Способ изготовления толстопленочной структуры на основе высокотемпературного сверхпроводника

Изобретение относится к отрасли криоэлектроники и может быть использовано при изготовлении толстопленочных структур на основе высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) и элементов, использующих эффект высокотемпературной сверхпроводимости. Сущность изобретения: способ изготовления толстопленочной структуры на основе высокотемпературного сверхпроводника включает нанесение на подложку промежуточного слоя Bi2О3, сушку и термообработку. Температура термообработки соответствует температуре плавления Bi2O3 и составляет 825°С. Время термообработки промежуточного слоя Bi2O3 составляет 5-6 минут. Затем наносится слой высокотемпературного сверхпроводника системы Bi-Sr-Ca-Cu-O, который сушится и ожигается для окончательного формирования требуемой кристаллической структуры и сверхпроводящих свойств. Технический результат изобретения состоит в обеспечении адгезии пленки высокотемпературного сверхпроводника висмутовой системы Bi-Sr-Ca-Cu-0 к подложке без потери сверхпроводящих свойств и улучшении качественных характеристик толстопленочной ВТСП структуры путем введения в структуру промежуточного слоя Bi2O3. 1 ил.

 

Изобретение относится к отрасли криоэлектроники и может быть использовано при изготовлении толстопленочных структур на основе высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) и элементов, использующих эффект высокотемпературной сверхпроводимости.

Известен способ получения буферного слоя Zr(Y)O2 для тонкопленочных ВТСП структур [1]. Буферный слой формируется методом высокочастотного (ВЧ) магнетронного распыления мишеней, представляющих собой смесь оксидов циркония ZrO2 и иттрия Y2О3, на подложки сапфира. Недостатками указанного способа являются:

- сложность аппаратурного оформления процесса получения;

- трудоемкость процесса;

- зависимость качества буферного слоя от большого числа операционных и технологических параметров.

Для толстопленочных ВТСП структур системы Bi-Sr-Ca-Cu-O буферные слои Zr(Y)O2 непригодны, во-первых, из-за слабой адгезии ВТСП слоя и, во-вторых, из-за возможного загрязнения ВТСП слоя иттрием в процессе высокотемпературной обработки структур и нарушения вследствие этого сверхпроводящих свойств.

Известен способ изготовления сверхпроводящих покрытий на керамических подложках MgO [2], где в качестве промежуточного слоя между подложкой и покрытием используется слой серебра. Недостатком указанного способа является то, что подслой серебра не обеспечивает необходимой адгезии в многослойной структуре как со стороны подложки, так и со стороны сверхпроводящего слоя и приводит к разрушению структуры при термоциклировании.

Наиболее близким к заявляемому является способ изготовления подложки для ВТСП покрытий на основе MgO керамики и серебра, при котором готовят смесь порошков MgO и Ag, содержащую от 30 до 70% серебра, затем ее прессуют и обжигают при температуре порядка 1000°С. Далее уплотняют внедрением тугоплавкого материала и после обжига шлифуют поверхность, на которую по толстопленочной технологии наносится ВТСП покрытие [3].

Недостатками указанного способа являются:

- отсутствие серийно выпускаемых подложек и высокая стоимость из-за присутствия в их составе драгоценного металла - серебра;

- трудоемкость процесса изготовления;

- недостаточная адгезия ВТСП толстопленочного покрытия к подложке из-за высокого содержания в ее составе серебра.

Технический результат изобретения состоит в обеспечении адгезии пленки высокотемпературного сверхпроводника висмутовой системы Bi-Sr-Ca-Cu-O к подложке без потери сверхпроводящих свойств и улучшении качественных характеристик толстопленочной ВТСП структуры путем введения в структуру промежуточного слоя Bi2O3.

Предложенный способ изготовления толстопленочной структуры на основе высокотемпературных сверхпроводников позволяет решить эту задачу.

На подложке поликристаллического MgO методом осаждения из спиртовой взвеси осаждается слой Bi2O3. Слой Bi2О3 сушится с целью удаления спирта и подвергается высокотемпературной термообработке при температуре плавления Bi2O3, составляющей 825°С.

На поверхности подложки образуется гладкая, однородная, прозрачно-желтая пленка Bi2O3, хорошо сцепленная с поверхностью подложки благодаря проникновению расплава в поры поликристаллической подложки.

Качественные характеристики промежуточного слоя Bi2O3 зависят от режима термообработки.

Оптимальный режим термообработки промежуточного слоя Bi2O3 при температуре 825°С в течение 5-6 минут.

Более высокие температуры нецелесообразны. При температуре термообработки менее 825°С не обеспечивается необходимая плотность и адгезия слоя Bi2O3 к подложке: полученный слой Bi2O3 рыхлый, слабо сцепленный с поверхностью подложки, легко осыпается.

