Детекторная решетка (варианты) и способ детектирования

Использование: для детектирования рентгеновского излучения. Сущность заключается в том, что детекторная решетка содержит первую линейную решетку для детектирования первого луча и второго луча, имеющих различные энергетические уровни, которые проходят через первое множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить первые величины и вторые величины для первого множества частей, в которой второй луч формируется поочередно с первым лучом и вторую линейную решетку, расположенную параллельно первой линейной решетке для детектирования первого луча и второго луча, которые проходят через второе множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить третьи величины и четвертые величины для второго множества частей досматриваемого объекта, в котором первое множество частей досматриваемого объекта частично идентично второму множеству частей досматриваемого объекта. Технический результат: повышение эффективности досмотра при сканировании объектов. 6 н. и 12 з.п. ф-лы, 4 ил.

 

ОБЛАСТЬ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Настоящее изобретение относится к детектору для создания рентгенограммы объекта и, более конкретно, изобретение относится к детекторной решетке и к устройству, в котором она используется. Это устройство устраняет ошибки и краевую погрешность при идентификации материала в процессе досмотра объекта, используя поочередно сформированные лучи, и может улучшить эффективность досмотра при сканировании множества объектов.

ПРЕДПОСЫЛКИ СОЗДАНИЯ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Так как требования к системам безопасности при досмотре, в частности, на таможенных терминалах постоянно возрастают, широко применяется соответствующая технология, например, раскрытая в патенте США 5044002, в котором используется рентгеновское излучение, имеющее два различных энергетических уровня для осуществления неразрушающего досмотра объекта, когда необходимо идентифицировать материал объекта. В последнее время для идентификации материала используется способ двойного уровня энергии в пределах высокоэнергетического диапазона (более 1 МэВ) при неразрушающем досмотре объектов большого размера, описанном в патенте США No 5524133.

Физический принцип рентгеновской досмотровой установки с двумя уровнями энергии для идентификации материала состоит в том, что когда два рентгеновских луча, имеющие различные энергетические уровни, взаимодействуют с одним и тем же объектом, и поскольку энергетические уровни фотонной энергии двух лучей отличаются друг от друга, существует различие в их взаимодействии с объектом. Такое различие в целом может быть представлено разницей в коэффициенте ослабления сигнала. Были предложены основанные на этом принципе различные способы, суть которых заключается в поочередном формировании рентгеновских лучей, имеющих два энергетических уровня, в частности, раскрытые в патенте США No 6069936 и в международной заявке WO 00/43760, где описан единственный источник излучения, который модулирует высокоэнергетический спектр, поглощаемый материалом. Кроме того, в международной заявке WO 2004/030162 А2 раскрыт способ альтернативного формирования рентгеновского излучения, имеющего высокоэнергетический и низкоэнергетический спектры, создаваемые ускорителем. Однако когда поочередно формируются рентгеновские лучи, имеющие высокоэнергетический и низкоэнергетический спектры с целью досмотра объекта, возникает серьезный недостаток, который заключается в следующем. Рентгеновское излучение, имеющие два энергетических уровня, которые сформированы поочередно на определенной частоте, имеет определенный промежуток времени между формированиями каждого луча. Досматриваемый объект всегда движется с определенной скоростью и, таким образом, он перемещается на некоторое расстояние за промежуток времени между моментами формирования рентгеновского излучения, имеющего высокоэнергетический и низкоэнергетический уровни. Следовательно, когда осуществляется досмотр объекта (например, багажа, емкости и т.д.), взаимодействия между двумя видами рентгеновского излучения и объекта не полностью идентичны. Это оказывает отрицательный эффект на точность идентификации, особенно по краям досматриваемого объекта, где лучи, имеющие два энергетических уровня, могут взаимодействовать с различными объектами, выдавая, таким образом, неправильный результат идентификации. При этом чтобы исправить ошибку из-за лучей, имеющих разные уровни энергии и взаимодействующие с различными положениями объекта, по известному способу нужно замедлить движение досматриваемого объекта. Этот способ значительно ограничивает эффективность досмотра объекта и не может решить проблему ложной идентификации материала по краям объекта,

КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Настоящее изобретение создано, чтобы решить вышеописанную проблему, связанную с известной технологией. Целью настоящего изобретения является создание детекторной решетки и системы идентификации материала с использованием этой детекторной решетки, которая может исправлять ошибки идентификации, имеющие место на краях досмотренного объекта в процессе досмотра объекта, используя поочередно сформированные рентгеновские лучи.

