Устройство для определения характеристик материалов

 

Устройство относится к техническим средствам для определения теплофизических характеристик твердых материалов. Устройство содержит источник импульсного нагрева, синхронизатор, термопару, измеряющую температуру поверхности образца. Термопара подключена через усилитель к входам коммутаторов. На выходах интеграторов формируются сигналы, величины которых пропорциональны длительности импульса нагрева, интервалам времени от срабатывания датчика до срабатывания компаратора, а также шагу дискретизации величины температуры поверхности образца. Логика работы устройства обеспечивается компараторами, коммутаторами и делителями частоты. Установка начальных условий в каждом цикле вычислений и управление работой блоков умножения, сумматоров, блоков вычитания и блоков деления осуществляется блоком управления. Устройство позволяет определять характеристики однослойных и многослойных объектов при одностороннем доступе. 1 ил.

Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть). Т

Формула изобретения

Устройство для определения характеристик материалов, содержащее источник импульсного нагрева, вход которого через синхронизатор соединен с пусковой клеммой, термопару, подключенную к входу усилителя, два компаратора, пять интеграторов, масштабный усилитель, датчик длительности импульса нагрева, блок умножения, сумматор, два делителя частоты, запоминающее устройство, блок управления и источник опорного напряжения, при этом выход синхронизатора соединен с первым входом управления первого интегратора, второй вход управления которого соединен с выходом датчика длительности импульса нагрева, а выход соединен с первым входом первого компаратора, информационные входы с первого по четвертый интеграторов соединены с выходом источника опорного напряжения, выход второго интегратора соединен через первый масштабный усилитель с первым входом второго компаратора, второй вход которого соединен с выходом третьего интегратора, а выход соединен с первым входом управления третьего интегратора и первым входом первого делителя частоты, выход которого соединен с первым входом блока управления, второй вход которого соединен с выходом второго компаратора, отличающееся тем, что оно дополнительно содержит два компаратора, три масштабных усилителя, три блока умножения, три сумматора, девять запоминающих устройств, три коммутатора, пять квадраторов, три блока вычитания и два блока деления, при этом первый вход управления пятого интегратора соединен с выходом датчика длительности импульса нагрева, первым входом управления второго интегратора и первым входом второго делителя частоты, второй вход которого соединен с выходом первого компаратора, вторым входом управления пятого интегратора и третьим входом блока управления, а выход соединен с четвертым входом блока управления, пятый вход которого соединен с вторым входом первого делителя частоты и выходом третьего компаратора, первый вход которого соединен с выходом четвертого интегратора, а второй вход соединен через второй масштабный усилитель с выходом второго интегратора, выход усилителя соединен с входом первого коммутатора, первый выход которого соединен с входом первого запоминающего устройства, выход которого соединен с первым входом первого сумматора, первым входом второго сумматора и входом первого квадратора, выход которого соединен с первым входом третьего сумматора, второй вход которого соединен с выходом второго квадратора, вход которого соединен с вторым входом первого сумматора, вторым входом второго сумматора и выходом второго запоминающего устройства, вход которого соединен с вторым выходом первого коммутатора, третий выход которого соединен с входом третьего запоминающего устройства, выход которого соединен с третьим входом первого сумматора, третьим входом второго сумматора и входом третьего квадратора, выход которого соединен с третьим входом третьего сумматора, четвертый вход которого соединен с выходом четвертого квадратора, вход которого соединен с четвертым входом первого сумматора, четвертым входом второго сумматора и выходом четвертого запоминающего устройства, вход которого соединен с четвертым выходом первого коммутатора, выход первого сумматора соединен с входом пятого квадратора, первым входом первого блока умножения и первым входом второго блока умножения, второй вход которого соединен с выходом второго сумматора и первым входом третьего блока умножения, второй вход которого соединен с входом третьего масштабного усилителя и выходом третьего сумматора, а выход соединен с первым входом первого блока вычитания, второй вход которого соединен с выходом первого блока умножения, а выход соединен с первым