При продолжительности термообработки менее 5 минут при 825°С происходит неполное расплавление Bi2O3 и образовавшийся слой Bi2О3 неоднороден по своему фазовому составу и плотности. Образование однородного, хорошо сцепленного с подложкой слоя Bi2O3 заканчивается через 5-6 минут при температуре 825°С. Более продолжительная термообработка при этой температуре может привести к неконтролируемому растеканию слоя Bi2O3 и его частичному испарению. Возможно нарушение целостности слоя вследствие локального истончения на выступающих геометрических неоднородностях поверхности подложки.

На подложку с промежуточным слоем Bi2O3 методом шелкографии наносится слой высокотемпературного сверхпроводника состава (Bi,Pb)2Sr2Са2Cu3Ох. После предварительной сушки в термошкафу при температуре 145°С в течение 2 часов проводится высокотемпературный отжиг при температуре 860°С в течение 40 часов для окончательного формирования требуемой кристаллической структуры и сверхпроводящих свойств.

В результате формируется толстопленочная ВТСП структура на основе высокотемпературного сверхпроводника системы Bi-Sr-Ca-Cu-O. ВТСП слой хорошо сцеплен с поверхностью подложки, плотный, не отслаивается. Имеет поликристаллическую структуру.

Пример.

На подложку поликристаллического MgO методом осаждения из спиртовой взвеси осаждается слой Bi2O3. Взвесь готовится из изопропилового спирта марки «осч 13-5» ТУ-6-09-07-1718-91 и порошка Bi2O3 «осч 13-3» ТУ-6-09-02-298-90. Взвесь заливается в сосуд, на дне которого располагается подложка MgO. После выпаривания спирта подложка MgO со слоем Bi2O3 подвергается сушке в термошкафу при температуре 145°С в течение 2 часов. Затем проводится термообработка. Подложка со слоем Bi2O3 помещается в печь и нагревается до температуры плавления Bi2O3=825°С. Выдерживается при этой температуре в течение 5-6 минут. Слой Bi2O3 расплавляется, и на поверхности подложки образуется гладкая, хорошо сцепленная с поверхностью подложки пленка. На поверхность промежуточного слоя Bi2О3 методом шелкографии наносится слой высокотемпературного сверхпроводника Bi1,7Pb0,4Sr2Ca2Cu3Ox. Проводится сушка при температуре 145°С в течение 2 часов и высокотемпературная термообработка на воздухе при температуре 860°С в течение 40 часов.

Проведено измерение температурной зависимости относительного сопротивления (R/R(300)) толстопленочной структуры MgO/Bi2O3/Bi1,7Pb0,4Sr2Ca2Cu3Ox, изготовленной по описанному способу. Толщина промежуточного слоя Bi2O3 составляла 80 мкм. Толщина слоя Bi1,7Pb0,4Sr2Ca2Cu3Ox составляла 150 мкм.

Для сравнения были изготовлены образцы толстопленочных структур MgO/Bi1,7Pb0,4Sr2Ca2Cu3Ox без промежуточного слоя при аналогичных режимах термообработки. Слои Bi1,7Pb0,4Sr2Ca2Cu3Ox имели недостаточную адгезию к подложке, легко царапались и отслаивались после первого термоцикла при погружении в жидкий азот.

Результаты экспериментальных исследований температурной зависимости относительного сопротивления приведены на чертеже.

Результаты исследований показали наличие сверхпроводящих свойств как в толстопленочных структурах MgO/Bi1,7Pb0,4Sr2Ca2Cu3Ox без промежуточного слоя (фиг.1а), так и в структурах MgO/Bi2O3/Bi1,7Pb0,4Sr2Ca2Cu3Ox с промежуточным слоем (фиг.1б). Причем наличие промежуточного слоя Bi2O3 не ухудшает критических параметров сверхпроводящей структуры.

Экспериментальные данные подтверждают достижение заявляемого технического результата.

Использование предложенного способа изготовления толстопленочных структур на основе высокотемпературного сверхпроводника обеспечивает следующие преимущества:

- обеспечивается необходимая адгезия ВТСП слоя;

- не происходит загрязнения ВТСП слоя нежелательными химическими элементами при высокотемпературной термообработке благодаря использованию в качестве промежуточного слоя оксида висмута, входящего в состав ВТСП слоя;

- в процессе высокотемпературной термообработки происходит дополнительное уплотнение ВТСП слоя благодаря тому, что процесс протекает в жидкой фазе расплавленного подслоя Bi2O3;

- простота аппаратурного оформления и технологичность процесса получения промежуточного слоя;

- наличие подслоя Bi2O3 предотвращает обеднение ВТСП слоя висмутом, компенсируя испарение этого самого легколетучего компонента из слоя высокотемпературного сверхпроводника. Благодаря этому использование промежуточного слоя Bi2O3 обеспечивает сохранение сверхпроводящих свойств толстопленочной структуры.