Для достижения первой цели настоящего изобретения создана детекторная решетка, содержащая первую линейную решетку для детектирования первого луча и второго луча, которые проходят через первое множество частей досматриваемого объекта для получения первых величин и вторых величин для первого множества частей, в которой второй луч формируется поочередно с первым лучом; и вторую линейную решетку, расположенную параллельно первой линейной решетке, чтобы обнаружить первый луч и второй луч, которые проходят через второе множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить третьи величины и четвертые величины для второго множества частей, в котором первое множество частей частично идентично второму множеству частей.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения первая линейная решетка расположена рядом со второй линейной решеткой.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения расстояние между первой линейной решеткой и второй линейной решеткой регулируется.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения указанное расстояние зависит от скорости движения досматриваемого объекта и промежутком времени между формированием первого луча и второго луча.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения каждый элемент детектора первой линейной решетки и второй линейной решетки содержит сцинтиллятор или детектор газа.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения первая линейная решетка и вторая линейная решетка обе подключены к одному и тому же устройству обработки данных.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения каждая из первой линейной решетки и второй линейной решетки подключена к соответствующим устройствам обработки данных.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения первый луч и второй луч сформированы одним и тем же источником излучения.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения сцинтиллятор представляет собой CdWO₄ или Csl.

Кроме того, настоящее изобретение дополнительно включает устройство, содержащее описанную выше детекторную решетку.

Настоящее изобретение дополнительно обеспечивает способ создания изображения, в котором используется описанная выше детекторная решетка.

Настоящее изобретение дополнительно обеспечивает способ идентификации материала, в котором используется описанная выше детекторная решетка.

Другой целью настоящего изобретения является создание способа детектирования лучей детекторной решеткой, содержащей первую линейную решетку и вторую линейную решетку, расположенные параллельно друг другу, при этом способ содержит следующие стадии: поочередное формирование первого луча и второго луча, которые проходят через досматриваемый объект, двигающийся с постоянной скоростью; детектирование первого луча и второго луча, которые проходят через первое множество частей досматриваемого объекта, первой линейной решеткой; получение первых величин и вторых величин для первого множества частей, в котором второй луч формируется поочередно с первым лучом, и детектирование первого луча и второго луча, которые проходят через второе множество частей досматриваемого объекта, второй линейной решеткой; получение третьих величин и четвертых величин для второго множества частей, в котором первое множество частей частично идентично второму множеству частей.

В соответствии с примером воплощения настоящего изобретения способ дополнительно содержит стадию изменения расстояния между первой линейной решеткой и второй линейной решеткой в зависимости от скорости движения досматриваемого объекта и от промежутка времени между моментами формирования первого луча и второго луча.

Еще одной целью настоящего изобретения является создание детекторной решетки, содержащей первую линейную решетку для детектирования первого луча, второго луча и третьего луча, которые проходят через первое множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить первые величины, вторые величины и третьи величины для первого множества частей, в которой первый луч, второй луч и третий луч формируются поочередно; вторую линейную решетку, расположенную параллельно первой линейной решетке для детектирования первого луча, второго луча и третьего луча, которые проходят через второе множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить четвертые величины, пятые величины и шестые величины для второго множества частей, в котором первое множество частей частично идентично второму множеству частей, и третью линейную решетку, расположенную параллельно первой линейной решетке и второй линейной решетке для детектирования первого луча, второго луча и третьего луча, которые проходят через третье множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить седьмые величины, восьмые величины и девятые величины для третьего множества частей, в которой второе множество частей частично идентично третьему множеству частей.

Можно создать лучи, имеющие уровень высокой энергии и уровень низкой энергии и взаимодействующие с объектом в одном и том же положении и обеспечить точное детектирование, используя вышеупомянутую детекторную решетку, чтобы обнаружить проникающие лучи, так же как и изменение местоположения. При этом, поскольку расстояние между первой линейной решеткой и второй линейной решеткой определяется на основе скорости движения досматриваемого объекта и промежутка времени между формированием лучей, имеющих высокоэнергетический и низкоэнергетический уровни, от источника излучения, обеспечиваются лучи, взаимодействующие с досматриваемым объектом в одной и той же части для детектирования, повышая точность способа двойной энергии при идентификации материала и исправляя неправильный результат идентификации на краю досматриваемого объекта. Поскольку расстояние между первой линейной решеткой и второй линейной решеткой можно регулировать, скорость движения досматриваемого объекта является переменной. Следовательно, снижаются требования к скорости движения досматриваемого объекта. Кроме того, поскольку первая линейная решетка и вторая линейная решетка собирают сигналы одновременно, область детектирования соответственно увеличивается. С другой стороны, малая часть отдельного сцинтиллятора гарантирует обнаружение объектов с высокой точностью и получение рентгеновского изображения с высоким разрешением.

КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ЧЕРТЕЖЕЙ

Фигура 1 - блок-схема системы идентификации материала, в которой используется детекторная решетка согласно воплощению настоящего изобретения;

Фигура 2 - принципиальная схема, иллюстрирующая принцип работы детекторной решетки, когда источник излучения поочередно формирует лучи, имеющие различные энергетические уровни согласно воплощению настоящего изобретения;

Фигура 3 - блок-схема детекторной решетки согласно воплощению настоящего изобретения; и

Фигура 4 - схема, иллюстрирующая принцип работы детекторной решетки, когда источник излучения поочередно формирует лучи, имеющие различные энергетические уровни согласно другому воплощению настоящего изобретения.

ПОДРОБНОЕ ОПИСАНИЕ ПРЕДПОЧТИТЕЛЬНЫХ ВАРИАНТОВ

Ниже описывается пример воплощения настоящего изобретения со ссылками на сопровождающие чертежи.

Фигура 1 - схема системы идентификации материалов, используя детекторную решетку согласно одному варианту воплощения настоящего изобретения.

Как показано на фигуре 1, используется детекторная решетка, содержащая первую линейную решетку 104а и вторую линейную решетку 104b, чтобы собирать лучи двойной энергии, поочередно сформированные источником излучения. Источник излучения 100 может поочередно формировать лучи, например, в виде рентгеновского излучения. Устройство синхронизации 105 обеспечивает сигнал синхронизации 110 для источника излучения 100 и первую, и вторую линейные решетки 104а и 104b, чтобы источник излучения 100 мог поочередно формировать лучи высокого и низкого уровней энергии при выборе времени сигнала синхронизации 110.

Веерообразная плоская радиация получена после того, как лучи 102, сформированные источником излучения 100, проходят через коллиматор 101. Как показано на фигуре 1, досматриваемый объект 103 движется с постоянной скоростью в одном направлении, перпендикулярно радиационной плоскости. Проникающее излучение после взаимодействия с плоской радиацией и досматриваемым объектом 103 детектируется первым и вторым линейными решетками 104а и 104b. Здесь первая и вторая линейные решетки 104а и 104b установлены параллельно друг другу, и в зависимости от сигнала синхронизации от устройства синхронизации 105, корректируют параметры собирающих лучи цепей, чтобы обеспечить одновременный сбор. Однако последнее не является необходимым.

Затем модуль обработки детекторной решетки с двойной колонкой согласует вновь собранные сигналы двух лучей и выдает величины детектирования, полученные после взаимодействия высокоэнергетических и низкоэнергетических лучей с досмотренным объектом 103. Величины детектирования подаются в устройство 106 обработки изображений идентификации материала через сеть. Устройство 106 обработки изображений идентификации материала идентифицирует свойства материала досматриваемого объекта, например неорганическое вещество, органическое вещество, тяжелый металл, и т.д., используя алгоритм двойной энергии и подходящий алгоритм обработки изображения.

На фигуре 2 представлена схема, иллюстрирующая принцип работы детекторной решетки, когда источник излучения 100 поочередно формирует лучи, имеющие различные энергетические уровни согласно воплощению настоящего изобретения.

Как показано на фигуре 2, на основе блока выбора времени 203, источник излучения 100 поочередно формирует лучи 102Н и 102L, имеющие уровень высокой энергии и уровень низкой энергии соответственно, которые поочередно излучаются на фиксированной частоте с равным промежутком времени t между излучением двух лучей. Объект 103 движется с постоянной скоростью в определенном направлении. Предполагается, что источник излучения 100 излучает уровень высокой энергии в виде луча 102Н, который коллимируется и затем взаимодействует с частями 1 и 2 досматриваемого объекта 103. Проникающий луч собирается и буферизируется первой и второй линейными решетками 104а и 104b соответственно, и величины детектирования обозначены как 102Н1А и 102Н2В.

