Патент ссср 193302

Авторы патента:

G03C5/02 - сенситометрия, например определение светочувствительности, цветочувствительности, градации, зернистости, плотности светочувствительных материалов; изготовление сенситометрических клиньев

ОПИСАН ИЕ l93302

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт, свидетельства №

Кл. 57с, 4

Заявлено ЗО.III.1966 (№ 1066650126-10) с присоединением заявки ¹

Приоритет

Опубликовано 02.lll.1967. Бюллетень ¹ 6

МПК G 03d

УД K 771.534,531 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Дата опубликования описания 24.11.1967

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБЪЕКТИВНОЙ ОЦЕНКИ ГРАНУЛЯРНОСТИ

ФОТОГРАФИЧЕСКИХ ЙОЧЕРНЕНИЙ

Известны устройства для определения гранулярпости фотографических почернений посредством измерения средней квадратичной флуктуации фототока при сканировании фотослоя световым пучком, в которых сканирование осуществляется прямолинейным или круговым движением образца, перемещающегося вместе со столиком.

Эти устройства не обеспечивают получения большого числа информации за короткий промежуток времени.

Предлагаемое устройство отличается тем, что в проекционно-регистрирующей системе за объективом установлен вращающийся диск с эксцентрично расположенной щелью, позади которого расположена собирательная линза, направляющая пучок сканирующего света на входное окно фотоэлектронного ум ожителя.

Это позволяет быстро получать большое количество измерений в проходящем или отраженном свете и открывает широкие возможности для непрерывного автоматического измерения гранулярности в производственных условиях.

На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Устройство состоит из осветительной системы 1, кольцевой диафрагмы 2, микрообъектива 8, проекционного объектива 4, вращающегося диска б с эксцентрично расположенной щелтпо б, положительной линзы 7, фотоэлектронного умпожнтеля 8, электронного блока

9 и регистрирующего прибора 10.

Осветительное устройство содержит источник света, изображение которого проецируется копдснсором в зрачок мпкрообъектпва 3.

Между линзами конденсора расположено плоское зеркало 11 тыльного серебрения, служащее как для поворота светового пучка, так и для отфильтровкп из него значительной до10 ли тепловой составляющей. Микрообъектив Л изображает расположенную в выходном зрач ке конденсора кольцевую диафрагму 2 в плос" кости держателя фотослоя, например предметного столика 12, где расположен исследуемый слой 18, па котором изображается световое кольцо, представляющее собой уменьшенное изображение кольцевой диафрагмы 2.

Под держателем расположен коллектив 14, изображающий зрачок микрообъектива 3

20 вместе с изображением источника света и зрачок проекционного объектива 4.

Исследуемый слой 18 фиксируется держателем, а его изображение, увеличенное проекци25 онным объективом 4, примерно в 20 раз, отбрасывается зеркалом 15 на диск б.

Экран представляет собой вращающийся диск с эксцентрично расположенной щелью б, описывающей при каждом обороте диска

30 кольцо радиусом равным эксцентриситету и

193302 шириной равной размеру щели В радиальном направлении.

Диск б приводится во вращение фрикционной или зубчатой передачей от электродвигателя 1б. Подшипник 17, в котором вращается вал диска б, укреплен в центральной части линзы 7 так, что ось вращения диска совпадает с оптической осью линзы. Линза 7 завальцовывается в оправу 18, служащую крышкой к коробке для помещения фотоэлектронного устройства.

Все элементы оптической системы вЂ” конденсатор, объективы, коллектив 14 и линза

7 вЂ” представляют собой центрированную систему, т. е. расположены на одной оптической оси. С этой осью совпадают ось вращения диска и центр входного окна фотоэлектронного умножителя и таким образом обеспечивается полная осевая симметрия системы и идентичность условий прохождения светового пучка через линзу 7 при любом положении диска.

Линза 7 собирает проходящий через пее пучок в сопряженном фокусе, образуя изображение зрачка объектива 4 на входном окне

ФЭУ при любом положении диска.

Таким образом, пятно, изображающее на фотоэлектронном умножителе зрачок объектива 4, остается неподвижным при вращении диска б, а изменяется только его освещен«IocTb, которая и воспроизводит флуктуации света, вызванные зернистостью исследуемого слоя. Это равносильно просвечиванию исследуемого слоя черезвычайно узким пучком света, описывающим на слое замкнутое кольцо, примерно в 20 раз меньше, чем кольцо, описываемое щелью б.

Так, например, если щель б имеет размеры

0,2Х0,2 лл и расположена на расстоянии

32 лл от оси вращения диска, то описываемому щелью кольцу диаметром 64 лл и шириной 0,2 лл соответствует в плоскости исследуемого слоя кольцо диаметром 3,2 лл, по которому пробегает сканирующая щель шириной вЂ” = 0,01 лл, 0,2

20 причем эта щель имеет резкие границы, не подверженные диффузии, а число промеров за один оборот составляет

N == =1000, 0,2 т. е. около одной тысячи измерений за один оборот.

Если исследуемый слой, оставаясь в своей плоскости, продвигается равномерно поперек оптической оси прибора, то;пшия сканирования из замкнутой окружности превращается в циклоиду, охватывающую значительную долю площади исследуемого материала.

