Способ получения пленки нитрида алюминия на сапфировой подложке и установка для его осуществления

Изобретение относится к технологии получения пленок нитрида алюминия. Сущность изобретения: в способе получения пленки нитрида алюминия на сапфировой подложке, включающем процесс осаждения на ее предварительно азотированную поверхность материала источника, испаренного электронно- лучевым испарителем, в качестве источника выбран высокочистый алюминий, пары которого в зоне, прилегающей к подложке, вступают в химическое взаимодействие с атомарным азотом, полученным из молекулярного азота путем расщепления его молекул в плазме высокочастотного разряда, и под воздействием направленного электрического поля осаждаются на поверхности сапфировой подложки. Изобретение позволяет получить монокристаллические пленки нитрида алюминия при низких темпетатурах (до 1200)°С на относительно дешевой сапфировой подложке диаметром до 100 мм. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

 

Изобретение относится к технологиям получения полупроводниковых материалов и предназначен, в частности, для производства коротковолновых и СВЧ оптоэлектронных полупроводниковых приборов, работающих при высокой температуре и в агрессивных средах.

Известна технология выращивания объемных монокристаллов нитрида алюминия (AlN) сублимационным методом (Т.Ю.Чемекова, Авдеев О.В., Бараш И.С. ООО «Нитридные кристаллы». «Сублимационный рост объемных кристаллов AlN и подложки из них», Санкт-Петербург, chemekova@n-crystals.fi.ra. Тел.: (812) 103-1397, факс: (812) 103-1398).

Технология реализована в нескольких вариантах: рост монокристалла в термически и химически стабильном вольфрамовом тигле в установке с вольфрамовой оснасткой (резистивный нагреватель, экранная изоляция и т.д.), в карбидизированном танталовом тигле с графитовой оснасткой (ВЧ-нагреватель, графитовая изоляция и т.д.) и в графитовом тигле. В частности, такую технологию применяют для получения монокристаллов AlN на подложке из карбида кремния (SiC). При этом в качестве источника используют спрессованный и предварительно обработанный высокой температурой поликристаллический AlN. Таким методом удается получить объемные монокристаллы диаметром до 20 мм.

Недостатки указанной технологии получения нитрида алюминия заключаются в больших энергозатратах, так как по своей сути является высокотемпературным синтезом, протекающим при температуре (2200-2500)°С, а также больших технологических трудностях, связанных с получением самих SiC подложек большого диаметра, что сказывается на себестоимости изделия.

Известен также способ получения полупроводниковых твердых растворов нитрида алюминия методом магнетронного распыления (Сафаралиев Г.К. «Пленки и покрытия - 2005». Труды 7-й международной конференции. Санкт-Петербург, изд-во Политехнического университета, 2005), который можно выбрать в качестве прототипа.

При этом способе в качестве подложки использована монокристаллическая пластина карбида кремния или сапфир, который дешевле. В качестве источника использована мишень поликристаллического твердого раствора карбида кремния и нитрида алюминия SiC(1-x)AlNx, полученная холодным прессованием субмикронных порошков ингредиентов. Осаждение пленки осуществляется на подложку с помощью ионно-плазменного магнетронного распыления. При этом температура осаждения пленок значительно ниже и составляет 600-1200 градусов. Положительные качества данного способа заключаются в упрощении технологии получения пленок и уменьшении энергетических затрат.

Вместе с тем, при испарении материала источника содержащийся в нем атомарный азот не полностью доходит до поверхности подложки, потому что происходит образование молекулярного азота, который при таких температурах не вступает в химическую реакцию с алюминием.

Техническая задача, решаемая с помощью предлагаемого изобретения, заключается в получении монокристаллической пленки AlN при низких температурах на относительно дешевой сапфировой подложке диаметром до 100 мм.

Для реализации поставленной задачи в качестве источника выбран не поликристаллический нитрид алюминия, как в прототипе, а высокочистый алюминий. Он термически испаряется при помощи ионно-плазменного испарителя, вступает в реакцию с атомарным азотом, полученным в плазме высокочастотного разряда, и осаждается на поверхность предварительно азотированной сапфировой подложки под воздействием направленного электрического поля.