Затем, по истечении времени t, источник излучения 100 излучает луч низкой энергии 102L. В это время досматриваемый объект 103 прошел расстояние, равное одному пикселю, т.е. V·t. Луч низкой энергии 102L проходит через части 2 и 3 досматриваемого объекта 103, и затем собирается и буферизируется первой и второй линейными решетками 104а и 104b соответственно, с величинами детектирования, обозначенными как 102L-2A и 102L-3B. Модуль обработки детекторной решетки объединяет в пару ранее буферизованную величину детектирования 102Н2В, которая была получена после того, как луч 102Н высокого энергетического уровня прошел через часть 2 досматриваемого объекта 103, и вновь буферизованную величину детектирования 102L-2A, которая была получена после того, как луч низкой энергии 102L прошел через часть 2 досматриваемого объекта 103, и вводит эту пару в устройство 106 обработки изображения и идентификации материала части.

Затем, на основе выбора времени 203, источник излучения 100 снова формирует луч 102Н высокой энергии, в то время как досматриваемый объект 103 проходит дополнительно расстояние в размере одного пикселя V·t. Следовательно, луч 102Н высокого энергетического уровня взаимодействует с частями 3 и 4 досматриваемого объекта 103. После такого взаимодействия величины детектирования собираются первой и второй линейными решетками 104а и 104b соответственно, которые обозначены на чертеже как 102Н3А и 102Н4В. Затем модуль обработки детекторной решетки объединяет в пару ранее буферизованное значение детектирования 102L-3B, которое было получено после того, как луч низкой энергии 102L прошел через часть 3 досматриваемого объекта 103, и вновь собранное значение детектирования 102Н3А, которое было получено после того, как луч высокой энергии 102Н прошел через часть 3 досматриваемого объекта 103, и вводит эту пару в устройство 106 обработки изображения и идентификации материала. Таким образом, по мере движения объекта 103, детектирование сигнала выполняется после взаимодействия лучей высокой и низкой энергии с той же самой частью досматриваемого объекта 103.

Поскольку используются параллельные первая и вторая линейные решетки 104а и 104b, первый луч, который является приблизительно узким высокоэнергетическим лучом и формируется первым источником излучения 100, может быть собран первой и второй линейными решетками 104а и 104b после взаимодействия с частями 1 и 2 досматриваемого объекта 103. Первая линейная решетка 104а детектирует первый луч, прошедший через часть 1 досматриваемого объекта 103, и выводит первое значение детектирования для части 1, а вторая линейная решетка 104b детектирует первый луч, прошедший через часть 2 досматриваемого объекта 103 и выводит первое значение детектирования для части 2. Затем источник излучения 100 излучает второй луч низкого энергетического уровня. Поскольку досматриваемый объект 103 проходит расстояние, равное одному пикселю, второй луч будет взаимодействовать с частями 2 и 3 досматриваемого объекта 103. Первая и вторая линейные решетки 104а и 104b детектируют сигналы для частей 2 и 3, через которые проходит второй луч, и выводят второе значение детектирования для части 2 и первое значение детектирования для части 3 соответственно. Таким образом, первая и вторая величины детектирования для части 2 представляет собой величины, выданные после того, как первый и второй лучи прошли через часть 2 досматриваемого объекта 103. Таким образом, эффективное атомное число части 2 досматриваемого объекта 103 может быть определено на основании первого и второго значений детектирования для этой части, определяя, таким образом, свойства материала части 2.

Здесь, как показано на фигуре 3(A), каждая из двух линейных решеток 104а и 104b включает множество детекторных элементов, которые могут быть образованы из двух расположенных рядом сцинтилляторов, таких как CdWCU и Csl. Первая и вторая линейные решетки 104а и 104b могут быть объединены в один узел. Два сцинтиллятора каждого ряда закреплены и соединены с модулем обработки данных 305. После детектирования сигналов эти два кристалла одновременно выдают сигналы 302А и 302В, которые буферизируются и обрабатываются в модуле обработки данных 305. После того как детекторы собрали сигналы лучей высокой и низкой энергии в два смежного импульса, модуль обработки 305 согласует сигналы лучей высокой и низкой энергии, и вводит величины детектирования лучей высокой и низкой энергии, соответствующие той же самой части досматриваемого объекта, в устройство 106 обработки изображений и идентификации материала. Как альтернативное решение, две линейные решетки 104а и 104b могут независимо вывести сигналы 301А и 301В к их собственным модулям обработки данных (не показаны). Каждый раз детекторная решетка собирает сигналы после того, как луч высокой или низкой энергии проходит через досматриваемый объект, и сигналы подаются в модуль обработки 305, чтобы объединить величины детектирования для лучей высокой и низкой энергии, получая, таким образом, величины детектирования высокой и низкой энергии для каждой части досматриваемого объекта 103. В качестве альтернативы каждый элемент детектора двух линейных решеток может быть сформирован из детектора газа.

