что оно содержит механизм, обеспечивающий спиральное сканирование контролируемого изделия и спиральное развертывание его изображения.

На фиг. 1 изооражена принципиальная схема дефектоскопа; на фиг. 2 — принципиальная электронная схема развертывающего и регистрирующего устройств.

Излучатель 1 электромагнитной энергии, приемник 2 электромагнитной энергии и фиксатор 8 установлены на специальных однотипных патронах 4 в каретках 5. Последние находятся в радиальных пазах патронов 4, которые синхронно приводятся во вращение через систему шестерен от двигателя 6, а каретки вместе с излучателем, приемником и фиксатором движутся вдоль радиальных пазов патронов в результате вращения кулачков

7 через систему шестерен также от двигателя 6.

В результате двух движений — кругового и радиального — развертывающая система, состоящая из излучагеля 1, приемника 2 н фиксатора 8, непрерывно равномерно движется по спирали от периферии к центру, а затем 00ратно, тем самым контролируя все участки исследуемого образца 8. устанавливаемого между излучателем и приемником.

При этом фиксатор на специальной бумаге

lo отмечает то место исследуемого образца, которое в данный момент находится между излучателем и приемником.

Электронная система (c». фнг. 2) позволяет

15 видеть изображение строения исследуемого образца непосредственно на экране электроннолучевой трубки 9.

Электронная система работает слечующнм образом.

2О Излучатель 1 электромагllèòíûõ волн посылает пучок волн на исследуемый образец 8.

Волны, проходя через образец, попадают в

Hp:lc»íèê 2 электромагнитных волн, н напряжение от приемника поступает на усилитель

25 10. Воспринятый приемником сигнал усиливается н далее направляется в усилитель 11 электрон ол чевой трубки 9 и в усилитель 12 фнкснрующего устройства.

K усилителю электроннолучевой трубки

30 подведены провода от сельсина И, 182388

5

Сост вг сл н I . Ко!!вагина

Редактор Н. Джарагетти Тскред Г. E. Пет!5овская

Кор!) сатори; В. В, Крылова и Е. Д. Курдюмова

Заказ !932/2 Тираж !450 Формат бугк 60:.;90!/а Обьем О,!6 нз<ь л Подписнос

ЦНИИП1к! Комитета по дел и изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, <о 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Б усилителе имеется второй сельсин и реостатный датчик, управляющий посредством отклоняющей системы движением луча по кругу. Напряжение от датчика 14, установленного на верхнем из патронов 4 (см. фиг, 1), поступая на трубку 9 (см, фиг. 2), вызывает отклонение луча в трубке вдоль радиуса. В результате одновременного воздействия на луч двух отклоняющих полей последний движется по спирали согласовано с излучателем и приемником электромагнитных волн.

Сн! 11 l,, I oт пРиеAIIIIII(<1 2 <

ВОЛН ПОСЛЕ Pj С!1. 1ЕНИ5! H03, ICIICTI5 i Ст Н 1 ННТССНБность электронного лу и и н» экране труб;(и

9 будет изображено строение исследуемого образца.

Предмет изобретен ия

Электромагнитный дефектоскоп, работающий в диапазоне сверхвысоких частот, содержащий приемник, излучатель, электроннолучевую трубку, сканирующую систему .и систему развертки изображения, отличающийся

10 тем, что, с целью повышения производительности контроля изделий, имеющих форму тел вращения, он содержит механизм, обеспечи«в юш,ий clIIIP

15 10 нзобра5кс111151.

Электромагнитный дефектоскоп Электромагнитный дефектоскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для неразрушающего контроля состояния поверхности конструкционных материалов и изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения и приборостроения
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к контролю поверхности металлических сооружений и объектов и может быть использовано для обнаружения и контроля развития дефектов на поверхностях металлических сооружений и объектов, установленных в коррозионных средах различной степени агрессивности в условиях подземного, атмосферного, морского или речного воздействия, в частности для обнаружения и контроля развития трещин на покрытых изоляций поверхностях нефте- или газопроводов

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, и предназначен для обнаружения дефектов в стенах и перекрытиях строительных сооружений при одностороннем доступе и может найти применение для обнаружения инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного или естественного происхождения, в том числе расположенных за металлической арматурой, или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры, со стороны противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, и предназначено для контроля дефектов в стенах и перекрытиях строительных сооружений, в частности армированных, при одностороннем доступе и может найти применение для обнаружения инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного или естественного происхождения, расположенных за металлической арматурой, или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры, со стороны противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций

Изобретение относится к методам и технике неразрушающего контроля, например с помощью сверхвысоких частот, при одностороннем доступе к контролируемому объекту, и может найти применение для обнаружения в стенах и перекрытиях строительных сооружений инородных металлических или диэлектрических предметов искусственного и естественного происхождения, в том числе расположенных за металлической арматурой или закрепленных непосредственно на арматуре, или расположенных между прутками арматуры со стороны, противоположной направлению облучения электромагнитным сигналом, и, в частности, в стенах строительных сооружений, выполненных по технологии цельнозаливных железобетонных конструкций, а также скрытых дефектов в виде пустот и трещин, металлической арматуры, санитарно-технических коммуникаций, кабельных магистралей, электрических и телефонных проводок

Изобретение относится к области подповерхностной радиолокации

Изобретение относится к устройствам неразрушающего контроля и может использоваться для обнаружения неоднородностей в строительных конструкциях

Изобретение относится к области обнаружения локальных дефектов в проводниках с использованием акустической эмиссии и может найти применение для выявления скрытых локальных дефектов в различных металлических конструктивных элементах, находящихся в статическом состоянии или в процессе движения

Изобретение относится к дефектоскопии с помощью СВЧ-волн и может найти применение для обнаружения неоднородностей в различных твердых средах, определения их расположения и геометрических форм
Наверх