Устройство для контроля наличия поверхностных дефектов

Авторы патента:

G01B11/30 - для измерения шероховатости или неровностей поверхностей

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Соеетскиа

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 12.Х.1966 (№ 1107022!25-28) Кл. 42b, 12,/05

42k, 46j04 с присоединением заявки №

МПК б 01Ь

G 01п

УДК 531.717.82:

:620.191 (088.8) Приоритет

Опубликовано 29.Х11.1967. Бюллетень № 3

Дата опубликования описания 1.III.1968

Комитет по делан изобретений и открытий прн Сосете Министров

СССР

В. С. Вихман и В. И. Харитонов

Авторы изобретения

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ НАЛИЧИЯ

ПОВЕРХНОСТНЫХ ДЕФЕКТОВ

2. варительно,пропускается через линзу 8 для контроля определенного участка детали 4. Отраженные лучи проходят через прямоугольную диафрагму 5 и образуют на фоточувствитель5 ном слое светоприемника б прямоугольное изоораженис. Во время контроля деталь 4 приводится во вращение с надлежащими угловыми скоростями вокруг вертикальной и горизонтальной осей и поэтому на фоточувствитель10 ный слой светоприемника трубки последовательной разверткой проецируется вся поверхность детали.

Выход светоприемника соединен с цифровой вычислительной машиной 7, определяющей

15 едини шые дефекты, размеры которых переходят за пределы допустимой величины.

20 Устройство для контроля наличия поверхностных дефектов, состоящее из источника света, светоприемника и цифровой вычислительной машины, отличающееся тем, что, с целью увеличения производительности и точности кон25 троля, источник света вьгполнен в виде лазера.

Известны устройства для автоматического или визуального контроля наличия дефектов на поверхности изделий, состоящие из источников света, оптической осветительной системы, оптической проецирующей системы, светоприемников и вычислительного блока, причем в качестве источников света используются обычные лампы накаливания, а в качестве светоприсмников вЂ” передающие телевизионные трубки; выходы последних соединены с вычислительным блоком, определяющим единичные дефекты, размеры которых переходят за пределы допустимой величины.

Предлагаемое устройство отличается от известного тем, что его источник света выполнен в виде лазера.

Это позволяет увеличить площадь проецируемого на контролируемую поверхность светового пятна и интенсивность отраженного светового потока, увеличить производительность и точность контроля.

На чертеже изображена блок-схема устройства.

Устройство содержит источник света, выпо7ненный в виде лазера 1. Луч 2 лазера предПредмет изобретения

208286

I !

1 !

Составитель Г. Ф. Корчагина

Редактор Б. С. Нанкина Техред А. А. Камышникова Корректоры: И. Л, Кириллова и И. И. Быстрова

Заказ 191/6 Тираж 530 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Устройство для контроля наличия поверхностных дефектов

Похожие патенты:

Компенсационный объектив // 202547

Интерферометр для контроля качества вогнутых отражающих поверхностей вращения // 201721

Интерферометр для контроля качества плоских оптических поверхностей // 200227

Патент 200171 // 200171

Фотоэлектрический прибор для автоматического выявления дефектов на движущейся поверхности // 198696

Оптико-электронное устройство для контроля прямолинейности направляющих // 198689

Интерференционный способ определения // 196359

Прибор для шагового контроля прямолинейности // 191141

Устройство для наблюдения и измерения высот неровностей поверхности по искривлению муаровых полос // 189605

Микрорефлектометр // 187353

Устройство для определения качества поверхности // 2104480

Изобретение относится к медицинской промышленности, в частности, к способу получения реактива для определения активированного парциального тромбопластинового времени (АПТВ) из отходов производства соевого лецитина

Способ исследования оптического диска оригинала и устройство для его осуществления // 2107893

Устройство для измерения шероховатости и волнистости поверхности при фиксированных значениях базовой длины // 2116616

Изобретение относится к технике измерения и может быть использовано для контроля выпуска продукции с регламентированными параметрами шероховатости и волнистости в металлургической, машиностроительной, электронной, оптической, полиграфической промышленности, в самолетостроении, в технологиях нанесения покрытий

Устройство для измерения поверхностных характеристик // 2124701

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройству для измерения поверхностей и профилей с помощью интерферометрии

Способ и устройство для высокоточного бесконтактного измерения расстояний поверхностей // 2148790

Изобретение относится к области оптических измерений, прежде всего шероховатости поверхностей

Способ контроля параметров наружной резьбы и устройство для его осуществления // 2151999

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно к измерительной технике с помощью оптоэлектронных приборов, и может быть использовано при производстве и эксплуатации деталей и устройств, имеющих наружную резьбу

Способ контроля параметров внутренней резьбы и устройство для его осуществления // 2152000

Способ детектирования положения линии сгиба на упаковочном полотне и устройство для его осуществления // 2153160

Изобретение относится к способу детектирования положения линии сгиба или аналогичной неровности на движущемся упаковочном полотне на подобном материале

Устройство для определения шероховатости поверхности // 2156437

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении шероховатости сверхгладких поверхностей, например плоских зеркал, полированных подложек и т.п

Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия // 2156955

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля шероховатости поверхности изделия