входом первого блока деления, второй вход которого соединен с выходом второго блока вычитания и первым входом второго блока деления, второй вход которого соединен с выходом третьего блока вычитания, а выход соединен с первым выходом устройства и первым входом четвертого компаратора, второй вход которого соединен с выходом первого блока деления и вторым выходом устройства, а выход соединен с вторым входом управления второго интегратора, вторым входом управления третьего интегратора, входом управления четвертого интегратора и шестым входом блока управления, выход усилителя соединен с входом второго коммутатора, первый выход которого соединен с входом пятого запоминающего устройства, а второй выход соединен с входом шестого запоминающего устройства, выход которого соединен с первым входом четвертого блока умножения, второй вход которого соединен с выходом пятого запоминающего устройства, а выход соединен с входом третьего коммутатора, первый выход которого соединен с входом седьмого запоминающего устройства, выход которого соединен с первым входом четвертого сумматора, второй вход которого соединен с выходом восьмого запоминающего устройства, вход которого соединен с вторым выходом третьего коммутатора, третий выход которого соединен с входом девятого запоминающего устройства, а четвертый выход соединен с входом десятого запоминающего устройства, выход которого соединен с третьим входом четвертого сумматора, четвертый вход которого соединен с выходом девятого запоминающего устройства, а выход соединен с вторым входом первого блока умножения и входом четвертого масштабного усилителя, выход которого соединен с первым входом третьего блока вычитания, второй вход которого соединен с выходом второго блока умножения, выход пятого интегратора соединен с вторым входом первого компаратора, выход третьего масштабного усилителя соединен с первым входом второго блока вычитания, второй вход которого соединен с выходом пятого квадратора, первый выход блока управления соединен с входом управления первого коммутатора и входом управления второго коммутатора, второй выход блока управления соединен с входом управления четвертого блока умножения, третий выход блока управления соединен с входом управления третьего коммутатора, четвертый выход блока управления соединен с входом управления первого сумматора и входом управления третьего сумматора, пятый выход блока управления соединен с входом управления второго блока вычитания, шестой выход блока управления соединен с входом управления второго сумматора и входом управления четвертого сумматора, седьмой выход блока управления соединен с входом управления первого блока умножения, второго блока умножения и третьего блока умножения, восьмой выход блока управления соединен с входом управления первого блока вычитания и входом управления третьего блока вычитания, девятый выход блока управления соединен с входом управления первого блока деления и входом управления второго блока деления, выход первого делителя частоты соединен с третьим выходом устройства, выход первого масштабного усилителя соединен с четвертым выходом устройства.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10, Рисунок 11, Рисунок 12, Рисунок 13, Рисунок 14, Рисунок 15, Рисунок 16, Рисунок 17, Рисунок 18, Рисунок 19, Рисунок 20, Рисунок 21, Рисунок 22, Рисунок 23, Рисунок 24, Рисунок 25



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к методам диагностики материалов, в частности способам проведения термостимулированной токовой спектроскопии диэлектриков, проявляющих свойства электретов, путем регистрации, визуального представления и анализа спектров термостимулированных токов, возникающих при релаксации электретного заряда

Изобретение относится к области теплофизических измерений

Изобретение относится к способам определения физических свойств материалов, в частности к исследованию эффективной теплопроводности порошков из металлов и оксидов

Изобретение относится к области теплофизических измерений

Изобретение относится к импульсным методам неразрушающего контроля теплофизических характеристик материалов с использованием точечного источника тепла

Изобретение относится к теплофизике, а именно к области контроля качества теплоизоляционных покрытий

Изобретение относится к области измерения теплофизических параметров вещества в газообразном, жидком и твердом состоянии

Изобретение относится к области измерения теплофизических характеристик материалов

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к области теплофизических измерений

Изобретение относится к области определения теплофизических характеристик почв в полевых условиях

Изобретение относится к тепловым испытаниям
Наверх