Способ определения коэффициента теплопроводности газов

 

268488

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

® 4 бй в". ЯЩф

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 21.I11.1966 (№ 1066400/26-10) Кл. 421, 12/02 с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 17Х.1968. Бюллетень ¹ 17

Дата опубликования описания 19Х111.1968

МПК G Olk

УД К 536.23 (088.8) Комитет по делам изобретеиий и открытий при Совете Мииистров

СССР

Авторы изобретения

Ю. А. Демьянов, Ж. С. Дунцова, И. В. Ершов, В. T. Киреев, В. С. Ожигин, Е. И. Рузавин, Э. В. Соколенко и Г. Н. Сунцов

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТА

ТЕПЛОПРОВОДНОСТИ ГАЗОВ

Предмет изобретения

Предлагаемый способ может быть использован при теплофизических исследованиях и в экспериментальной аэродинамике.

Известные способы определения коэффициента теплопроводности газов путем измерения физических параметров контактной и",âåðõHoсти движущегося газового потока не обеспечивают получения зависимости коэффициента теплопроводности от температуры (в широком диапазоне) за один эксперимент.

По предлагаемому способу в исследуемом газе создают контактную поверхность, движущуюся без перепада давления, измеряюг в этой поверхности пространственное или временное распределение плотности газа и, учитывая автомодельность процесса, вычисляют значения коэффициента теплопроводности в широком диапазоне температуры.

Способ осуществляют следующим образом.

Используя ударную трубу с одной диафрагмой и ступенчатым изменением площади поперечного сечения отсека низкого давления, получают контактную область в результате взаимодействия возникшей при разрыве диафрагмы ударной волны с этим изменением площади поперечного сечения. С помощью теневого фотоэлектрического метода измеряют распределение плотности в полученной контактной области. По полученным данным вычисляют зависимость коэффициента теплопроводности от температуры для диапазона температур, который имеет место в контактной области при выбранном режиме, определяемом начальнымп параметрами газов в отсеках трубы и величиной ступенчатого изменения площади поперечного сечения отсека низкого давления.

Эту же зависимость можно получигь, измеряя с помощью интерферометра с импульсным

10 источником света распределение плотности на контактной области в какой-то момент времени (для повышения точности такую картину следует получать в 2 — 3 момента времени), Способ определения коэффициента теплопроводности газов путем измерения физических параметров контактной поверхности дви20 жущегося газового потока, отличаюшийся тем, что, с целью получения зависимости коэффициента теплопроводности от температуры. в исследуемом газе создают контактную поверхность, движущуюся без перепада давления, 25 измеряют в этой поверхности пространственное или временное распределение плотности газа, и, учитывая автомодельность процесса, вычисляют значения коэффициента теплопроводности в широком диапазоне температуры,

Способ определения коэффициента теплопроводности газов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике, в частности к теплофизическим измерениям

Изобретение относится к области теплофизических измерений и может быть использовано в тех отраслях, где требуется определение теплопроводности объемных, тонкослойных и пленочных, в том числе обладающих анизотропией теплопроводности, материалов

Изобретение относится к области технической физики

Изобретение относится к технической физике, а именно к области исследований теплофизических свойств веществ

Изобретение относится к области теплофизических измерений и может быть использовано для определения теплофизических свойств жидкостей и газов, в том числе и в быстропротекающих и необратимых процессах, в потоках при неустановившемся режиме и т.п., а также для измерения нестационарных температур (скоростей)

Изобретение относится к строительной теплотехнике, в частности к измерениям теплофизических характеристик (ТФХ) многослойных ограждающих конструкций (наружных перекрытий, перегородок, покрытий, полов и т.п.)

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для определения теплофизических характеристик материалов
Наверх