Кроме того, расстояние d между первой и второй линейными решетками 104а и 104b может быть изменено, как показано на фигуре 3(B). Здесь расстояние d определяется скоростью движения V досматриваемого объекта 103 и промежутком времени t между формированием лучей высокой и низкой энергии источником излучения, т.е. d=V·t. Таким образом, расстояние между первой и второй линейными решетками корректируется в зависимости от скорости движения досматриваемого объекта и промежутка времени между формированием лучей высокой и низкой энергии источником излучения, удовлетворяя, таким образом, необходимость изменения лучей высокой и низкой энергии, которые проходят через одну и ту же часть досматриваемого объекта.

Следует отметить, что две линейные решетки могут быть расширены на четыре или шесть линейных решеток, чтобы увеличить скорость досмотра.

Хотя изобретение было описано для случая двойной энергии, настоящее изобретение может быть использовано в многоэнергетическом применении.

На фигуре 4 представлена схема, иллюстрирующая принцип работы детекторной решетки, когда источник излучения поочередно формирует лучи, имеющие различные энергетические уровни согласно другому воплощению настоящего изобретения.

Как показано на фигуре 4, этот пример воплощения изобретения отличается от предыдущего воплощения в том, что детекторная решетка содержит три линейные решетки 104а, 104b и 104с, соответствующие трем лучам 102Н, 102М и 102L.

Как показано на фигуре 4, на основе выбора времени 203, источник излучения 100 поочередно формирует лучи 102Н, 102М и 102L имеющие высокие, средние и низкие энергетические уровни, которые поочередно излучаются на фиксированной частоте с равным промежутком времени t между излучением двух лучей. Объект 103 движется с постоянной скоростью в определенном направлении. Предполагается, что источник излучения 100 излучает луч 102Н высокого энергетического уровня, который коллимируется и затем взаимодействует с частями 1, 2 и 3 досматриваемого объекта 103. Проникающий луч собирается и буферизуется первой, второй и третьей линейными решетками 104а, 104b и 104с, соответственно, и величины детектирования обозначены как 102Н1А, 102Н2В и 102Н3С.

Затем источник излучения 100 излучает луч средней энергии 102М в течение времени t. В это время досматриваемый объект 103 проходит расстояние, равное одному пикселю, т.е. V·t. Луч средней энергии 102М проходит через части 2, 3 и 4 досматриваемого объекта 103 и затем собирается и буферизируется первым, вторым и третьим линейными решетками 104а, 104b и 104с соответственно, с величинами детектирования, обозначенными как 102М-2А, 102М-3В и 102М-4С.

После этого источник излучения 100 излучает луч низкой энергии 102L в течение времени t. В это время досматриваемый объект 103 проходит расстояние, равное одному пикселю, т.е. V·t. Луч низкой энергии 102L проходит через части 3, 4 и 5 досматриваемого объекта 103, и затем собирается и буферизируется первой, второй и третьей линейными решетками 104а, 104b и 104с соответственно, с величинами детектирования, обозначенными как 102L-3A, 102L-4B и 102L-5C. Таким образом, могут быть получены величины передачи части 3 под тремя энергетическими уровнями, которые обозначены как 102Н3С, 102М-3В и 102L-3A.

Затем, на основе выбора времени 203, источник излучения 100 снова формирует луч 102Н высокого энергетического уровня, в то время как досматриваемый объект 103 проходит дополнительно расстояние одного пикселя V·t. Следовательно, луч 102Н высокого энергетического уровня взаимодействует с частями 4, 5 и 6 досматриваемого объекта 103. После такого взаимодействия величины детектирования собираются соответственно первой, второй и третьей линейными решетками 104а, 104b и 104с, которые обозначены на чертеже как 102Н4А, 102Н5В и 102Н6С. Затем величины передачи части 4 могут быть получены с тремя энергетическими уровнями, которые обозначены как 102Н4А, 102М-4С и 102L-4B.

Следует отметить, что две линейные решетки могут быть расширены как шесть или девять линейных решеток, чтобы увеличить скорость досмотра.

Вышеописанные примеры являются только конкретными воплощениями настоящего изобретения и не ограничивают объем настоящего изобретения. Любая модификация или замена, которая очевидна для специалистов в данной области техники в пределах технического диапазона, раскрытого в настоящем изобретении, должна быть включена в объем настоящего изобретения, который определен формулой изобретения.

