Омический контакт к кремниеву солнечному элементу

 

Использование: изобретение относится к электронной технике и может быть использовано в фотоэнергетике, преимущественно в солнечных элементах при преобразовании излучения высокой плотности. Сущность: омический контакт состоит из переходного слоя силицида никеля толщиной 0,02 - 0,08 мкм, слоя никеля толщиной 0,2 - 1,0 мкм, слоя меди толщиной 3 - 8 мкм и слоя оловосодержащего припоя толщиной 3 - 10 мкм. Силицид никеля обеспечивает низкое переходное сопротивление контакта, слой никеля служит экраном от диффузии меди в кремний, слой меди обеспечивает низкое электрическое сопротивление контакта. 1 ил.,1 табл.

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано в фотоэнергетике, преимущественно в солнечных элементах для концентрированного излучения.

Известно [1] что стоимость солнечных батарей можно существенно снизить, если использовать концентраторы солнечного излучения. В этом случае площадь солнечного элемента уменьшается пропорционально степени концентрации излучения, при этом соответственно возрастает удельная мощность преобразуемого элементом солнечного излучения. И если в обычных солнечных элементах большое внимание уделяется обеспечению малых шунтирующих токов, то в солнечных элементах для работы с концентраторами излучения первостепенное значение имеет минимально возможное последовательное сопротивление солнечного элемента, которое в основном складывается из переходного сопротивления между металлической контактной сеткой и полупроводником и сопротивлением контактной сетки.

Известны омические контакты для кремниевых солнечных элементов системы титан палладий серебро [2,3] Такие контакты применяются в основном для солнечных элементов космического назначения, где стоимость не является решающим фактором.

Для наземных солнечных элементов более целесообразно использовать омические контакты на основе неблагородных металлов, например многослойную систему, состоящую из последовательно расположенных слоев силицида никеля, никеля и оловосодержащего припоя [4] Несмотря на низкое переходное сопротивление, известная контактная система не эффективна в солнечных элементах для концентрированного излучения из-за высокого сопротивления проводящего слоя никеля.

В заявляемом омическом контакте к кремниевому солнечному элементу, включающему последовательно расположенные слои силицида никеля, никеля и оловосодержащего припоя, на слое никеля дополнительно расположен слой меди толщиной 3 8 мкм.

На чертеже показан предложенный омический контакт.

Контакт содержит слой 1 силицида никеля толщиной 0,02 -0,08 мкм, слой 2 никеля толщиной 0,2 1,0 мкм, слой 3 меди толщиной 3 8 мкм и слой оловосодержащего припоя толщиной 3 10 мкм, а также кремниевый солнечный элемент 5.

Слой 1 силицида никеля служит переходным слоем и обеспечивает низкое переходное сопротивление контакта. Слой никеля 2 является экраном от диффузии меди в кремний и подслоем для наращивания меди. Толщина слоя никеля менее 0,2 мкм недостаточна для выполнения указанных функций, а толщина более 1,0 мкм не дает заметных преимуществ. В тоже время скорость роста "химического" никеля при толщине более 1,0 мкм значительно падает. Слой меди 3 значительно снижает электрическое сопротивление контакта, во-первых, из-за более высокой проводимости меди по сравнению с никелем, во-вторых, из-за увеличения толщины контакта. Все это снижает последовательное сопротивление солнечного элемента и повышает эффективность преобразования излучения. Толщина слоя меди менее 3 мкм не обеспечивает достаточную электропроводность контакта. При толщине слоя меди более 8 мкм, когда толщина контактных полос становится сопоставимой с их шириной, возрастает затенение поверхности солнечного элемента, что снижает эффективность последнего.

Пример. Кремниевую пластину, на которой сформированы структуры солнечных элементов n+-p -p+-типа и вытравлены окна под контакты в просветляющем покрытии (на лицевой стороне), помещают на 20 25 с в ванну с активирующим раствором состава, мас.

Ионы золота 5102 Кислота соляная 7 Аммоний фтористый 15 Вода деионизованная Остальное Из активирующего раствора подложку переносят в нагретый до кипения никелирующий раствор состава, г/л: Никель двухлористый 40 Кислота янтарная 20 Глицин 50 Натрий фосфороватистокислый 15
Натрий гидроокись 13,5
В никелирующем растворе пластину выдерживают 60 90 с.

После получения никелевого покрытия пластину подвергают термообработке в атмосфере азота или другой нейтральной среды при 300 20oС в течение 30 2 мин, чтобы сформировать на границе раздела никель - кремний переходный слой из силицида никеля. Непрореагировавший с кремнием никель стравливают в разбавленной азотной кислоте (HNO3:H2O 1:1) при 60 90oС в течение 4 6 мин.

