Патент ссср 204674

 

Союз Соаетских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 42/, 3/08

42h, 20,01

Заявлено 17Х.1966 (№ 1076108/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

МПК 6 01п

G, 02c1

УД К 543,423 (088.8) Комитет по долам

«аобретений н открытий ари Сосете Министров

СССР

Опубликовано 20.Х.1967. Бюллетень № 22

Дата опубликования описания 25.XII.1967

Автор изобретения

А. К. Туманов

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЪНОГО АНАЛИЗА

Известны устройства для спектрального анализа, содержащие два расположенных соосно угольных электрода, в одном из которых имеется отверстие, заполняемое пробой.

Предложенное устройство отличается or известных тем, что его электроды помещены во вращающееся магнитное поле.

Три пары катушек, согласно изобретению, одеты на шесть полюсов магнитопровода и расположены в плоскости, перпендикулярной оси электродов. При этом катушки соединены попарно последовательно и включены звездой или треугольником в трехфазную цепь переMpIIHoI о тока.

Это позволяет исключить непосредственное воздействие разряда на материал пробы и, таким образом, повысить точность анализа, а также создать вращающееся магнитное поле.

На фиг. 1 и 2 показано предложенное устройство в двух проекциях.

Вращающееся магнитное поле создается системой трех пар катушек 1, 2 и 8, одетых на шесть радиально расположенных полюсов магнитопровода 4. Оси катушек смещены относительно одна другой на 120 . Катушки соединены попарно последовательно и включены звездой или треугольником в трехфазную сеть переменного тока.

Сложение магнитных полей катушек приводит к образованию в межполюсном пространстве магнитного поля, вращающегося с частотой питающего тока.

По оси вращения поля установлены нижний элсктрод 5 в виде рюмки, отверстие которого

5 заполнено пробой на / высоты, и верхний электрод 6, заточенный на усеченный конус.

Нижний электрод служит анодом дуги постоянного тока, активизированной высокочастотным разрядом.

10 Под действием вращающегося магнитного поля аноднос пятно дуги вращается по торцовой поверхности нижнего электрода вокруг отвсрстия с пробой, не проникая в него. Благодаря этому исключаются непосредственное

15 воздействие разряда на материал пробы и локальные перегревы электрода. Частота вращения аподного пятна соответствует частоте вращения поля, в то время как катодное пятно остается неподвижным.

Предмет изобретения

1. Устройство для спектрального анализа, содержащее два соосно расположенных электрода, в одном из которых имеется отверстие, 25 заполняемое пробой, отличпющееся тем, что, с целью повышения точности, электроды помещены во вращающееся магнитное поле.

2. Устройство по п. 1, отличаюш,ееся тем, что, с целью создания вращающегося магнит30 ного поля, применены три пары катушек, оде204674

Фиг. 1 г

Составитель М. В. Пантелеев

Редактор И. С. Грузова Техред Л. Я. Бриккер Корректоры; И. Л. Кириллова и Л. В. Наделяева

Заказ 3892/16 Тираж 535 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 тых на шесть полюсов магнитопровода и расположенных в плоскости, перпендикулярной оси электродов; при этом катушки соединены попарно последовательно и включены звездой или треугольником в трехфазную цепь переменного тока.

Патент ссср 204674 Патент ссср 204674 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к индуктивным датчикам, и может быть использовано для магнитных и линейно-угловых измерений, в дефектоскопии, для обнаружения и счета металлических частиц и тому подобное

Изобретение относится к измерению одной из сопутствующих переменных в частности путем исследования магнитного параметра поля рассеяния и может быть использовано в диагностике технического состояния трубопроводов

Изобретение относится к технике исследования материалов, в частности к технике обнаружения металлических включений в диэлектрических материалах, и может найти применение в химикофармацевтическом производстве, пищевой, микробиологической и химической промышленностях

Изобретение относится к измерительной технике для неразрушающего контроля качества материалов и предназначено для локального измерения ферромагнитной фазы аустенитных сталей при литье, в заготовках и готовых изделиях, сварных швах, наплавках и др

Изобретение относится к физике, а именно к системам контроля

Изобретение относится к области физических методов измерения магнитных характеристик веществ, а точнее к тем из них, которые используются при повышенных и высоких температурах

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники в машиностроении и черной металлургии и может быть использовано при неразрушающем контроле ферромагнитных изделий
Наверх