Источники информации

1. Нанотехнологии в электронике. Под. ред. Ю.А.Чаплыгина. - М., Техносфера, 2005, с.362-363.

2. Технология толстых и тонких пленок. Под ред. А. Рейсмана, К.Роуза. - М., Мир, 1972, с.9-13; 83-87.

3. Способ изготовления подложки для ВТСП покрытий на основе MgO-керамики и серебра. Игумнов В.Н., Буев А.Р., Скулкин Н.М., Иванов В.В., Филимонов В.Е. Патент РФ 2234167 от 10.08.2004. 7 Н01L 39/24. Приор. от 14.04.2003. - прототип.

Способ изготовления толстопленочной структуры на основе высокотемпературного сверхпроводника, включающий нанесение на подложку промежуточного слоя и толстой пленки высокотемпературного сверхпроводника висмутовой системы Bi-Sr-Ca-Cu-O, отличающийся тем, что в качестве промежуточного слоя используется слой Bi2O3, прошедший стадии предварительной сушки и термообработки при температуре плавления Bi2O3 в течение 5-6 мин.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к сверхпроводниковым приборам, использующим высокочувствительные структуры на базе пленочных высокотемпературных сверхпроводников. .

Изобретение относится к криоэлектронике и может быть использовано для получения высокотемпературных сверхпроводниковых (ВТПС) пленочных элементов и схем. .

Изобретение относится к электронным устройствам, использующим высокочувствительные системы на базе пленочных высокотемпературных СКВИДов. .

Изобретение относится к криоэлектронике и может быть использовано при изготовлении экранирующих устройств из высокотемпературного сверхпроводника (ВТСП). .

Изобретение относится к тонкопленочной технологии, в частности к изготовлению гибридных интегральных микросхем (ГИМС). .
Изобретение относится к области получения сверхпроводников и может быть использовано в электротехнической, радиотехнической и других отраслях промышленности при получении сверхпроводящего интерметаллического соединения внутри пленочного несверхпроводящего покрытия.

Изобретение относится к криоэлектронике и может быть использовано при изготовлении экранирующих элементов из высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП). .

Изобретение относится к деформационной обработке материалов и может быть использовано для получения изделий, в том числе массивных, из высокотемпературных сверхпроводящих (ВТСП) керамик с высокой токонесущей способностью в форме диска, кольца, прутка, трубки, листа, ленты, которые применяются в накопителях энергии, устройствах магнитной левитации, криогенных электродвигателях, ускорителях, магнитных экранах, токовводах.

Изобретение относится к криогенной технике и может быть использовано при получении сверхпроводящих изделий в линейных и циклических ускорителях, а также в сепараторах частиц высокой энергии.

Изобретение относится к технологии криоэлектроники и может быть использовано при изготовлении высокотемпературных сверхпроводящих (ВТСП) схем

Изобретение относится к области технологии материалов с особыми свойствами и может быть использовано при производстве сверхпроводниковых элементов для магнитных подшипников быстровращающихся роторов и высокополевых квазипостоянных магнитов, а также в любой отрасли машиностроения и приборостроения, где требуется создание высоких постоянных магнитных полей или бесконтактных пассивных магнитных подвесов, например в магнитных сепараторах или в транспорте на магнитной подушке

Изобретение относится к отрасли криоэлектроники и может быть использовано при изготовлении толстопленочных структур на основе высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) и элементов, использующих эффект высокотемпературной сверхпроводимости

Изобретение относится к способам формирования сверхпроводящей тонкой пленки, имеющей области с различными требуемыми для изготовления ВТСП приборов значениями плотности критического тока

Изобретение относится к криоэлектронике и может быть использовано при изготовлении ВТСП-структур

Изобретение относится к криогенной технике, в частности к способу формирования многослойных сверхпроводящих нанопленок

Изобретение относится к сверхпроводящему тонкопленочному материалу и способу его изготовления

Изобретение относится к способу получения сверхпроводниковых изделий на основе керамики состава Bi-Pb-Sr-Ca-Cu-O и может быть использовано для изготовления мишеней, предназначенных для получения наноразмерных пленок высокотемпературного сверхпроводника (ВТСП) методом магнетронного напыления

Изобретение относится к области получения высокотемпературных сверхпроводящих покрытий на металлической подложке
Наверх