То обстоятельство, что сканирование по кольцевой траектории производится движением щели, позволяет легко осуществлять измерения в различных участках гранулограммы, быстро переходить от одного поля к другому, 20 автоматизировать процесс объективного измерения гранулярпости.

Для измерения слоев на непрозрачной основе устанавливается другая осветительная система, а остальные элементы остаются без

25 изменения.

Предмет изобретения

Устройство для объективной оценки грану30 лярности фотографических почернений посредством измерения средней квадратичной флуктуации фототока, содержащее осветительную систему с кольцевой диафрагмой, держатель исследуемого фотослоя и проекци35 онно-регистрирующую систему с фотоэлектронным умножителем, отлича ощееся тем, что, с целью увеличения числа измерений для использования статистического способа оценки и обеспечения возможности включения уст40 ройства в линию непрерывного автоматического контроля, в проекциопно-регистрирующей системе за объективом установлен вращающийся диск с эксцентрично расположенной щелью, позади которого расположена со45 бирательная линза, направляющая пучок сканирующего света а входное окно фотоэлектронного умножителя.

193302

Составитель А. М. Массов

Редактор Г. П. Ларионова Техред Л. Бриккер Коррскторы: В. В. Крылова и Г. Е. Опарина

Заказ 956 11 Тираж 555 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, о

Похожие патенты:

Фотоэлектрический денситометр // 187517

Способ определения энергетического порога чувствительности ядерной эмульсиипри известных способах оценки значения энергетического порога чувствительности фотоэмульсий по средней плотности проявленных зерен на следе частицы с определенной ионизирующей снособиостью онираются на 5 произвольные предложения о величине флюктуации в передаче энергии частицей мнкро- 'кристаллу agbr. это не дает возможности быть уверенным в достоверности способов.по предлагаемому способу можно прямо 10 'получить кривую распределения лппфокрнсталлов agbr ядерной эмульсии по их чувствительности.способ основан на изучении фотографической эффективности результата попадания в 15 микрокристалл отдельного электрона известной энергии, тормозяи1.егося внутри мнкрокристалла до остановки. при этом миниг^итльная энергия электро]1а, которая сообщает микрокристаллу способность к проявлению может 20 быть отождествлена с чувствительностью микрокристалла.заключается способ в том, что на однослойном препарате исследуемой эмульсии экспонируют под электронным пучком последова- 25 тельность полей, отличающихся энергией электронов, но при постоянстве экспозиций. после нроявления препарата определяют плотность проявленных зерен в полях облучения и строят зависимость выхода нроявлен- 30 ных зерен от энергии электронов.нов выбирают такими, чтобы можно было пренебречь вероятностью кратных попаданий электронов в микрокристалл и выходом электронов за пределы микрокристаллов. этим условиям соответствуют экспозиции 0,1—0,2 электрона на микрокристалл и эпергия электронов при экспозиции, не превыщающая 2000 эв (максимальиый пробег в agbr~ -^10^0 см).тогда нолучеииая зависимость выхода проявленных зерен от энергии электронного пучка будет показывать долю микрокристаллов с норого>&.! чувствнтельности не выще заданного значення энергии, а дифференцированная кривая — распределенне микрокристаллов по чувствительности.предмет изобретенияспособ онределення энергетического порога чувствительности ядерной эмульсни по плотности проявленных зерен, находящихся в ноле облучення, отличающийся тем, что, с целью нолучення сведеннй о распределепи'и мнкрокрнсталлов agbr по чувствительности, изучают выход проявленных зерен на последовательности полей однослойного препарата, экспонированных npii постоянной экспозиции электронами с различной энергней в условнях эксноннровання, когда вероятность кратных попаданнй электронов в микрокристалл и выход электронов за нределы микрокристалла нренебрежимо малы. // 172407

Устройство для измерения оптических плотностей // 170838

Патент 160948 // 160948

Патент 159307 // 159307

Патент 158801 // 158801

Патент 158207 // 158207

Патент 154133 // 154133

Етрическая линейка для определения экспозиции при киносъемке // 153653

Способ непрерывного измерения плотности фотографического изображения // 142147

Способ получения резольвограмм с помощью спекл-структуры и резольвометр для его осуществления // 2147764

Изобретение относится к испытаниям светочувствительных материалов

Перестраиваемый спекл-интерферометрический резольвометр // 2184989

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, в частности к средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и обеспечивает повышение производительности получения резольвограмм, возможность автоматизации и расширение перечня тестируемых светочувствительных материалов

Способ расшифровки спекл-резольвограмм // 2223524

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, а именно к методам и средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и может быть использовано в автоматизированных системах тестирования фоторегистрирующих материалов и сред

Способ определения экспозиций при аддитивной фотопечати // 2082214

Изобретение относится к области цветной фотографии и может использоваться преимущественно при аддитивной фотопечати в профессиональной и любительской сфере

Способ изготовления откорректированных // 198132

Всесоюзная : 1|| яашгшо- ,«|' тпхкйчгс'ая ^^ iе^{:>& л}!07т!г;,iк. а. короташ // 198134

Денситометр // 204134

Интерференционный резольвометр // 207018

Интерференционный резольвометр // 212751

Способ определения частотно-контрастных характеристик фотографических систем // 218661