1. Детекторная решетка, содержащая
первую линейную решетку для детектирования первого луча и второго луча, имеющих различные энергетические уровни, которые проходят через первое множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить первые величины и вторые величины для первого множества частей, в которой второй луч формируется поочередно с первым лучом; и
вторую линейную решетку, расположенную параллельно первой линейной решетке для детектирования первого луча и второго луча, которые проходят через второе множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить третьи величины и четвертые величины для второго множества частей досматриваемого объекта, в котором первое множество частей досматриваемого объекта частично идентично второму множеству частей досматриваемого объекта.

2. Детекторная решетка по п.1, в которой первая линейная решетка расположена рядом со второй линейной решеткой.

3. Детекторная решетка по п.1, в которой расстояние между первой линейной решеткой и второй линейной решеткой регулируется.

4. Детекторная решетка по п.3, в которой расстояние зависит от скорости движения досматриваемого объекта и промежутка времени между формированием первого луча и второго луча.

5. Детекторная решетка по одному из пп.2-3, в которой каждый элемент детектора первой линейной решетки и второй линейной решетки содержит сцинтиллятор или детектор газа.

6. Детекторная решетка по п.5, в которой сцинтиллятор представляет собой CdWO₄ или CsI.

7. Детекторная решетка по п.5, в которой первая линейная решетка и вторая линейная решетка обе соединены с одним и тем же процессором.

8. Детекторная решетка по п.5, в которой каждая из первой линейной решетки и второй линейной решетки соединена с соответствующим процессором.

9. Детекторная решетка по п.5, в которой первый луч и второй луч формируются одним и тем же источником излучения.

10. Устройство идентификации материалов, содержащее детекторную решетку по одному из пп.1-9.

11. Способ создания рентгенографических изображений, в котором используется детекторная решетка по одному из пп.1-9.

12. Способ идентификации материалов, в котором используется детекторная решетка по одному из пп.1-9.

13. Способ детектирования с помощью детекторной решетки, содержащей первую линейную решетку и вторую линейную решетку, расположенные параллельно друг другу, при этом указанный способ содержит следующие стадии:
поочередное формирование первого луча и второго луча, имеющих различные энергетические уровни, которые проходят через досматриваемый объект, движущийся с постоянной скоростью;
детектирование первого луча и второго луча, которые проходят через первое множество частей досматриваемого объекта с помощью первой линейной решетки, получение первых величин и вторых величин для первого множества частей досматриваемого объекта, в котором второй луч формируется поочередно с первым лучом; и
детектирование первого луча и второго луча, которые проходят через второе множество частей досматриваемого объекта с помощью второй линейной решетки, получение третьих величин и четвертых величин для второго множества частей досматриваемого объекта, в котором первое множество частей досматриваемого объекта частично идентично второму множеству частей досматриваемого объекта.

14. Способ по п.13, дополнительно содержащий изменение расстояния между первой линейной решеткой и второй линейной решеткой в зависимости от скорости движения досматриваемого объекта и промежутка времени между формированием первого луча и второго луча.

15. Способ по п.14, в котором первый луч и второй луч формируются одним и тем же источником излучения.

16. Способ по п.13, в котором каждый элемент детектора первой линейной решетки и второй линейной решетки содержит сцинтиллятор или детектор газа.

17. Способ по п.16, в котором сцинтиллятор представляет собой CdWO₄ или CsI.

18. Детекторная решетка, содержащая
первую линейную решетку для детектирования первого луча, второго луча и третьего луча, имеющих различные энергетические уровни, которые проходят через первое множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить первые величины, вторые величины и третьи величины для первого множества частей досматриваемого объекта, в которой первый луч, второй луч и третий луч формируются поочередно;
вторая линейная решетка, расположенная параллельно первой линейной решетке, для детектирования первого луча, второго луча и третьего луча, которые проходят через второе множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить четвертые величины, пятые величины и шестые величины для второго множества частей досматриваемого объекта, в которой первое множество частей досматриваемого объекта частично идентично второму множеству частей досматриваемого объекта; и
третья линейная решетка, расположенная параллельно первой линейной решетке и второй линейной решетке для детектирования первого луча, второго луча и третьего луча, которые проходят через третье множество частей досматриваемого объекта, чтобы получить седьмые величины, восьмые величины и девятые величины для третьего множества частей досматриваемого объекта, в которой второе множество частей досматриваемого объекта частично идентично третьему множеству частей досматриваемого объекта.