Далее как описано выше наносят новый слой никеля. Время осаждения 3 5 мин.

Пластину с никелевым покрытием помещают в ванну для гальванического осаждения меди следующего состава, г/л:
Медь сернокислая 30
Натрий фосфорноватистокислый 130
Натрий фосфорноватистокислый двузамещенный 80
Время меднения 30 мин при плотности тока 0,4 А/дм2 и температуре электролита 50oС, рН 7,8 8,5.

Далее пластину помещают в ванну для гальванического лужения и выдерживают 15 20 мин, при комнатной температуре (плотность тока 0,3 0,5 А/дм2, напряжение 2 3 В), чтобы нанести на медь защитный слой сплава олово - висмут. Толщина полученных таким образом слоев соответствует п.5, приведенному в таблице ниже.

Пластину, на которой сформированы контактные слои, разрезают на отдельные солнечные элементы с помощью алмазного диска. После отмывки и высушивания солнечные элементы облуживают горячим способом в ванне с припоем ПОСК 50 18. Готовые солнечные элементы контролируют на имитаторе Солнца при различной степени концентрации излучения (К 1oC20).

Сравнительные характеристики солнечных элементов предлагаемой конструкции и прототипа приведены ниже. В таблице даны средние значения по ряду образцов 8 10 для каждого примера. Разброс значений в пределах одного ряда примера составляет 0,3oC0,5% абс.

Из таблицы видно, что предлагаемая конструкция омического контакта к солнечному элементу обладает большей эффективностью по сравнению с известной при всех значениях плотности солнечного излучения, особенно при высокой плотности К > 10. Кроме того, как видно из примера выполнения, предлагаемая конструкция создается простыми и дешевыми методами осаждения металлов, не требующими сложного, дорогостоящего оборудования.


Формула изобретения

Омический контакт к кремниевому солнечному элементу, включающий последовательно расположенные слои силицида никеля, никеля и оловосодержащего припоя, отличающийся тем, что на слое никеля дополнительно расположен слой меди толщиной 3 8 мкм.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:
Изобретение относится к области технологии полупроводниковых приборов и может быть использовано при изготовлении различных интегральных датчиков и преобразователей, фото- и оптоэлектронных устройств, включающих в себя слои пористого кремния (ПК) и контакты алюминий/кремний
Изобретение относится к области электрохимиии, в частности к получению хромовых покрытий на полупроводниковых материалах, в частности на кремнии -n и -p типа и силицидах 3d-переходных металлов

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано при изготовлении полевых транзисторов Шоттки на арсениде галлия

Изобретение относится к технологии нанесения с помощью плазмы полимерных покрытий (тонких пленок) на поверхность предметов различного назначения, изготовленных из различных материалов, и может быть использовано в микроэлектронике для нанесения резистных, пассивирующих и диэлектрических слоев, в медицинской промышленности для нанесения антикоррозионных защитных покрытий на хирургические инструменты и медицинское оборудование, с той же целью в производстве химической посуды, в текстильной промышленности для придания волокнам или готовым тканям гидрофобных свойств путем нанесения на их поверхность тонкого слоя полимера и в других областях

Изобретение относится к технологии производства электронной техники и касается нанесения активного диэлектрика или полупроводника на полупроводниковые подложки

Изобретение относится к электронной технике, более конкретно к способу изготовления слабопроникающих контактов интегральных микросхем на кремнии с мелкозалегающими р-n-переходами и особенно в тех случаях, когда требуется высокая термическая стабильность контактов и воспроизводимость их электрических параметров в условиях формирования высокотемпературной металлизации кремниевых интегральных схем
Изобретение относится к оптоэлектронике, а именно к технологии изготовления фотоэлектрических приборов

Изобретение относится к MOS полупроводниковому запоминающему устройству, в частности к полупроводниковому устройству, повышающему высокотемпературную стабильность силицида титана, применяемого для изготовления вентильной линии полицида в DRAM (памяти произвольного доступа)

Изобретение относится к области тонкопленочной технологии и предназначено для использования в микроэлектронике и интегральной оптике

Изобретение относится к электронной технике, более конкретно - к технологии производства интегральных схем (ИС) на кремнии, и может быть использовано для изготовления выпрямляющих и омических контактов к мелкозалегающим p-n переходам и межсоединений

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано при изготовлении твердотельных приборов и их электродов

Изобретение относится к плазменной технологии производства изделий микроэлектроники и может быть использовано для процесса металлизации структур с субмикронными размерами элементов

Изобретение относится к области электронной техники, микроэлектроники и может быть использовано для формирования поверхностных омических контактов в тонкопленочных полевых транзисторах, элементах памяти, солнечных элементах на барьере типа Шоттки и др
Наверх