Патент ссср 190438

 

О П И С А Н И Е l90438

И 3 О 6 РЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ссвз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 20.1Х.1965 (№ 1028619/26-9) Кл. 21 а, 71 с присоединением заявки №

МПК G plr

Приоритет

Опубликовано 29.Х11.1966. Бюллетень № 2

Дата опубликования описания 20.II.1967

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 621.317.335(088.8) t

1

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ

ПРОНИЦАЕМОСТИ ВЕЩЕСТВ

15 — е —" где

Известны способы измерения комплексной диэлектрической проницаемости веществ, основанные на изменении поляризационной структуры волны с круговой поляризацией, отраженной от поверхности исследуемого об- 5 раз ца.

Особенностью предложенного способа является ro, что определяют минимум коэффициента деполяризации волны (Р„,„ ) и угол скольжения (О;), при котором этот коэффи- 10 циент минимален, а затем ьычисляют комплексную диэлектрическую проницаемость.

Комплексную диэлектрическую проницаемость определяют по формулам:

=-=cos И,P ctg H„+2ctg О <со s(4arc tg P„„) +1;

sin (4arc tg Р„„,) 20

:. = are tg

tg " (-1, + cos (4агс tg P„„) Предложенный способ позволяет повысить точность и упростить процесс измерения комплексной диэлектрической проницаемости.

Предмет изобретения

Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости веществ на сверхвысоких частотах, основанный на изменении поляризационной структуры электромагнитной волны, отраженной от поверхности образца исследуемого вещества, причем в качестве источника сигнала используют волну с линейной поляризацией, наклоненную под углом 45 к плоскости образца, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения, определяют минимум коэффициента деполяризации волны, отраженной от поверхности образца, и угол скольжения, при котором этот коэффициент минимален, по которым вычисляют диэлектрическую. проницаемость.