Конструкция одного из возможных вариантов установки приведена на чертеже, где в вакуумной камере 1 размещены ионно-лучевой испаритель 2, тигель с испарителем 3 и нагреватель 4. На нагревателе закреплена сапфировая подложка 5. Установка снабжена источником атомарного азота, включающим кварцевый стакан 6 с трубкой 7 для подачи реакционного газа (молекулярного азота). Внутри стакана установлен высокочастотный разрядник конденсаторного типа с алюминиевыми обкладками 8 и сетчатым электродом 9. Сапфировая подложка установлена на токопроводящем креплении 10. К сетчатому электроду 9 и креплению 10 подведено постоянное напряжение, а к обкладкам 8 подведено высокочастотное (ВЧ) напряжение. Обкладки и сетчатый электрод выполнены из высокочистого алюминия.

Установка работает следующим образом.

После создания вакуума в камере 1 при помощи электронно-лучевого излучателя 2 производят термическое испарение источника 3 (высокочистого алюминия). При этом атомы испаренного алюминия достигают поверхности предварительно нагретой примерно до 1200° сапфировой подложки 5. Для того чтобы реакционный газ - азот (N2), подаваемый в стакан 6 через трубку 7, вступил при таких низких температурах в реакцию с Al с образованием AlN, производят его расщепление до химически активного (атомарного) состояния плазмой высокочастотного разряда, подаваемого на алюминиевые обкладки 8. Атомарный азот в плазме ВЧ - разряда ионизируется, что позволяет направить его к поверхности сапфировой подложки направленным электрическим полем, созданным между сетчатым электродом 9 и креплением подложки 10. После завершения процесса нанесения AlN, давление в вакуумной камере выравнивают до атмосферного и готовый кристалл извлекают из установки.

1. Способ получения пленки нитрида алюминия на сапфировой подложке, включающий процесс осаждения на ее предварительно азотированную поверхность материала источника, испаренного электронно-лучевым испарителем, отличающийся тем, что в качестве источника выбран высокочистый алюминий, пары которого в зоне, прилегающей к подложке, вступают в химическое взаимодействие с атомарным азотом, полученным из молекулярного азота путем расщепления его молекул в плазме высокочастотного разряда, и под воздействием направленного электрического поля осаждаются на поверхности сапфировой подложки.

2. Установка для получения пленки нитрида алюминия на сапфировой подложке, включающая вакуумную камеру, электронно-лучевой испаритель, источник, сапфировую подложку, установленную на токопроводящем креплении, нагреватель, отличающаяся тем, что в зоне, прилегающей к подложке, размещен источник атомарного азота, включающий стакан и трубку для подачи молекулярного азота, в стакане установлен высокочастотный разрядник конденсаторного типа с обкладками, под которым размещен сетчатый электрод, причем к креплению подложки и сетчатому электроду приложено постоянное напряжение.

3. Установка для получения пленки нитрида алюминия на сапфировой подложке по п.2, отличающаяся тем, что обкладки и сетчатый электрод выполнены из высокочистого алюминия, а стакан выполнен из кварца.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способу и устройству плазменного осаждения полимерных покрытий. .

Изобретение относится к области полупроводникового приборостроения и может быть использовано преимущественно для изготовления высокотемпературных датчиков физических величин.

Изобретение относится к области полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении таких приборов как, например, гетеропереходные полевые транзисторы (НЕМТ), биполярные транзисторы (BJT), гетеробиполярные транзисторы (НВТ), p-i-n диоды, диоды с барьером Шотки и многие другие.

Изобретение относится к полупроводниковым структурам, полученным на полупроводниковой подложке с пониженной плотностью пронизывающих дислокаций. .

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов и может быть использовано при создании полупроводниковых приборов. .
Изобретение относится к области технологии производства полупроводниковых приборов, в частности к технологии изготовления транзисторов со структурой кремний - на - изоляторе, с низкой плотностью дефектов.

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов и может быть использовано при создании полупроводниковых приборов. .

Изобретение относится к способу выращивания многослойной структуры на основе InGaN. .

Изобретение относится к области полупроводниковой нанотехнологии, в частности к области тонкопленочного материаловедения, и может быть успешно использовано в современной технике, особенно в быстро развивающейся технологии интегральных схем.

Изобретение относится к пластине SiC с наружным диаметром шесть дюймов и способу ее получения. .

Изобретение относится к устройству и способу управления температурой поверхности, по меньшей мере, одной подложки, лежащей в технологической камере реактора CVD
Изобретение относится к солнечным элементам и к новому использованию тетрахлорида кремния

Изобретение относится к технологическому оборудованию для нанесения полупроводниковых материалов на подложку эпитаксиальным наращиванием и может быть использовано при изготовлении различных полупроводниковых приборов микро- и оптоэлектроники

Изобретение относится к устройству для каталитического химического осаждения из паровой фазы и может быть использовано для формирования пленки на подложке

Изобретение относится к сфере производства гетероэпитаксиальных структур, которые могут быть использованы в технологии изготовления элементов полупроводниковой электроники, способных работать в условиях повышенных уровней радиации и высоких температур. Гетероэпитаксиальную полупроводниковую пленку на монокристаллической подложке кремния выращивают методом химического осаждения из газовой фазы. Проводят синтез гетероструктуры SiC/Si на монокристаллической подложке кремния в горизонтальном реакторе с горячими стенками путем формирования переходного слоя между подложкой и пленкой карбида кремния со скоростью не более 100 нм/ч при нагреве упомянутой подложки до температуры от 700 до 1050°C с использованием газовой смеси, содержащей 95-99% водорода и в качестве источников кремния и углерода SiH4, C2H6, С3Н8, (CH3)3SiCl, (CH3)2SiCl2, при этом C/Si≥2, и формирования монокристаллической пленки карбида кремния с помощью подачи в реактор парогазовой смеси водорода и CH3SiCl3 при поддержании в реакторе абсолютного давления в диапазоне от 50 до 100 мм рт.ст. В качестве подложки кремния используют пластину, имеющую угол наклона относительно кристаллографического направления (111) в направлении (110) от 1 до 30 угловых градусов и в направлении (101) от 1 до 30 угловых градусов. Обеспечивается улучшение совместимости двух материалов слоя карбида кремния и подложки кремния с различным периодом кристаллических решеток, при этом понижаются механические напряжения в гетероструктуре и получаются более низкие плотности дефектов в слое карбида кремния. 6 н.п. ф-лы, 4 ил., 3 пр.

Группа изобретений относится к полупроводниковым материалам. Способ (вариант 1) включает обеспечение реакционной камеры, обеспечение полупроводниковой подложки, обеспечение прекурсорного газа или газов, выполнение эпитаксиального CVD выращивания легированного полупроводникового материала на подложке в реакционной камере для формирования первого слоя, продувку реакционной камеры газовой смесью, включающей водород и газ, содержащий галоген, с обеспечением уменьшения эффекта памяти легирующей примеси без удаления сопутствующего осажденного слоя из зоны реакции и выполнение эпитаксиального CVD выращивания легированного полупроводникового материала на указанной подложке в реакционной камере для формирования второго слоя. Полупроводниковое устройство содержит полупроводниковый материал, полученный упомянутым способом. Способ (вариант 2) включает введение новой полупроводниковой подложки в указанную реакционную камеру после выполнения указанного процесса продувки и выполнение эпитаксиального CVD выращивания легированного полупроводникового материала на указанной новой полупроводниковой подложке. Обеспечивается воспроизводимость электрических свойств при выращивании полупроводниковых материалов. 3 н. и 10 з.п. ф-лы, 3 ил., 1 табл., 1 пр.

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов и может быть использовано при создании полупроводниковых приборов. Изобретение позволяет упростить технологию получения применением одной поликристаллической мишени, улучшить качество пленок за счет высокой адгезии. Способ получения гетероэпитаксиальных пленок карбида кремния на кремниевой подложке включает получение пленки на поверхности подложки ионно-плазменным магнетронным распылением одной поликристаллической мишени карбида кремния при нагреве подложки до температуры 950-1400°C в атмосфере Ar. 3 ил.
Наверх